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热稳定性　 thermostability触头在规定温度和保温时间条件下 ,能保持外型尺寸不变 ,表面无龟裂、起泡及低熔点金属渗出的特点。耐损蚀性 erosion resistance泛指触头抵抗电弧侵蚀、机械磨损和化学腐蚀因素所引起的触头材料损失的能力。损蚀量试验 loss measurement of erosion在规定条件下触头受电弧、机械和化学作用后损失量的测定。抗熔焊性 welding resistance触头抵抗电弧等放电焦耳热所引起的触头表面熔化、触头间凝结而能正常断开的能力。抗熔焊试验 welding resistance test在规定条件下 ,测定触头熔焊次数及粘着次数的试验。熔焊力…     

电弧作用后CuCrTe(W)触头熔化层组织及耐压性能的研究

本文研究了CuCrTe和CuCrWTe真空触头经长时间电弧作用后的表面熔化层显微组织及成分的变化。金相和扫描电镜分析表明：CuCrTe触头表面局部存在溅射坑点，熔化层厚度为0～70μm左右，Cr沉淀析出相的粒度为1～5μm左右；CuCrWTe触头表面平整，熔化层厚度约为10μm左右，CrW沉淀析出相粒度小于1μm。能谱成分分析表明：触头熔化层中Cu成分含量显著低于其原始成分含量。耐压试验表明：电弧作用和在CuCrTe材料中添加一定量的W，均可显著提高其耐压性能。     

银基触头电弧侵蚀及气孔和裂纹产生机理

在快速试验机上对ＡｇＣｄＯ、ＡｇＳｎＯ_２和ＡｇＷＣ触头材料进行了分断电弧侵蚀试验。利用扫描电镜和光学金相显微镜对熔层表面和剖面进行微观测试。研究了触头表层在电弧作用下的相变过程和熔层表面的微观组织结构；分析了触头气孔的形成机理和裂纹的产生原因与抑制途径；探讨了触头的耐电弧侵蚀能力与熔层组织结构的关系。     

交流阻性负载下AgSnO_2(16)触头材料模拟电性能研究

采用化学法制备掺杂微量添加剂的AgSnO2(16)触头材料,使用模拟试验装置在30 A交流阻性负载下进行模拟电寿命试验、温升试验、耐电弧侵蚀试验和熔焊力试验,考察了高氧化物含量对AgSnO2触头材料电性能的影响。结果表明:AgSnO2(16)触头材料不但具有良好的加工性能,而且还具有较好的抗熔焊性能和耐电弧侵蚀性能。     

用MIC-80微型计算机测试触头烧损值

为了研究金属材料在电弧作用下的烧损行为,例如单独研究开关的触头材料在电网中接通、分断时电弧对触头材料的腐蚀情况等,设计了一种试验线路,其电气原理如下: 在一个贮能电容充放电的回路上,测量一对开关触头在电容器瞬间放电时的烧损系数A。其电路如图1所示。     

稳态电弧作用下触头烧蚀特性的试验研究

稳态电弧作用下触头烧蚀特性的研究对于探究触头性能退化及失效机理具有重要意义。针对稳态电弧作用下的触头烧蚀特性展开了试验研究。采用触头开距可调的电弧试验系统进行了不同稳态电弧电流下的烧蚀试验,得到了触头烧蚀量和表面形貌的变化。结合试验结果分析了稳态电弧大小对于触头侵蚀和材料转移的影响。     

直流接触器银基触头材料的腐蚀特性

由于直流分断特性,触头材料的腐蚀状态主要受开关负载类型的影响,因此有必要建立试验中为模拟典型转换条件的标准负载条件,来获得不同触头材料客观的比较。文中对典型负载条件为DC4或DC5的试验、被试触头材料的特性和直流接触器的电弧特性、电磨损等作了叙述。电气试验表明材料选择对直流接触器的性能有重大影响,可以看出,在直流转换条件下电弧腐蚀更易受到其它因素的影响。     

