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2205双相不锈钢耐腐蚀性能与晶界特征分布的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了两种轧制工艺下2205双相不锈钢的临界点蚀温度(CPT),并利用电子背散射衍射(EBSD)技术对其相比例和晶界特征分布进行了分析.研究结果表明,DSS1轧制工艺下材料的耐腐蚀性明显优于DSS2工艺.两种工艺下铁素体(α)和奥氏体(γ)相比例差别不大,都在50%左右,但是,DSS1材料中具有较高的低∑值重位点阵(CSL)晶界出现频率,特别是在γ相中,∑3-∑29CSL出现频率达到了约50%,而低∑值CSL晶界具有较好的耐腐蚀性能,尤其是∑3晶界. 相似文献
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为了研究保护气体对奥氏体不锈钢焊接接头力学性能的影响,在相同线能量条件下对加保护气体与不加保护气体两种焊接方式进行了对比研究。采用Nd:YAG激光器对厚度为0.7 mm的奥氏体不锈钢进行激光焊接,用扫描电子显微镜、显微硬度计、材料试验机等仪器对焊接接头的微观组织及力学性能进行表征及测试。结果表明,在相同的激光工艺参数下,两种焊接方式均实现完全焊透,且焊缝成型良好。不加保护气体时,随着焊接速度的降低,接头抗拉强度随之降低,最多降低了20%。加入保护气体后,接头的抗拉强度变化平稳,均为母材强度的90%以上。 相似文献
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采用电子背散射衍射(EBSD)及取向成像显微(OIM)技术研究了冷轧变形量对再结晶后304不锈钢显微组织及晶界特征分布(GBCD)的影响。结果表明,经过冷轧变形5%及高温(1100℃)短时间(5 min)再结晶退火可将304不锈钢的低ΣCSL(Σ≤29)晶界比例提高到75%(Palumbo-Aust标准)以上,并形成了大尺寸"互有Σ3n取向关系晶粒的团簇"。这是提高低ΣCSL晶界比例后显微组织的重要特征。对晶粒团簇中的晶粒进行孪晶链及取向孪晶链的分析,可以确定晶粒团簇内任何两个晶粒之间的多重孪晶阶次。在一个被分析的团簇内,观察到两个晶粒之间最高为Σ38取向关系。随着再结晶退火前冷轧变形量的增加,晶粒团簇的尺寸减小,同时低ΣCSL晶界的比例也下降。 相似文献
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690合金的晶界特征分布及其对晶间腐蚀的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
运用扫描电子显微镜(SEM)、电子背散射衍射(EBSD)和取向成像显微技术(OIM)研究了690合金的晶界特征分布及晶界特征分布对晶间腐蚀性能的影响。低∑CSL(coincidencesitelattice,∑≤29)晶界比例高(72.5%)时会出现大尺寸的晶粒团簇,团簇内部晶粒互有∑3°取向差关系。当低∑CSL晶界比例低(46.7%)时,这种晶粒团簇的大小和内含酗“晶界数量都降低。运用Palumbo—Aust标准统计晶界特征分布时,大尺寸的晶粒团簇之间的随机晶界的连通性几乎不会被打断;但运用Brandon标准统计时,这些随机晶界连通性明显被一些相对偏差较大的低∑CSL晶界打断。低∑CSL晶界比例高的样品比低∑CSL晶界比例低的样品明显耐晶间腐蚀。 相似文献
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利用扫描电子显微镜(SEM)、电子背散射衍射(EBSD)技术和取向成像显微(OIM)软件研究了Ni基690合金中不同类型晶界处碳化物的形貌。不同类型晶界处析出碳化物的形貌有很大区别,在孪晶的非共格界面(Σ3i)附近,棒状碳化物向两侧晶粒内部生长,而类似的棒状碳化物只向Σ9晶界一侧的晶粒内部生长。Σ3i与Σ9晶界附近的棒状碳化物的生长方向与基体晶粒的{111}面平行。晶界上析出的碳化物尺寸随着Σ值的升高而明显增大。在相同的腐蚀条件下,晶间腐蚀的痕迹随着Σ值的升高变得严重。 相似文献
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应用背散射电子衍射测定Ni3Al金属间化合物的晶界特征分布 总被引:1,自引:0,他引:1
晶粒大小和晶粒取向(材料的织构)对多晶材料的性能有重要影响.除上述组织因素以外,晶界特征分布也是影响材料性能的重要组织参数.所谓晶界特征分布是描述材料中晶界结构类型及各种结构类型晶界出现的频率[1].人们以往对单个晶界的结构和特性有较多的研究,而对多晶材料中晶界特征分布及其材料性能的影响认识不够.原因之一是受晶界特征参数测试手段的限制.近年来,背散射电子衍射技术的商业化,为快捷方便地测定材料的晶界特征分布提供了强有力的实验手段.人们可以通过一定的材料加工工艺来控制材料的晶界特征分布,从而达到改善材料性能的目的.这对于易发生沿晶断裂和破坏的工程材料有重要的现实意义.本文报道应用背散射电子衍射技术对金属间化合物Ni3Al单晶材料经冷轧和再结晶退火处理后晶界特征分布测定的初步结果,并就实验结果和Ni3Al室温沿晶脆断现象进行一些讨论. 相似文献
