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降低CGH再现像量化噪声的新方法 总被引:2,自引:0,他引:2
报道了一种降低计算全息图(CGH)再现像量化噪声的一种新方法,它在原有罗曼Ⅲ型计算全息的基础上,在取样点数相同的前提下,利用显示器的固有分辨率,将全图分解成多幅子图作出,再应用图像处理软件重新拼接,从而降低了再现像量化噪声,文中给出了实验结果 相似文献
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液压动态仿真软件DSH的改进 总被引:2,自引:0,他引:2
文章介绍对液压动态仿真软件DSH的改进、包括,应用电子表格软件绘制仿真的曲线以提高绘图质量和功能,汉化总菜单命令及程序模块运行的人机对话框界面,仿真过程实时彩显和分辨率的提高,模型算法的扩充以及用户文件名的规范化等。 相似文献
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针对扫频光源相干层析成像系统(SS-OCT)光谱的非高斯型分布,对采样到的干涉光谱实施了基于汉明窗函数的光谱整形。利用选用的汉明窗整形算法,成功地实现了对样品(镀膜的塑料卡片)上界面层析成像纵向分辨率的提升,使其上界面膜层的分辨率从128.9μm提高至109.4μm。由于更好地压缩纵向扫描(A-scanning)信号的展宽,因此基于汉明窗算法的光谱整形的方法比传统对原始数据直接快速傅里叶变换(FFT),能够实现更高的纵向层析分辨率。基于这个选定的算法,通过光谱整形后,软件呈现了样品的实时结构层析图像。 相似文献
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《世界仪表与自动化》2007,11(5):50-50
中达电通推出一款最大控制轴数可多达8轴的H8系列数控系统,此产品有10.4英寸彩色液晶显示器,采用分体式操作平台。H8通用型开放式的系统架构,内含嵌入式PLC配合LCD编辑软件,可应用于各类产业机械和自动化设备:H8-M铣床型,内含标准的铣床PLC和LCD界面规划,可满足更多的机械设计。 相似文献
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显示器的实时色彩管理 总被引:1,自引:0,他引:1
基于动态影像切换速度快的特点,提出一种可内嵌于显示器中,通过硬件实现的色彩管理方法来提高显示器图像颜色信息的一致性。研究了ICC规范的色彩管理理论,基于三维查找表与插值法,建立了显示器驱动信号值间的非均匀查找表;利用查找表数据,通过三维插值算法实现了显示器的色彩管理,并通过对图像特征的判断完成了自适应渲染功能。在现场可编程门阵列上建立了基于该方法的显示器实时色彩管理系统,利用该系统对两台显示器进行了色彩管理实验。结果表明,在实行色彩管理前后,两台显示器的最大色差/平均色差分别为14.56/5.08与5.4/1.83ΔEuv色差单位;使用自适应渲染功能则较好地保留了原图像的细节信息。该系统可对显示器进行较高精度的色彩管理,且满足高清分辨率动态影像实时性的需求。 相似文献
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介绍了数字显示接口(DVI)链路构成及接收发送电路的基本特性。针对现代雷达光栅显示器要求高分辨显示大量处理后的“二次信息”,同时要求实时显示雷达回波等“一次信息”的特点,提出通过DVI接口将计算机显卡数字化视频信息资源与雷达实时回波信息合成的方案,实现了通用计算机软件硬件平台下雷达信息的高分辨率实时显示。 相似文献
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为了补偿数控机床回转工作台的定位夹紧误差,设计了定位误差检测系统;提出了利用传感器、单片机和数据采集部分等组成检测系统;介绍了定位误差检测系统的工作原理、硬件电路和软件设计流程. 相似文献
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在阐述自动平衡式数字显示仪表工作原理的基础上,详细分析了显示仪表各部分结构参数对系统动态性能的影响,并建立了该系统的数学模型。根据系统动态性能指标的要求,利用软件设计了3种不同的控制器,并利用MAT—LAB语言对该数学模型进行了仿真,最后分析了3种不同控制规律下的系统模型的仿真结果。仿真结果表明:引入速度反馈(PD控制器)的自动平衡式数字显示仪表具有超调量小、调节时间短、软件实现简单等优点,能满足实际应用对自动平衡式数字显示仪表的动态性能要求。 相似文献
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在工业应用软件中常常要对“数字”进行显示,为了使软件看上去更专业,更接近现实设备,可以使用软件仿真LED数码管显示.本文重点介绍了软件仿真LED数码管显示方法,以及如何通过GDI绘图方式实现数字动态显示,并封装成控件,方便软件开发. 相似文献
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针对上海光源X射线吸收精细结构光谱仪对灵敏度和分辨率的要求,研制了三晶体多轴同步辐射X射线荧光光谱仪。其采用一台双晶单色器提供实验X射线,用3块凹面晶体构成系统主体色散结构,并在竖直平面内组成相交的罗兰圆实现荧光分析,可实现10°范围内的布拉格角变化。光谱仪通过高精度控制驱动设备使位移平台实现了3块晶体的4轴联动和总台的2轴联动,其中对位移平台的各轴精度达到了单步长移动25nm,可以实现高分辨率的三维扫描工作。编写了探测器的驱动软件,提高了驱动器的测试灵敏度和分辨率。最后,利用国际通用的实验物理控制系统——EPICS(Experiment Physics and Industrial Control System)完成了整个系统软件的设计,实现了系统各部分的精确控制、自动测量、数据分析和结果显示与存储等功能,构成了一套完整的基于同步辐射光源的高精度高分辨率X射线荧光光谱分析系统。采用钴元素作为测试样品进行了分析实验,结果显示:该光谱仪单次测量时间小于1.5s,测试精度达到0.4eV,分辨率为0.1eV。光谱仪可以完成对样品荧光的采集和分析,操作时间、精度、分辨率和重复性等性能指标均优于现有国内、外设备,目前已成功应用于上海光源XAFS线站的各项科学实验中。 相似文献