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软X射线多层膜元件研究进展 总被引:1,自引:0,他引:1
对各国进行的软X射线多层膜研究所取得的最新成果给出了比较系统全面的评述,首次给出了文献报道的软X射线全波段的各种膜系实测正入射反射率的统计结果。 相似文献
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软X射线波段的光学薄膜 总被引:1,自引:0,他引:1
由于正入射X光光学发展的迫切需要及超精细拋光与超薄多层膜制备技术的成就,适用于软X射线波段的光学薄膜已获得飞速发展并趋于成熟、走向市场。这一波段的光学薄膜具有十分重要面广阔的应用前景,它已成为整个光学薄膜领域中一个令人瞩目的新分支。本文介绍了这些光学薄膜的成膜与监控工艺及对其特性的测试技术,并对我国在这方面的工作进展作一个概要的回顾与展望。 相似文献
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日本松下技术研究所用准分子激光CVD工艺技术实现软X射线聚光用高反射率多层膜反射镜,这种反射镜是在硅基板上由钨(W)和硅(Si)交互沉积的多层膜(W/Si)构成椭圆柱面反射镜(尺寸:55×55mm~2,短半径60mm),(图1).多层膜的各层,在基板纵剖面内的膜厚是不同的.该椭圆形反射镜能把点光源发出的软X射线聚成光束.所发出的两条光线能聚焦成一点. 相似文献
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髟多层反射光学建立了准单色偏振软X射线辐射的脉冲周期激光等郭体源,进行了多层反射镜反射系 和偏振特性的计算。实验结果与计算和会。 相似文献
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正入射软X射线显微成像研究陈星旦曹健林王占山缪同群翁志成(中国科学院长春光学精密机械研究所,长春130022)项目批准号:69088008在国内率先研究了正入射X射线显微成像技术,并获得了优于1μm分辨率的正入射X射线显微成像系统,达到国际同等水平。... 相似文献
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“长波长软X射线多层膜的设计与制备”这篇论文介绍了用离子束溅射法制备长波长软X射线多层膜的研究工作,并报道了一种新的材料组合C/Si用于28.4nm(43. 65eV)和30.4nm(40.78 eV)波段的多层膜反射镜,并且用离子束溅射装置制备了正入 射条件下的C/Si多层膜反射镜.同时,用软X射线反射计测量了样品的反射率,从实验结果看出,制备的多层膜样品在28.4nm和30.4nm波段附近的实测正入射反射率分别达到11.4%和14.3%,实验指标达到了国内领先水平,并接近了国际水平. 相似文献
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测量了用6-15J钕玻璃激光横向泵浦的18.2nm小型软X射线激光器的增益,在此系统中用固体材料壁代替原磁场来限制等离子体,等离子体通过绝热膨胀和中Z离子的辐射来冷却。还设计了一种新的预期能获务交高稳定增益的双靶系统,在此系统中将采用一种新技术对准过程中的小增益。 相似文献
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傅恩生 《激光与光电子学进展》2004,41(9):16-18
用软X射线显微镜证实在2.07nm波长达到20nm空间分辨率,软X射线显微镜据菲涅耳波带片透镜和部分相干照明制成,通过溅射涂多层膜膜和透射电子显微术薄化技术形成的纳米结构测试花样提供清晰实验结果。 相似文献
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介绍了D.G.Sterns的散射方法,用它来描述单个非理想粗糙界面的散射,它适用于软X射线短波段区域.将这种方法应用到多层膜结构,并采用D.G.Sterns方法的数学模型来描述软X射线短波段区域(1~10 nm)多层膜界面粗糙度.在这个理论的框架下,对我们所研制的波长为4.77 nm的Co/C多层膜反射镜界面粗糙度进行分析,估算出该多层镜界面间均方根粗糙度为0.7 nm.粗糙度估算结果与小角X射线衍射的测定结果相一致.(PE13) 相似文献
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本文回顾了目前用于极紫外、软X射线和X射线光学仪器的几项技术的研究进展情况。这些新概念的应用包括:高能等离子体的诊断、多电荷离子束和物质(原子、分子、离子、微结构、表面、固体)相互作用的光谱测量研究和生物医学X射线显微术等。各组件的 相似文献