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本文研究了Cu—Sn—Ti,Cu—In—Ti,Cu—Cr,Cu—Ge—Ti铜基活性钎料钎焊Si_3N_4陶瓷与钢。结果表明,四种铜基无银钎料均可实现Si_3N_4陶瓷与钢的连接,Cu—Sn—Ti,Cu—In—Ti的钎焊接头的剪切强度较高,它们合适的钎焊工艺参数分别为1373K×600s,1323K×600s。钎焊接头的X射线衍射分析,波谱分析表明活性钎料连接陶瓷与金属的机制是钎料中活性元素(Ti、Cu)向陶瓷界面扩散并与之发生化学反应而实现接合。 相似文献
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本文在对多种合金系统的中间层广泛试验的基础上,着重对几种铝合金用作Si_3N_4/钢真空扩散焊的中间层进行了筛选试验,认为Al—5%Si作为中间层的接头强度最好。较适当的焊接工艺条件是:扩散焊温度823K,压力60MPa,保温时间1800s。此时,接头中基本上不存在脆性相,剪切试验时是Al—5%Si层本身被剪断,说明两侧连接界面都是有较高的强度。通过SEM接头元素分析,断口X光衍射分析和热力学计算确认中间层与Si_3N_4之间的连接是通过:4Al+Si_3N_4=4AlN+3S_i这一化学反应实现的。 相似文献
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Si3N4薄膜淀积速率对MOS电容器存储时间影响很大。在850℃下,栅介质SiO2膜厚度100nm,MOS电容器存储时间420s。在50Pa真空压力下,通过淀积70nm厚Si2N4薄膜后,MOS电容器无存储时间。经900℃O2气氛退火40min,MOS电容器的存储时间也不到2s。采用声7孔径降低气体流速,从而降低淀积速率,在840℃下,栅介质SiO2膜厚度100nm,MOS电容器存储时间420s;在60.71Pa真空压力下,淀积70nm厚Si3N4薄膜后,MOS电容器存储时间曲线不正常,经900℃O2气氛退火40min,曲线恢复正常,MOS电容器存储时间达到400s以上。 相似文献
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非晶纳米Si3N4对POM的增强与增韧研究 总被引:12,自引:0,他引:12
本文报导了非晶纳米Si3N4对聚甲醛的改性,使聚甲醛手冲击哟闰伸强度分别提高了160%和25%,给出了强度与填充量的对应关系并分析了增强与增韧的机理。 相似文献
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Si3N4是一种用途广泛的功能材料,Si3N4纳米线有望在电子、光学和机械领域展现其特殊性能:在没有催化剂情况下,我们在硅衬底上直接合成了Si3N4/SiO2同轴纳米线。生长条件:氮气氛.生长温度1250℃.1.5h,自然冷却。利用电子衍射、高分辨像和电子X射线能谱技术,我们用Tacnai F30场发射电子显微镜研究了Si3N4/SiO2同轴纳米线的微观组织结构,探讨了这种纳米线的生长机制。 相似文献
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The CF2 density and etch rate of SiO2, Si3N4 and Si are investigated as a function of gas pressure and O2 flow rate in fluorocarbon plasma. As the pressure increases, the self-bias voltage decreases whereas the SiO2 etch rate increases. Previous study has shown that SiO2 etch rate is proportional to the self-bias voltage. This result indicates that other etching parameters contribute to the SiO2 etching. Generally, the CF2 radical is considered as a precursor for fluorocarbon layer formation. At a given power, defluorination of fluorocarbon under high-energy ion bombardment is a main source of fluorine for SiO2 etching. When more CF2 radical in plasma, SiO2 etch rate is increased because more fluorine can be provided. In this case, CF2 is considered as a reactant for SiO2 etching. The etch rate of Si3N4 and Si is mainly determined by the polymer thickness formed on its surface which is dominated by the CF2 density in plasma. Etching results obtained by varying O2 flow rate also support the proposition. 相似文献
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在浅沟槽隔离(STI)化学机械抛光(CMP)中,需要保证极低的Si3N4去除速率,以及相对较高的SiO2去除速率,并且要达到SiO2与Si3N4的去除速率选择比大于30的要求。在CeO2磨料质量分数为0.25%,抛光液pH=4的前提下,研究了聚甲基丙烯酸(PMAA)对SiO2与Si3N4去除速率以及二者去除速率选择比的影响,分析了PMAA在影响SiO2与Si3N4去除速率过程中的作用机理。结果表明,PMAA的加入可以降低SiO2与Si3N4的去除速率,当PMAA的质量分数为120×10-6时,SiO2和Si3N4的去除速率分别为185.4 nm/min和... 相似文献
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非连续纤维增强铝基复合材料(DRMMC)具有比重小、导热性好和耐磨损等优点在汽车发动机活塞、连杆和制动盘等摩擦运动部件方面显示了广阔的应用前景。DRMMC摩擦磨损特性研究成为研究热点之一,但该方面研究主要集中在DRMMC与钢摩擦副在各种外加条件(载荷、速度、润滑等)下的摩擦磨损特性。为推进DRMMC在高速机械制动系统中应用,开展DRMMC与刹车材料摩擦副的摩擦特性研究具有实际和理论意义,但此方面的报道极少。南非Howell[1]研究了20%SiC增强铝复合材料与有机刹车材料的摩擦特性,认为在摩擦表面生成约250μm厚的石墨转移层,从而… 相似文献
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激光诱导气相沉积法是制备纳米氮化硅粉末的主要方法之一。在制备纳米粉体过程中,各工艺参数的变化对粉体特征有很大的影响。在激光制Si3N4纳米粉中基本的运行参数有:激光强度(I),反应池压力(P),反应火焰温度(T),反应气体配比(ΦSiH4/ΦNH3),反应气体流速(V)等。通过实验研究了各个工艺参数对粉体特征的影响并分析了其影响的原因。 相似文献
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When semi-insulating GaAs samples are coated with pyrolytically deposited Si3N4 layers and subsequently irradiated with a Q-switched ruby laser with energy densities > 0.3 J/cm2, it is found that a thin layer (0.1?0.25 ?m) of the underlying GaAs substrates becomes n-type. This phenomenon may be the reason why, in previous work on laser annealing of donor implanted GaAs samples, the percentage electrical activity increased when samples were coated with Si3N4. 相似文献