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相似文献
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1.
多年来,作为测试测量行业的领导者之一,NI通过跨行业跨应用的探索,对测试测量的未来发展趋势形成了独到的见解。该公司表示,未来几年中,五大趋势将对测试测量行业的发展产生重大影响:  相似文献   

2.
本文利用虚拟仪器技术进行运算放大器参数测试平台的设计,所用的软件为NI公司的labVIEW编程环境,硬件选用NI公司的PCI-6251数据采集卡,实现信号的采集与传递,整个测试平台能方便完成运算放大器主要参数的测试、波形显示与保存。最后利用测试平台对运算放大器的特性进行测量,并与其他仪器测量结果进行比较,实验结果表明该测试平台所测结果精确可靠,系统操作灵活,可扩展性强。  相似文献   

3.
艾米 《今日电子》2003,(10):68-72
众所周知,美国国家仪器公司(简称NI)是虚拟仪器(VI)创始人。8月13-15日,美国得克萨斯奥斯汀会议中心,一年一度的全球虚拟仪器盛会—NIWeek2003在这个5万平方英尺的场地举行。之所以说它是盛会,是因为这里聚集了全世界测试测量领域的精英,2000多位来自各行各业的工程师、NI开发商和应用领域的科学家、全球60个技术贸易组织的成员,与NI的销售工程师、开发人员和行政官员售工程师、开发人员和行政官员欢聚一堂。他们当中既有系统集成商、把NI产品集成在其解决方案中的VAR,更有与设计、测试、测量和控制应用领域有关的产品制造商,他们涉…  相似文献   

4.
基于虚拟仪器技术的测控系统作为一种以计算机系统为核心、结合模块化测试测量设备的测试技术,以其技术的先进性及应用的灵活性和广泛性得到了业界的广泛认可,并在市场上取得了与传统的台式仪器一分天下的巩固位置,其发展前景非常乐观。“作为美国国家仪器公司(NI)在中国大陆的唯一代理和系统联盟商,泛华测控公司先后在LabVIEW、SCXI、PXI、数据模块化处理、在线测量、并行测试数据处理、故障诊断、测试环境仿真等方面引领了中国NI技术的发展方向,在一定意义上支撑了虚拟仪器技术在中国的发展和技术升级。”泛华测控公司总经理左毅表示。  相似文献   

5.
姚琳 《今日电子》2006,(12):123-124
11月8日,一年一度的NIDays 2006活动在上海香格里拉大酒店成功举行。恰逢NI(美国国家仪器公司)诞生30周年,LabVIEW也迎来了自己20岁的生日,NI隆重推出了LabVIEW 8.20二十周年纪念版,并首次推出了汉化的中文版,因此LabVIEW是全天活动的关键词。来自各个应用领域的专家、用户齐聚一堂,聆听NI精心准备的主题发言、NI和合作伙伴的精彩技术讲座,并观看覆盖了设计、测试测量、控制和院校四大领域的系统演示。  相似文献   

6.
邓辉 《电子元器件应用》2004,6(9):i008-i008
工欲善其事,必先利其器,对于电子设计工程师和检修技术人员来说,一套好的测量分析工具能起到事半功倍的效果。8月18日,Tektronix(泰克)公司和National Instruments(美国国家仪器简称NI)公司共同在西安举办了“2004设计、验证及测试论坛”,这是此次巡回论坛中国大陆的第五站,200多名电子工程师和高校师生参加了此次论坛,会上来自泰克和NI的工程师,分别就新型Open Windows示波器和LabVIEW7.1功能进行了演讲,并现场结合两种产品的应用作了演示。  相似文献   

7.
行业视点     
《电子质量》2012,(6):52-55
NI发布全新PXI机箱PXIe-1066DC美国国家仪器公司(National Instruments,简称NI)近日发布NI PXIe-1066DC18槽机箱,增加了PXI Express平台高可用性,可最大限度地提高系统的正常运行时间。在众多严格任务级测试、测量和控制应用中,该新机  相似文献   

8.
测试与测量     
平板式显示屏检测系统National Instruments(简称NI)宣布了显示屏测试系统,用于可靠的平板式显示屏检测。NI显屏测试系统为生产线上及实验室里的工程师提供了一套高性能测试方案,可胜任各种测试、测量领域的任务需求。NI显示屏测试系统提供一整套显示屏组装前的测试方案。例如次序排列、象素瑕疵、颜色以及对比度。用于测试手机、掌上电脑、汽车上的显示屏以及其他可移动终端设备。工程师们用打包在NI显屏测试系统中的NITestStand—现成即用的测试执行管理环境,即可轻易配置这些测试工作以达到各种要求。NI显屏测试系统中的NI La…  相似文献   

9.
《电子测试》2009,(5):94-94
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日发布了最新NI 31xx系列工业控制器,该系列控制器可以与NI测试测量平台相连接,并为长期的发布应用提供无风扇的设计。  相似文献   

10.
NI公司“构建完整的数据采集系统”全国主题巡回研讨会日前分别在北京和上海举行,共吸引了四百余名需要测试测量应用的专业人士到场。研讨会由NI资深工程师主持,会议的重点议程包括测试软硬件两个方面。在基于计算机的数据采集或测量中,即使有经验的工程师也会对硬件指标中的一些常见术语的含义产生困惑。而事实上,根据测量对象,测量要求的不同,仪器的精度,精密性和敏感度可能会更加重要。NI工程师在会上对这些误区进行了澄清。NI即将在成都、南京、深圳和香港四城市举行的研讨会,请访问ni.com/china,点击左侧目录栏的“活动安排和培训…  相似文献   

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