ESD testing of devices, ICs and systems

This tutorial discusses several ways of ESD testing for devices, ICs and systems. A good understanding of the methods and the physics is required for relating test results to each other. The tutorial ends with an outlook on extensions of the current methods and a discussion on required ESD qualification levels.     

无线IC收发机体系结构(上)

在目前的小型化趋势中,降低通信芯片的成本迫在眉睫.这促使设计者要以更高的集成度来改进收发机.在天线和数据输出之间获得最大集成的目标不象用片上元件代替外部元件那样简单,它需要彻底改变前端设计.当前对功率、尺寸和成本的要求都很苛刻,传统的多元件无线设计已不能适应,因此,这就需要新的具有更少片外元件的无线体系结构.     

无线IC收发机体系结构(下)

亚-采样接收机 　　随着高速CMOS工艺的出现,已有人开始探讨基于带通采样定理应用的亚采样系统.图9示出了中频的亚采样体系结构.采样电路代替了零-中频体系结构中的混频器.图10示出了频域中的下变频处理.射频信号以基带信号的奈奎斯特速率进行采样.下面的等式给出带通采样产生的频谱镜象: 　　……