R＆s射频诊断暗室为实验室提供自由空间的测试环境

R＆S（罗德与施瓦茨）公司生产的紧凑型射频诊断暗室R＆SDST200,可让移动电话等无线设备的研发人员在工作台上进行射频辐射测量。这一台式暗室能模拟近似自由空间的测试条件．并配有专为此暗室设计的700MHz～6GHz宽带天线。用户可以测量自我干扰（减敏）或辐射发射,进行共存测试以及在研发过程中验证天线的辐射方向图。     

30 MHz～1 GHz辐射发射试验场地确认测试实例剖析

场地衰减偏差是评估半电波暗室(SAC)是否满足30 MHz～1 GHz射频电磁场辐射发射测试要求的关键指标.针对某SAC场地衰减偏差的多次测量结果,从扫频测量参数、天线塔和电缆组件、测量天线的巴伦阻抗特性、溯源场地特性差异等方面进行剖析,讨论导致测量结果差异的主要因素.     

适用于MIMO OTA认证及研发测试的辐射两步法

介绍了MIMO OTA的基本原理以及辐射两步法(RTS)。辐射两步法:第一阶段,利用终端的上报功能,在暗室中测出待测件的辐射方向图;第二阶段,把在第一阶段中测到的方向图信息加载到信道仿真器中,模拟出包含了待测机天线特性的无线信道,基站仿真器输出的下行信号先与加载了待测件方向图信息的无线信道进行卷积,然后通过测量天线发射出来,进行接收机的性能测试。辐射两步法对于MIMO OTA的认证及研发测试均有重大意义。     

电场强度与等效全向辐射功率的关系

主要讨论了电磁兼容检测领域和无线电射频检测领域。给出了频率范围为30～1 000 MHz时,在半电波暗室测量的辐射发射（骚扰）电场强度和在全电波暗室测量的等效全向辐射功率（EIRP）之间的理论推导关系,说明在理论的基础上,电场强度与等效全向辐射功率的测量值是可以相互转换的,为电磁兼容领域电场强度的测试考核和无线电射频的发射功率的测试提供了相应的参考,同时可以缓解半电波暗室和全电波暗室转换的测试压力,节省了搬移吸波材料所产生的人工成本和避免了吸波材料的损坏。     

微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响

利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测试距离对天线场强测量、增益测量的影响.分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导.     

微波暗室设计原理的研究与应用

微波暗室是进行天线参数测试及电磁波辐射、散射特性测试的理想场所.介绍了微波暗室设计的基本原理,给出了部分参数的选取准则,并分析了其原因.作为暗室建设的例子,详细介绍了一座紧缩场暗室的硬件构成及其测量控制和数据处理软件系统,并指出了其不足之处及改进思路.     

一种高精度多通道天线测试系统

天线测量是天线研究过程中一项重要而又繁杂的工作,在对高性能雷达天线的研制过程中,离不开一套高精度的天线测试系统。影响天线测试系统精度的因素很多,从测量环境微波暗室、天线发射控制系统、天线接收控制系统等几方面设计了一种多通道天线测试系统,用来测量和分析天线辐射特性的各种电磁参数。设计完成的测试系统具有测 量灵敏度高、动态范围大、测量误差小、抗干扰能力强和天线原始数据采集速度快的特点,具有一次性扫描测量就可获得多频点、多通道天线数据的能力。     

三元组天线阵列控制方案研究

三元组天线阵列的精确控制是射频仿真暗室设计施工中关键环节,它直接影响到仿真试验的精度.本文从电磁场理论中能量流的概念出发,充分考虑三元组天线辐射单元相位对等效辐射中心的影响,提出了一种新的三元组天线阵列控制方案.该方案由于充分考虑了辐射单元相位因素,因此在建造大型辐射式仿真暗室天线阵列时,可以完全省去每个辐射单元后面的移相器,从而大大降低天线阵列的建设造价;由于该控制方案充分考虑了三元组天线单元间距对合成信号方位的影响,因此控制的精度也较原先有显著提高.     

测量天线的参数

当在开阔场或电波暗室中测量辐射发射或辐射抗扰度时,需要使用测量天线.在电磁兼容测量的其他方面,如开阔场或电波暗室性能检测、屏蔽效能测量以及对大型电磁骚扰源的现场测量等,也都需要使用测量天线.对天线参数与特性的理解深度直接影响着对测量方法的正确设计以及测量结果的正确理解.本文向读者重点介绍测量天线的一些最重要的参数,阐明容易混淆的概念.本文不涉及各种不同类型测量天线的特点与性能,也不涉及天线参数的校准.     

宽带扫频RCS测量在射频仿真暗室内的实现

介绍了利用矢量网络分析仪在射频仿真暗室内进行宽带扫频雷达散射截面测量的方法、步骤、应注意的问题,以及为提高测量精度采用的主要测试技术,并结合实验测试证明了该方法在射频仿真暗室中进行雷达散射截面测量的可行性。     

EMC电波暗室新的设计考虑

主要概括了德国奥尔托项目公司在最近几年为适应市场的大型产品、多标准符合以及快速精确测试需求而完成的各类EMC电波暗室全新设计考虑,包括EMC电波暗室的高静区(大于2m高)设计、10米法电波暗室高频测试的测试距离和天线的选择、双静区双天线法测试和铁氧体射频线缆的使用,这些设计考虑都已成功通过第三方测试并成熟运用.最后,介绍新能源汽车零部件EMC测试的全新暗室解决方案.     

