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一、概述随着VLSI技术的不断进步,封装形式日趋多样化,各种高密度封装形式如LCC、QFP、PGA、BGA纷纷出现,封装所需要费用越来越高。在VLSI的气密封装诸工序中,气密封帽是自动化程度相对较低的环节。这样,气密封帽的成品率就成为影响总的封装成品率的关健因素。因而,对气密封帽成品率进行统计分析,找出其影响因素并制定相应的改进措施,这对稳定和提高封帽成品率是非常重要的。二、封帽不合格品分类VLSI的气密封装主要有DIP、LCC、QFP和PGA等几种形式,由于密封工艺的不同,通常又可分为平行缝焊、低温玻璃封帽(俗称… 相似文献
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统计逼近下的集成电路成品率优化方法 总被引:1,自引:0,他引:1
考察了集成电路统计最优化问题的特殊性,用统计方法逼近合格电路中接受域,并以此模型估计参数成品率,进行成品率优化,并结合CMOS集成运放电路的设计验证了方法的可行性。 相似文献
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集成电路局部缺陷模型及其相关的功能成品率分析 总被引:2,自引:0,他引:2
大规模集成电路(VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化,产生IC电路连接错误,导致电路丧失功能,从而影响IC的成品率,特别是功能成品率。文章主要对缺陷的轮廓模型、空间分布模型和粒径分布模型作了介绍;对集成电路成品率的损失机理作了详细论述。最后,详细介绍了功能成品率的分析模型。 相似文献
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闫萍 《信息技术与信息化》2002,(2):42-43
本文从生产实际出发 ,剖析了影响集成电路后工序成品率的原因 ,并针对生产线工序指数能力着手 ,找到了解决问题的方法 ,使成品率有了很大的提高 相似文献
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采用建立管芯等效电路模型、灵敏度分析以及统计勘探法对微波单片集成电路进行成品率优化,并编制了软件,加入到GaAs IC CAD系统中。应用该软件对X波段低噪声MMIC、超宽带MMIC放大器进行了设计,成品率有较大的提高,电路性能有所改善。 相似文献
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本文从生产实际出发,剖析了影响集成电路后工序成品率的原因,并针对生产线工序指数能力着手,找到了解决问题的方法,使成品率有了很大的提高。 相似文献
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VLSI成品率重心游移算法的一个几何解释 总被引:4,自引:3,他引:1
超大规模集成电路 (VL SI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题 .尽管重心游移算法提出得较早 ,由于其固有的优点目前仍被研究和推广 .文中从一个新的角度 ,即几何学原理上探讨了最优的重心游移算法的原理 ,使最优方向的几何图像更加明确 相似文献
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在芯片制造工艺中,参数扰动影响了集成电路(Integrated Circuit,IC)成品率,使不同参数成品率间存在着此消彼长的相互制约关系,而目前IC参数成品率优化算法却主要局限于单一优化目标问题。本文提出一种基于工艺参数扰动的参数成品率多目标优化算法。该算法针对漏电功耗成品率及芯片时延成品率,首先构建具有随机相关性的漏电功耗及芯片时延统计模型;随后根据其相互制约特性建立基于切比雪夫仿射理论的参数成品率多目标优化模型;最后利用自适应加权求和得到分布均匀的帕雷托优化解。实验结果表明,该算法对于具有不同测试单元的实验电路均可求得大约30个分布均匀的帕雷托优化解,不仅能够有效权衡多个优化目标间的相互制约关系,还可以使传统加权求和优化方法在帕雷托曲线变化率较小之处得到优化解。 相似文献
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超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题.尽管重心游移算法提出得较早,由于其固有的优点目前仍被研究和推广.文中从一个新的角度,即几何学原理上探讨了最优的重心游移算法的原理,使最优方向的几何图像更加明确. 相似文献
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采用建立管芯等效电路模型、灵敏度分析以及统计勘探法对微波单片集成电路进行成品率优化,并编制了软件,加入到GaAsICCAD系统中。应用该软件对X波段低噪声MMIC、超宽带MMIC放大器进行了设计,成品率有较大的提高,电路性能有所改善。 相似文献
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本文以负二项分布为基础,在对两个实测统计结果进行分析的基础上,给出了VLSI成品率与缺陷分布统计中有关成团因子与芯片面积关系的模型.在模型的推导中考虑了由于缺陷的成团聚集效应引起的区域之间缺陷分布的相关性这一内在因素.模型与本文给出的两个实测统计结果的一致性很好. 相似文献