数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

信号发生器满足数字RF基带和IF测试需求

作为一项将数字计算技术与传统模拟射频技术整合到一起的技术,"数字RF"是推动新型无线应用发展的主要驱动力.特别是随着数字RF性能不断提高,信号速度和复杂性也在不断提升.因此,突发、跳频和瞬态现象也使验证和调试工作变得非常困难.由于需要在一台设备中融合数字和模拟信号处理技术,如模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)和RF等功能,数字RF的应用也带来了特殊的测试要求.     

无线电话测试设备旧貌换新颜

数字设备处理信息的速度高而且信息量大,需要使用精度较高的测试仪器;数字蜂窝电话机的设计测试与生产测试,在速度、全面性、规模及适应性等方面有所不同;许多电话用户和通信协会,支持无线电话机在销售之前进行单独的标准遵循度测试。     

在电源设计和测试中使用数字示波器的优点

由于功率调节器和控制电路的发展,开关电源变得越来越小,而功率密度已大于每立方英寸一瓦,效率达到90％。 就象许多其他技术发展一样,电源产品生命周期迅速缩短,制造竞争变得更激烈,要战胜对手变得愈加困难。用最新开发的数字示波器能减少测试时间,这里描述了用数字示波器来缩短设计和测试时间的应用。     

数字阵列模块自动测试系统的研究与设计

数字阵列模块是数字阵列雷达的核心组成部分,利用高集成技术将数字收发模块和模拟收发模块封装成一个组件。由于数字阵列模块数量多、通道数目多、测试指标多,对其进行自动测试变得尤为重要。针对数字阵列模块的自动测试给出了系统设计,包括硬件和软件设计。通过应用VC与Lab VIEW动态数据交换技术、VC++多线程技术、UDP数据传输及数据后处理技术,较好地解决了数字阵列模块测试数据量大、难处理的问题。通过对某型雷达数字阵列模块的测试,表明该测试系统达到了很高的测试精度。     

NI模块化仪器把采样率和内存容量提高了两倍

消费者们都希望电子产品的速度更快、功能更强大、易于使用并且更为小型化.测试设备的用户对于仪器厂商也有相同的期望,不仅能扩宽测量的范围,而且能使仪器变得更小巧,速度更快并且易于使用.2003年8月,NI推出了100MS/s的混合信号测试平台,这是一套具有同步和存储结构(Synchronization and Memory Core,SMC)的模拟和数字仪器.它的应用范围包括从Lexmark公司的打印机喷头测试到ABB公司的528 kV防过载放电器的检验,通过这些应用已充分说明该套仪器能让工程师和科学家为电子设计定型并建立生产检验系统.     

现代数字系统故障诊断探索

在高科技领域,系统故障诊断变得越来越重要,文章对现代数字系统故障如何诊断进行．研究。介绍了建立数字系统故障模型,完全检测测试集构成方法,综述了伪穷举测试法、伪随机测试法、内自测试法及特征分析法。笔者认为对数字系统可测试性改善有效方法有：增加控制点和观察点、保留电路中必要冗余项、将计数器和移位寄存器由长变为多个短、划分大的组合电路为若干个子电路。     

电磁兼容进展(上)

EMC设计技术和方法,已成为重要的设计内容.例如数字系统设计,不容置疑,随着时钟速度和数据速率的增加,EMC设计将变得愈来愈重要.     

示波器的用户自定义应用开发

大量的测试测量是电子测量工程师每天都要面对的事情.很多的测试内容具有很强的重复性.使工程师疲于测试和文档工作.在这样的背景下,自动化测试变得更重要,对工程师的要求更高.本文主要涉及数字实时示波器的自动化测量方案以及相应的自动化测试开发平台.     

