点源效率函数确定大体积样品的HPGe探测器γ射线峰效率

利用HPGe g谱仪,用²⁴¹Am、¹³⁷Cs、⁶⁰Co混合点源分别测量样品在5个高度上、不同剖面、不同位置的全能峰效率,通过最小二乘拟合确定了点源峰效率函数的拟合参数,用该点源效率函数对f75 mm×25 mm的土壤样品的半径和高度数值积分计算可得到59.54、661.66、1 173.2、1 332.5 keV γ射线全能峰效率。将点源效率函数数值积分计算的体源全能峰效率与实测标准体源全能峰效率以及LabSOCS无源效率刻度结果进行比较,相对偏差在10%内符合,说明该点源效率函数参数确定方法是正确的。同时,该点源效率函数在计算任意几何形状的样品得到了应用,积分计算了球状样品的探测效率,并与LabSOCS无源效率刻度结果进行比较,两者相对偏差在10%内符合。     

NaI(Tl)晶体对面源全能峰效率刻度的点源模拟法

介绍了用点源模拟法来刻度面源全能峰效率的方法,并将刻度结果与数值分析法的理论计算值进行了比较,两者在８％内一致。     

体源HPGeγ全能峰效率刻度的研究

本工作研究不同基体、不同几何体源的HPGeγ全能峰探测效率刻度方法。考虑了圆柱形体源的自吸收及级联符合相加效应对探测效率的影响,探索性提出了解决级联符合效应校正的新方法。     

Ge（Li）探测器的体源峰效率刻度

本文介绍了用点源模拟法来刻度体源峰效率的方法和刻度结果,并与直接体源法相比较,误差约为5％。     

MC法模拟符合选择核素全能峰

利用Geant4对含有锰元素的混合材料进行热中子活化模拟,并进行γ射线的探测。符合测量技术利用核素衰变的级联γ射线,对56Mn的特征γ射线进行选取。模拟采用~(56_Mn的846 keV特征射线作为门信号,对与846 keV相级联的特征γ射线进行选择,获取~(56)Mn符合γ谱,根据符合γ能谱验证Geat4软件能模拟~(56)Mn的级联衰变。     

γ谱仪测量土壤样品探测效率模拟刻度研究

针对Ф75mm×25mm的土壤样品,利用HPGeγ谱仪,分别用241Am、137Cs、~(60)Co混合点源测量5种高度的样品剖面上不同位置的全能峰效率,确定点源全能峰效率随半径变化的函数关系,对该函数进行数值积分计算可以得到59.54keV、661.66keV、1173.2keV和1332.5keVγ射线的面源全能峰效率,进一步拟合确定面源全能峰效率随样品高度变化的函数参数,对样品高度进行数值积分计算得到Ф75mm×25mm样品的体源全能峰效率。结果表明,点源模拟计算的体源全能峰效率和标准体源全能峰效率进行比较,两者在10%以内符合。因此,在没有标准体源的情况下,用已知活度的标准点源模拟体源进行全能峰效率刻度的方法替代标准体源进行效率刻度方法是可行的。     

标准椅全身计数器对不同年龄组均匀体模源全能峰效率的刻度

本文介绍了用标准液体源均匀充入聚氯乙烯制的体模,刻度标准椅全身计数器〔φ8″×4″(NaI)〕的方法和结果。分别就代表6个年龄组的体模,测定了标准椅全身计数器对5种能量(364,637,898,1460和1836keV)γ射线的全能峰效率;给出了全能峰效率与γ射线能量和被测对象体重的关系曲线。     

氙气样品的点源效率函数法HPGe谱仪测量

用HPGeγ谱仪,在5个高度上用241Am、137Cs、60Co混合点源测量Φ75 mm×25 mm空样品不同剖面上不同位置的全能峰探测效率,用最小二乘拟合法确定点源峰效率函数中的的各参数值,用该点源效率函数对Φ63.50 mm×16.66 mm的氙气体样品进行数值积分计算,得氙气体的81.0、160.6、163.9、233.2、249.8、526.6 keVγ射线全能峰效率。该点源效率函数在测量计算氙样品活度中得到了应用,并和不同单位的蒙卡计算结果以及β-γ符合测量结果进行了比较,偏差在7%以内符合,说明该方法是可行的。     

体源中60Coγ射线的符合相加修正因子测量

对于存在级联辐射的γ核素,如,其衰变产生的γ1（1173．2keV）和γ2（1332．5keV）射线会发生级联符合,造成γ1,γ2的全能峰计数比不存在级联符合时有所减少,有些核素的多个γ符合会出现部分γ全能峰计数增加,部分γ全能峰计数减少。在标准源或样品距离探头较远时,级联符合比较小。一般认为在25cm以外的距离,符合效应小到可以忽略。但在实际工作中（环境样品的γ谱分析中）,由于环境样品的放射性活度比较小,为了在一定的测量时间内尽可能地降低统计误差,样品与探头距离只有1cm左右,这种情况下,就会有明显的级联符合效应。为了尽量减小在刻度和测量过程中由级联符合带来的偏差,必须对级联符合进行修正。     

γ全能峰右高左低现象理论分析

用HPGe γ谱仪对高活度放射性样品进行测量时,在能谱中出现了全能峰右侧明显高于左侧的现象,为准确定量分析γ放射性核素带来困难。通过理论分析,详细解释了该现象产生的原因,实验验证了理论分析结论是正确的。分析结果表明,全能峰右侧高于左侧的现象主要由偶然符合效应引起,并且总体上全能峰左右两侧高度的比值随死时间增大先增后减,当死时间小于等于1.0%时,全能峰左右两侧高度近似相等,当死时间位于1.0%-4.0%时,峰左右高度比值随死时间而增大,当死时间位于4.0%-56%时,峰左右高度比值随死时间增加而减小。并通过实验结果与LabSOCS计算结果对比,显示右高左低这种现象并不会对点源的能谱测量造成影响。