银金属氧化物(AgMeO)触头材料研究的新发展

从触头材料的温升特性,极间电弧特性及其对电极热力效应等方面,详细评述了国内外对AgMeO触头材料的基础研究现状:在分析比较AgSnO_2、AgCdO、AgZnO触头材料的抗电弧侵蚀性和抗熔焊性的基础上,提出了AgMeO触头材料的选用原则;最后,探讨了AgMeO触头材料的发展动向。     

银金属氧化物(AgMeO)触头材料表面动力学特性的研究

基于触头表面层组织特性是电弧与触头材料交互作用中最为重要的影响因素,本文研究了电弧侵蚀过程中AgMeO触头材料表面所特有的润湿作用、分散体系与粘性、MeO组份的热稳定性等表面动力学特性。作为触头材料表面动力学特性对电弧能量作用的响应,本文还研究了AgMeO触头基体裂缝形成与发展机理、热影响区MeO组份的“趋肤”现象及AgMeO材料电弧侵蚀表面形貌特征。     

含CuO的AgZnO触头材料的制备与电性能分析

随着2006年欧盟市场对银氧化镉(AgCdO)系触头材料的全面禁用,市场上急需新的触头材料替代产品.作为一种环保型电触头材料,银氧化锌(AgZnO)是理想的电触头材料之一,但Ag与ZnO的润湿性不好,导致触头性能的劣化.本文利用CuO改善Ag与ZnO的润湿性,利用共沉淀和共沸蒸馏相结合的方法制备出分散性能良好的CuO/ZnO粉末,采用粉末冶金法制备出AgZnO铆钉触头材料,并对含CuO的AgZnO铆钉触头材料进行电性能测试和评价.实验结果表明,CuO能明显改善Ag与ZnO之间的润湿性,添加适量CuO能降低AgZnO在中小负载工况下的温升.     

银金属氧化物触头材料制造的新论点

本文介绍国外近期在银金属氧化物触头材料制造方面的一个新论点。该论点认为：银金属氧化物触头材料在实际开关中的运行性能不是决定于氧化物的种类，而是决定于材料的制造工艺和添加物，即决定于电弧作用后触头表层材料的微观结构。     

银金属氧化物触头材料制造的新论点

本文介绍国外近期在银金属氧化物触头材料制造方面的一个新论点。该论点认为：银金属罐头人物触头材料在实际开关中的运行性能不是决定于氧化物的种类，而是决定于材料的制造工艺和添加物，即决定于电弧作用后触头表层材料的微观结构。     

高弥散型AgZnO触头材料的制备

采用机械混粉法和超声分散法制备AgZnO材料,分析了不同制备工艺条件下,AgZnO触头材料显微组织和性能的变化。结果表明：超声分散法制备AgZnO材料的颗粒细小、分散均匀,基体结合强度较高;与机械混粉法制备AgZnO相比,超声分散法制备AgZnO材料密度、硬度较高,电阻率较低,综合性能较佳。     

石墨添加剂对AgNi触头特性的影响

本文评价了石墨含量为0．5和1．0（Wt％）的AgNi10触头的电气特性。对粉末冶金法制备的触头样品进行了静态燃孤、200A电流熔焊的试验，还在一个商用继电器中进行了交流、100A寿命试验。当电弧能量给定时，AgNi10触头的最大炬熄强度会随着其中石墨添加量的增加而递减。电弧侵蚀将引起材料损失，含0.5％石墨材料的损失要少于含1％石墨的材料。这似乎是石墨含量增加后使燃孤强度提高而产生的结果。燃孤使触头表面微观结构发生变化，形成较大的Ni颗粒并使其氧化。石墨的添加会对上述变化及变化程度产生影响。     

电弧停滞现象对低压开关电器分断的影响

电弧停滞现象是低压开关电器开断过程中的一个重要现象.电弧停滞时间的长短对低压开关电器的开断性能和限流性能有很大的影响,而电弧停滞时间本身受触头区域的磁场、触头开断速度、触头材料、灭弧室结构与器壁材料、触头形状和表面情况等因素的影响.     

