判断量块检定中粗大误差的一种方法

目前,我们在量块检定中主要使用的仪器是立式光学计和接触式干涉仪,检定中发现个别量块（特别是10mm－100mm）两次测量结果已超过测量极限误差的1／3。原因主要有两个：一是在量块检定中,由于测量人员不仔细等原因造成错误的读数或错误记录,这种误差只要复检人员认真负责,即可消除。二是在量块检定中,量块之间、量块与工作台相碰产生小毛刺,带来误差。另外由于标准量块经常使用,所以标准量块的下工作面与工作台筋经常接触而产生筋痕,如立式光学计产生多条筋痕、接触式干涉仪产生三条筋痕（如图1所示）,也给量块检定带来“误差”。…     

接触式干涉仪工作台平面度在量块长度测量中引入误差的探讨

通过JJG 101-2004《接触式干涉仪》和JJG146-2011《量块》检定规程,本文探讨了接触式干涉仪工作台平面度在量块长度测量中的引入误差,结果显示使用接触式干涉检定量块长度时,在极端条件下,工作台平面度引入的误差较大,可能会影响量块的合格评定。     

接触式干涉仪的调整和修理

0引言 接触式干涉仪是以光波干涉原理为基础，采用微差比较法测量长度的高准确度仪器。主要用于检定尺寸小于150mm的2等和2等以下的量块，也可对其他高准确度零件进行测量或作高准确度定位。在一般计量部门．接触式干涉仪较多地使用于检定和校准3、4等量块。     

用混合测量法检定正、负微米组量块

立式接触式干涉仪通常用于比较测量法测量量块,很少考虑混合测量法的应用.而一般小型企业不建立正、负微米组标准量块.只有在83块组标准量块的情况下,才运用混合测量法,可使正、负微米组量块的检定问题得到解决. 利用立式接触式干涉仪刻度上±50分度值(分度值取0.1μm时)以混合测量法进行检定正、负微米组量块中心长度尺寸和平面平行性尺寸. (1)取83块组标准量块中的1.0mm块,将干涉仪"零位"线对准刻度中的"0值",分别进行检定1.000mm、1.001mm、1.002mm、1.003mm、1.004mm量块.注意:读数时分别以刻度尺上的0μm、+10μm、+20μm、+30μm、+40μm刻度线来代替原始"0值",并读出相互对应的偏差值.     

长度计量基础知识讲座(二十七)

1概述接触式干涉仪(以下简称干涉仪)是应用光波干涉原理,采用微差比较测量法测量长度的高精度计量仪器。干涉仪由前苏联计量仪器专家乌威尔斯基设计并制造,因此通常称为乌氏干涉仪。干涉仪主要用于检定尺寸小于150mm的3等及以下量块的尺寸,也可以对其他高精度零件进行精密测量或作高精度测量的定位。     

长度计量基础知识讲座(二十七) 第二十七讲 接触式干涉仪

1概述接触式干涉仪(以下简称干涉仪)是应用光波干涉原理,采用微差比较测量法测量长度的高精度计量仪器。干涉仪由前苏联计量仪器专家乌威尔斯基设计并制造,因此通常称为乌氏干涉仪。干涉仪主要用于检定尺寸小于150mm的3等及以下量块的尺寸,也可以对其他高精度零件进行精密测量或作高精度测量的定位。     

消除薄量块弯曲对测量结果影响的方法

量块在仪器上处于测量状态时,会受到量块的自重、测力以及工作台支承点的反作用。例如,在检定2mm以下的薄量块时,干涉仪为球筋工作台,由于量块起支撑作用的两条筋之间有跨度,使测量薄量块时发生弹性变形。为避免由此带来的测量误差,在量块的测量过程中需注意以下几点:1.当测帽每次与量块接触时,是否发出空虚的声响。2.当测帽接触量块时,仪器的示值是否有反常的不稳定。     

量块检定数据自动化处理方法探讨

<正>众所周知,根据JJG146-2011《量块检定规程》,量块的主要检定参数有量块长度、量块长度变动量和长度年稳定度,数据处理量极其庞大。为了提高量块检定的质量和效率,我们必须使量块检定数据数字化,把复杂的数据处理交给计算机来做。对于接触式干涉仪、光学计和测长机等传统的量块检定光学设备来说,量块检定数据数字化的方法就     

立式接触式干涉仪的核查方法及异常值排查

<正>立式接触式干涉仪是三等量块标准装置的主要配套设备,在量块检定过程中,立式接触式干涉仪通过对标准量块与被检量块的微差比较法,取得被检量块的修正值。因此,在检定前对立式接触式干涉仪进行有效的核查,是排除异因、保证检定数据真实准确的基础。笔者现结合多年工作经验,对立式接触式干     