卫星导航天线相位中心精确测量分析

针对卫星导航天线相位中心的精确测量和标定,对影响天线相位中心测量准确度的因素和测量环境进行了介绍.提出了利用微波暗室进行卫星导航天线相位中心测量的思路和方法,对卫星导航天线测试所用微波暗室进行了测量原理分析,提出了测量及计算方法.对测试转台的类型、功能、精度和相位中心标定装置提出了特殊要求,并给出了实用测试案例,实际测...     

在电波暗室中测试手机辐射发射

1.前言 GSM手机或CDMA手机的电磁兼容性测试、手机的比吸收率(SAR)测量以及手机天线辐射特性研究中的测试,都是在电波暗室中进行的.由于手机无法与基站建立正常的通信链接,需要专门的可以实现部分基站功能的移动通信测试设备或系统模拟器,使得手机处于一定的发射状态.[1Ⅱ2]图1是YD1032-2000标准[1]中给出的移动通信终端电磁兼容测试布置图.非专门从事移动通信设备测试、研究、生产的单位,由于缺少移动通信测试设备或系统模拟器,无法在电波暗室内进行手机辐射发射、手机天线特性等方面的研究工作.     

基于距离差分法消除天线测试多径干扰

在暗室中对天线进行测量时,来自暗室侧壁、后墙的多径干扰会影响测试精度。因此多径干扰成为影响天线测量精度的主要因素之一。为此,提出利用距离差分法消除天线测试时的多径干扰,达到去除多径干扰的目的。并通过数值仿真验证了该方法是行之有效的。     

《SELENIA天线测试场》选译及联想

本文是对“Selenia天线测试场”一文进行的选译,并根据国内外天线测试场的近期发展浅谈了一些体会和感想。原文以雷达、导弹、卫星、航空电子和通信天线的发展需要同步发展多用途天线测试场及专用测试系统、设备为背景,简单陈述了该公司的各种传统天线测试场,介绍了新建的配备自动化测试设备的微波暗室,描述了一些非常成功的特殊测试装置,如测试天线在各种温度下辐射特性的热试验室,遗过一个实例验证了计算机控制自动天线测试技术和测量数据处理技术的优点,最后指出了天线测试场的进一步发展趋势。     

辐射电磁骚扰测量中归一化偏差分析

用3米法和10米法半电波暗室测量辐射电磁骚扰时,在180~260 MHz频段上应用20 dB/10倍的反比因子归一化测量结果存在一定的偏差。3米法半电波暗室归一化后的结果偏小,导致最终被测试设备在3米法半电波暗室测量会比在10米法半电波暗室测量时,更容易满足辐射电磁骚扰的限值要求。分析了归一化偏差产生的原因,并提出了加入辅助的修正系数修正测试结果的方法。     

基于PNA的天线远场测量系统设计与应用研究

针对微波暗室结构布局、性能和实际使用需求,设计一套天线远场测试系统,详细分析系统的射频分系统方案配置及其仪表选型,估算频带内测量系统的动态范围。实际应用表明该系统满足设计要求,具有适用频率范围宽、系统动态范围大、测量效率高等优点,可为类似系统的设计提供参考。     

基片集成波导全向滤波天线多天线阵列

设计、制作并测量了工作在Ku波段的、可用于频分复用(FDD)无线通信系统的基片集成波导缝隙辐射全向滤波天线及其多输入多输出(MIMO)天线阵列。滤波天线是将射频滤波器和天线辐射部分进行一体化、联合设计,以减少射频前端滤波器与天线间的连接所引入的插入损耗。经过仿真、制作、测量和比较,得出结论:独立全向滤波天线保持了辐射部分的全向辐射特性,同时能很好地抑制带外杂散信号,使输入端反射系数的过渡带变得陡峭。工作在13.6GHz和14.4GHz、带宽为100MHz的相邻频率的全向滤波天线隔离性能良好,可用于频分复用系统的收、发信道。多输入多输出天线阵列中的单个全向滤波天线辐射特性基本保持不变。     

法国MVG携明星产品StarLab首秀2016北京EDI CON

法国Microwave Vision Group是全球领先的天线测试测量系统、射频安全设备和电磁兼容的制造生产厂商,致力支持国防,国土安全,航空航天,卫星,无线电信,汽车工业,大学研发,射频安全和材料测量等行业.     

暗室条件下抗干扰测试结果影响分析

暗室为卫星导航接收机抗干扰测试提供了全面有效的测试环境，极大地提高了抗干扰性能定量测试与评估能力。但暗室的静区性能、结构尺寸、天线布局等因素会对抗干扰性能测试结果产生影响。基于多径信号天线接收模型、阵列波程差等效模型和信号来向天线映射模型，通过仿真量化分析了干扰多径信号、有限距离下近场效应和来波方向误差对抗干扰测试结果的影响。结果表明，暗室静区性能的提升可降低干扰多径信号对零陷位置的拉偏；不同暗室尺寸对应不同的零陷深度测试，需根据测试需求折中选择；布设暗室天线应依据预设的被测阵列天线和测试场景。结果可为暗室设计、抗干扰测试方案选定和测试结果分析提供参考，提升抗干扰测试的可信度。