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为了准确地研究材料在高温过程中的组织转变过程及其对性能的影响,本文提出了一种利用扫描电镜(SEM)和背散射电子衍射(EBSD)技术对材料进行“原位跟踪(in—situ—tracking)”观察和测量的新方法。即首先在样品的观察位置做一个记号,并在标识位置附近进行形貌、成分和结构等观测;然后将样品拿出SEM外进行处理,处理完后再放入SEM在同一标识部位做同样的观测;如此反复多次,最后获得一组能反映同一位置特征的系列实验结果。该方法虽然不是真正意义上的“原位(in—situ)”观察和分析,但如果仔细和谨慎操作,可以获得相同的效果和目的。利用该方法对奥氏体不锈钢及其焊接接头在1000℃以上超高温下的组织转变过程进行了研究。结果表明:奥氏体不锈钢母材组织长大严重,大角晶界减少,界面能低的小角晶界增多;而在焊缝区相邻柱状晶取向逐步合并趋于〈100〉方向,但晶粒并无明显长大。 相似文献
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ZnO薄膜紫外光敏特性及晶界势垒的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以二水合醋酸锌为原料,采用sol-gel法在石英衬底上制备了ZnO薄膜。用AFM观察表面形貌,通过测量真空条件下不同温度热处理后薄膜的I-V特性,拟合计算晶界势垒高度。研究了热处理温度对ZnO薄膜性能的影响。结果表明:经650℃热处理制备的ZnO薄膜样品具有较佳性能,结构均匀致密,粒径分布为20~32nm。在10V偏压和1.24×10–3W/cm2光强下,紫外光灵敏度为43.95;无光照条件下晶界势垒高度为0.079eV。紫外光照使晶界势垒高度下降为0.011eV,薄膜的紫外光灵敏度与势垒高度的相对变化密切相关。 相似文献
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借助 HP4192 A低频阻抗分析仪 ,分析了低压 Zn O压敏陶瓷的 C- V特性及介电和损耗特性、添加物对Zn O压敏瓷晶界电学特性的影响。探讨了热处理气氛对 Zn O晶粒边界电性能的作用机理。实验结果表明 :Na+ 掺杂量增加时 ,施主浓度基本保持不变 ,而势垒高度、界面态密度和耗尽层宽度增加 ;在空气中退火 ,样品的施主浓度减少 ,势垒高度降低 ;在 Ar气中退火样品的施主浓度基本保持不变 ,而势垒高度下降较大 ;在音频范围内 ,Zn O压敏瓷具有很高的介电常数 (εr约 130 0 ) ;在 10 5~ 10 6 Hz范围内 ,εr下降较明显 ,与此对应 ,介质损耗角正切 tgδ在 10 5~ 10 6 Hz范围内出现一个峰值 ,该峰具有扩展的德拜驰豫峰特征 相似文献
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在一定范围内变动锶钛摩尔比r(Sr/Ti)仍然可以得到性能良好的SrTiO3晶界层电容器,但施主添加物Nb2O5、La2O3及烧结剂SiO2的加入量应作相应变动。当r(Sr/Ti)=1时,Nb2O5与La2O3以等摩尔比加入为佳;当TiO2过量时Nb2O5宜减少;而当SrO过量时则La2O3应减少,并适当增加SiO2。r(Sr/Ti)在0.994~0.998时粉料有比较合适的松装密度,烧成试样有较低的电阻率(0.2~0.3 Ω·cm),晶粒尺寸为40~50 mm且比较均匀,氧化处理后瓷片有较理想的综合介电性能:er = 55 000~68 000,tgd <1?02,r50v >5?010 ·cm,VB(DC)≈600 V/mm,|腃·C1| (25~+125℃)<10%。相对于金红石相(R),锐钛矿型(A)TiO2与SrCO3的反应活化能更低,可以不经过SrCO3分解过程而在较低温度下直接合成SrTiO3。固相反应机理的差别导致瓷体微观结构差异,在调整r(Sr/Ti)的同时调整TiO2原材料中的金红石相(R)与锐钛矿相(A)之比可得到更理想的晶界层电容器瓷体。 相似文献
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Hillocks are formed sporadically in Al-l%Si sputter layers on SiO2/Si substrates during heat treatments in the range from 200 to 500°C. The driving force is the relaxation of thermomechanical
stress in the grains induced by the thermal expansion mismatch between the metallization layer and the substrate. The orientations
of individual grains and hillocks are measured on-line with a medium voltage transmission electron microscope by the Kikuchi
pattern method. Thermomechanical stress in the grains is calculated with a biaxial strain model, considering the glide systems
of dislocations for the individual grain orientations. In general, hillocks deviate from the ordinary 〈111〉 fiber texture
of aluminum sputter layers. The spatial distribution of grain orientations is illustrated by orientation images using Miller
indices or Rodrigues vectors. 相似文献