如何使用电炉内温度恒定

立式接触式干涉仪通常用于比较测量法测量量块 ,很少考虑混合测量法的应用。而一般小型企业不建立正、负微米组标准量块。只有在 83块组标准量块的情况下 ,才运用混合测量法 ,可使正、负微米组量块的检定问题得到解决。利用立式接触式干涉仪刻度上± 5 0分度值 (分度值取 0 1μｍ时 )以混合测量法进行检定正、负微米组量块中心长度尺寸和平面平行性尺寸。( 1)取 83块组标准量块中的 1 0ｍｍ块 ,将干涉仪“零位”线对准刻度中的“ 0值” ,分别进行检定 1 0 0 0ｍｍ、1 0 0 1ｍｍ、 1 0 0 2ｍｍ、 1 0 0 3ｍｍ、 1 0 0 4ｍｍ量块。注意 :读数…     

3等量块中心长度校准结果不确定度评定

本文以新规程《JJG146-2003量块》为依据,对三等量块在接触式干涉仪上检定中心长度校准结果的不确定度分析、评定.     

对接触式干涉仪检定规程第19条规定的探讨

通过接触式干涉仪示值误差检定的方法误差分析以及新的三等量块比较法检定的误差分析，探讨用新的三等量块配对检定接触式干涉仪示值误差的可行性。     

二等量块标准装置不确定度评定

以二等标准量块做标准器、接触式干涉仪为比较仪检定三等量块时，标准装置不确定度评定。     

一种基于Matlab的干涉条纹自动处理方法

对接触式干涉仪量块检定时产生的两种干涉条纹进行了研究,图像整体采用傅里叶级数曲线拟合法,实现干涉暗条纹大致定位.局部采用最小二乘二次曲线拟合法,确定干涉暗条纹中心的精确位置及暗条纹个数.利用Matlab和VC平台进行编程,快速有效地实现了干涉条纹中心位置的自动判读. 该方法已应用在中国计量科学研究院接触式干涉仪的量块检定中.     

JJF1304-2011《量块比较仪校准规范》的解读

一、JJF1304-2011制定的背景及目的量块比较仪是检定量块的主要计量仪器,它是采用比较方法测量量块长度的计量仪器。该仪器使用范围广泛、使用量极大。量块比较仪有多种类型,其中,各种光学计、测长仪、测长机、接触式干涉仪等仪器已经制定了各自的检定规程或校准规范。但是,随着科技进步和仪器的更新换代,出现了越来越多的新仪器     

量块标准装置更新改造方案

本文论述了包括柯氏干涉仪和接触式干涉仪在内的量块标准装置更新改造的必要性;国内外量块检定现状和仪器;研究改造内容和技术方案;改造后达到的技术指标和技术水平,并分析了量块标准装置更新改造后可能产生的社会效益和经济效益。     

量块的电脑化测试装置

接触式干涉仪是计量部门测试三等量块的法定仪器。本文介绍了一种基于接触式干涉仪的量块自动测试系统，它以光电探测替代目视估测，免除操作人员的视力疲劳，并能自动处理数据。软件系统以最新的国家检定标准编制，易学好用。     

检定三针直径的简便方法

按照三针检定规程ＪＪＧ4 1— 90 ,三针直径的检定应在卧式光学计或立式光学计或接触式干涉仪上以三等量块比较检定。其中 ,卧式光学计因结构和精度上的原因现使用较少 ,而用立式光学计或接触式干涉仪检定时需在专用工作台上用窄平面测帽进行 ,不但专用工作台不易制作 ,且在检定过程中需仔细调节仪器的测量轴线与工作台面垂直 ,否则会产生较大的测量误差。在实际工作中 ,尝试用球形测帽直接在仪器工作台上以三等量块比较测量法检定三针直径 ,经使用效果良好 ,现以在立式光学计上检定直径为 0 2 91ｍｍ的三针为例介绍如下 :首先在立式光学计…     

具有F-P标准具照明系统的白光干涉仪测量量块的测量不确定度分析

文献[1]F-P标准具用于量块量值的传递与溯源一文(中国测试技术2012年增刊第2期54-58页)介绍具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的光学原理及其结构,以及检定F-P标准具的等倾干涉的原理。而进一步对具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的测量不确定度的分析,则由本文完成。该文首先对F-P标准具的检定及其测量不确定度就行了分析。量块尺寸在白光干涉仪上与标准具作比较测量。为减少标准具的数量,量块尺寸可以与两块或三块标准具组成的尺寸进行比较,也可以是由一块尺寸较小的标准具经过光学倍增法实现与被检量块尺寸相同进行比较。例如80mm的量块用40mm的标准具进行比较,这时在量块上的光路在标准具中多一次反射达到;90mm量块则用30mm标准具进行比较。他们也可以由两块标准具组成的尺寸进行比较。分析时以倍增法测量误差最大,以其进行计算。充分证明具有F-P标准具的白光干涉仪完全满足检定1等量块的要求。通过文献[1]及本文的介绍,映证该技术可以实现普及1等量块的检定及量块的自动化检定,特别适用于量块生产厂00级、K级、0级量块的自动化检定。     

接触式干涉仪CCD智能化改造

本文介绍了一种将光电耦合器件OCD摄像技术，计算机图像处理技术引入传统的接触式干涉仪，实现量块检定光电化、智能化的检定系统。