应用于混合式直流断路器的电流转移方法

电流转移是混合式直流断路器能够成功开断电流的前提,针对混合式直流断路器的电流转移特性展开了研究。首先通过试验测量具有不同触头结构及触头材料的真空电弧电压。试验结果表明电流为0~1 k A时,电弧电压约16~22 V;且改变触头结构、触头材料及触头开距等无法有效提高电弧电压,所以提高真空电弧电压以驱动电流转移的方法并不可行。为此,首次提出了一种应用换流驱动电路的电流转移方法。对换流驱动电路建立了数学模型,并通过试验验证了仿真模型。最后,针对基于换流驱动电路的混合式直流断路器,设计试验回路并进行了电流转移等效模拟试验。试验结果表明:该电流转移方法能够保证混合式直流断路器中电流在200μs时间内可靠转移。该试验结果验证了基于换流驱动电路的电流转移方法应用于混合式直流断路器的有效性。     

不同触头材料的适当配对可以提高低压开关的可靠性

提高低电压(50赫,100～1000伏)大电流开关的可靠性,首先要提高其电寿命,即减少触头的磨损。触头寿命除受电弧、分断参数和触头材料的影响之外,还受触头材料迁移的影响。对于交流接触器,触头材料的迁移一般没有明确的方向,因为阳极和阴极是交替变化的。在电弧斑点处,触头金属熔化、蒸发并进入触头之间,在电弧熄灭时,一部分金属蒸汽和金属微粒又重新沉积到触头表面。如果沉积的金属是紧紧地粘在触头表面上,那么在以后分断时,它还是一种有用的材料。     

电弧作用下 AgMeO 触头材料的物理冶金过程分析

本文分析了ＡｇＭｅＯ触头材料电弧侵蚀机理,对电弧的热力作用下触头材料的各种响应从物理冶金本质角度进行全面研究,在此基础上对ＡｇＭｅＯ触头材料组元和组织的优化设计作了完整的分析讨论,提出优化设计判据,最后提出能充分表征触头材料电气使用性能的材料物理性能参数。     

浅析不同添加剂对AgSnO2（12）触头材料电性能的影响

在直流纯电阻负载、24 V、20 A条件下,对同一种工艺方法、不同添加剂及含量制造的AgSnO2触头材料进行了相同操作次数的模拟电寿命试验,对整个试验中电弧能量、燃弧时间及熔焊力做了实时监测,并测量了试验后动、静触头的质量损失。对各组模拟电寿命试验结果对比分析的结果表明,不同添加剂在电弧作用下对AgSnO2(12)触头材料的烧损会产生不同影响;在本试验条件下,合适的添加剂可以有效降低AgSnO2(12)触头材料的烧损量和熔焊力,提高触头材料的电寿命。     

电弧作用下触头烧蚀特性的仿真研究

开断电弧对断路器触头的烧蚀会影响其使用寿命和可靠性。针对空气电弧作用下的断路器触头烧蚀行为进行了仿真研究。将电弧等效为正态分布的热源,基于传热学和流体学,分析了触头材料的温度变化过程和相变过程;此外,研究了熔池受力对熔池流动及温度的影响;最后,考虑触头材料的蒸发,模拟了触头表面的形貌及温度变化。仿真结果表明：触头温度由表面向内以半圆弧的形式扩散,熔池会先逐渐增大,在电弧作用消失一段时间后才逐渐减小;表面张力对熔池区域内的流动起主导作用,电磁力和浮力依次;考虑触头材料的蒸发时,触头表面会形成烧蚀凹坑,凹坑处的温度最高,凹坑随燃弧时间持续增大。