高速存储器测试仪器市场扩大

1995年度日本的半导体测试仪市场相当兴旺,到1996年度却变为负增长.由于生产厂家转向高速SDRAM(同步动态随机存取存储器)器件的生产,对于高速存储器测试仪的需求,却迅速增长;由于单片产品的增多,对于综合测试多种功能的需求,也在增长;但是,器件集成度的提高,导致测试成本增大,因此,各测试仪厂家都在努力设法提高速度、增强功能及降低测试成本.     

HP8508A矢量电压表的开发应用

本文主要介绍HP8508A矢量电压表的性能特性、工作原理和测量方法，以及雀实际测试当中的开发应用．     

电压表自动检定测试系统软件的开发

阐述了Windows98环境下采用Visual C 6.0开发自动测试系统软件，以微机通过GPIB接口卡（这里采用的型号是HP82341D）控制数字电压表3456A，解决了电压表检定的自动测试问题以及自动量程转换，数据快速采集、处理等问题。     

对示波器和电压表测试问题的探讨

本文对使用示波器测试晶体振荡器时出现的现象进行了分析，探讨了示波器和电压表的探头特性及对测试结果的影响，强调了它们的使用注意事项。     

高速ECL电路测试及使用中的一些特殊要求

从影响ECL电路高速性能的原因出发,阐述了ECL电路测试及使用中对电源电压、输入偏置、负载范围、外围连线以及接地等一些特殊的要求。本文对这些特殊要求作了一些简略分析,并提出了正确测试和使用高速ECL电路的几种方法。     

NVIDIA扩大惠瑞捷V93000 SOC测试平台使用范围

为其晶圆测试和成品测试订下惠瑞捷史上最大一张V93000订单 （中国,北京,2008年7月7日）——世界领先的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司（NASDAQ：VRGY）日前宣布,可视计算技术全球领导者NVIDIA已经大幅度提高惠瑞捷V93000SOC测试系统的使用范围,将其广泛用于NVIDIA半导体器件高速设计验证和大批量生产中。     

数字集成电路测试中测试矢量的生成

引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。     

高速探测器的测试

以高数据速率工作的光通讯系统需要能足够快地响应系统数据速率、并对弱信号非常敏感的光电探测器。为测试这种高速探测器,McDonnell Douglas公司研究出多种技术。本文介绍这些方法和测试结果。测试结果表明,对脉冲数字通讯系统来     

矢量网络分析仪的性能测试

基于矢网原理，分析了仪表测量误差。提出了为保证测量精度，除测量前的校准外，还必须进行仪表的性能测试，并以Agilent E8358A矢量网络分析仪为例进行说明。     

数字集成电路测试矢量的生成

电路的日益复杂和集成度的不断提高,使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而大大提高了故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在Quartus Ⅱ软件下进行仿真,验证了其正确性。     

用高性能测试系统测试高速组件时传输线的影响（上）

要测试高速多针脚集成电路(这里所说的集成电路不是用于驱动传输线的集成电路)是一个难题,因为测试仪到被测件之间的连线常起着类似于传输线的作用。HP82000集成电路测试系统使用阻性分配器技术,能精确测试 CMOS 及其它高速组件。目前数字专用集成电路(ASIC_S)发展的特点在于时钟速率和信号     

用高性能测试系统测试高速组件时传输线的影响（下）

阻性分配器方法阻性分配器能够解决 CMOS 阻件在传输线环境中的问题,这项技术已用于 HP82000集成电路测试系统。阻性分配器的原理是将确定的直流负载应用于被测件。由于信号被馈入并联终端系统中,因而不会发生反射,所以信号的真实度得以保持。图12给出了电阻分配器的示意图。电阻 R_+已     

基于空时特征矢量的空时多用户检测

文章提出了一种新的空时多用户检测方法,该方法有效地结合了空间与时间处理。在求充分统计量中,定义了一种维数较高的空时特征矢量,它包含了各接收阵元阵列响应与扩频序列的联合信息。在求出的充分统计量中包含了各接收阵元之间的信息,在抑制干扰过程中采用了更有效的正交空间投影算法。在DS-CDMA异步多径信道下,仿真结果证明,该方法能有效地抑制多址干扰与多径干扰。     

确定性测试矢量生成的低功耗设计

在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器,并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理,使确定性测试矢量间插入了单一跳变的测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,表明该设计不仅提高了故障覆盖率,缩短了测试时间,而且能有效降低电路的总功耗、平均功耗和峰值功耗。     

扩大互调失真的测试量程

一个系统的互调失真常常用它的三阶截取值来表示,其是最广泛地用来表明系统线性的品质因子。即使低信号电平加到被测器件,要想准确地和重复地测量互调失真也是相当困难的,而电平在需要的载波(输入信号)以下100db 时,可以做到精确的测量。若在测量系统中附加一个可调谐的带通滤波器和减少测量系统的固有非线性,测定高达+50dbm 的三阶截取值是可能的,比现在使用中的大多数系统大约高20db。     

低功耗测试矢量生成技术的研究

在集成电路内建自测试的过程中,电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗,因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Change,RSIC）测试向量生成器的设计方案,利用VHDL语言描述了内建自测试结构中的测试向量生成模块,进行了计算机模拟仿真并用FPGA（EP1C6Q240C8）加以硬件实现。实验结果证实了这种内建自测试原理电路的正确性和有效性。     

基于矢量传感器的高速水声通信技术

探讨基于矢量传感器的高速水声通信技术,克服传统水声通信中的信号衰减、多径效应和环境噪声等挑战。设计一个由多个矢量传感器组成的阵列系统,结合高级信号处理算法和高效的数据编解码策略,提出一个全面的技术方案,实现在复杂水下环境中的高效率和高可靠性数据传输。提出需要进行综合的系统集成与海试,验证所提出方案的实际性能和可靠性。     

采用基本门单元完全测试矢量的测试生成算法

文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的安全测试矢量集生成测试矢量的方法，该方法可以将搜索空间限制在2(n 1）种组合内。它采用故障支配和故障等效的故障传播、回退等技术，建立了一套从局部到全局的测试生成新方法。同时，利用基本门单元安全测试矢量的规律性，可以实现最小的内存容量要求。在一些基准电路的应用实例中，得到了满意的结果。     

基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。