全面的实时测试和调试解决方案让您从容应对设计挑战

高速数字系统的设计挑战随着嵌入式技术的发展,数字系统设计要求的速度越来越快,特别是在信号调试方面需要的速度更高。高速串行系统调试使工程师需要面临最重要的环节就是信号完整性测试。信号完整性是数字信号和模拟信号在传输的过程中没有任何的损耗,即传统意义上的一致性测试。对任何电路来说,即使只有一个放大器,也会涉及到信号完整性问题,特别是在高速情况下,外界因素的影响、逻     

测试设备探头性能分析与应用

如果用户电子设备在技术上变得愈先进，为了维修它就需要愈加高级的测试设备。示波器正在提供更宽的带宽、数字存储能力和其它先进的特点。像逻辑分析器和频率计数器这样的其它类型的测试和诊断设备在诊断过程中越来越重要。     

数字系统电平敏感扫描设计研究

在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要。要提高数字系统的可测性,就需要设计人员在设计系统的同时考虑到测试的要求,目前常采用的方法是结构设计。电平敏感扫描设计在结构设计中使用较为普遍,针对电平敏感扫描设计法进行了研究。     

通向快速数字化测试的解决方案——泰克实时频谱分析仪及其在RFID测试中的应用

为了更好地推进各类数字RF应用的测试工作,泰克公司举行新闻发布会,推出了AWG5000任意波形发生器。最新的AWG5000可以满足客户的需求,提高了测试效率,降低了测试成本,为各类数字RF技术的验证提供了理想的选择。泰克公司推出的超高性能DSA70000系列实时频谱分析仪和业界速度最高的多功能探头P7500,构成了新一代高速串行数据测试平台的核心。这样,数字新世界的研发工程师们将拥有更快解决难题、加速将创新推向市场的能力。泰克公司还致力于RFID测试需求的研究,将实时频谱分析仪应用于RFID测试,为RFID测试人员提供了非常方便的测试手段。     

混合信号测试解决方案

简介 当前电子产品的复杂性正随着数字电路和串行总线越来越多而提高,确定最优测试设备的边界正变得模糊.工程师正在处理"混合信号"设计,其中包含模拟技术和数字技术的重要组合.     

软件设计仪器为射频测试技术带来革新

随着无线通信技术的发展,通信标准的演进速度在加快,新一代产品中往往同时集成多种通信协议,使得射频设备变得更加复杂,另外,产品上市时间不断缩短,这些都为射频测试技术带来了新的挑战。传统的射频测试设备正在备受成本、灵活性、测试速度方面的困扰,而基于软件定义和模块化I/O相结合的新型射频测试设备正在得到越来越多工程师的青睐,向更多射频测试应用中扩展。前不久,NI公司推出了一款软件定义和模块化I/O相结合的新型仪器——射频矢量信号收发仪     

R■数字锁相接收机

在连续波多侧音体制的距离、距离变化率测量系统中。采用数字锁相接收机,可直接估算飞行目标的距离和速度值。接收机体制的变化使接收机调正简便,工作可靠,同时系统得到简化,精度得到提高。本文重点介绍了数字锁相环、数字锁相接收机的数学模型,以及模型的数字实现和指标测试结果。     

基于ASIC的直接数字频率合成器前端设计与实现

对基于ASIC设计流程的直接数字频率合成器(DDS)进行系统架构以及模块划分和算法分析;利用Verilog HDL进行RTL级功能仿真与测试平台的编写;完成模块中所有数字部分的设计、仿真,直至综合优化和时序分析的全过程.为满足高频率和低抖动的要求,需要反复综合,并充分考虑速度和面积等方面的影响;最后,对采用DDS实现数字调制进行了功能仿真与测试.     

穿戴科技，让衣服更聪明

不论是smartphone还是smarthome，一切与我们生活相关的事物都变得越来越聪明。当一切都在与数字沾边时，可能反而忘了与我们最贴近的衣服正在远离数字时代。在过去的两年中，衣服的材质有了很大的进步，比如为提高速度的鲨鱼皮泳衣，和各种透气、排汗性能出色的织物。     

风河软件测试自动化方案为嵌入式系统开发提速

随着技术的发展与应用的深入,嵌入式系统正在变得越来越复杂,由于不断有新功能被用于嵌入式系统,这使得整个系统的软件开发业变得更为困难。传统的在封闭环境中进行的one-time测试模式已经不再适合于新的设备软件系统。此外,产品上市速度的竞争压力逐渐 加大，     

CPLD测试方法研究

CPLD是集成电路中最常用的器件之一,CPLD的工艺不断改进,使得它的集成度和工作速度也在不断增加。因此,对于CPLD的测试变得越来越重要。本文在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于＂分治法＂的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究,并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试。