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532nm全固化激光器碘吸收频率稳定的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
用激光二极管(简称LD)作为抽运光源,Nd:YAG和Nd:YVO4晶体作为激光工作物质,KTP晶体作为倍频晶体,获得了532nm的单频绿光输出。两者的功率分别为2—3mW和5—6mW。将绿光单次通过碘吸收室时,经过控制和调谐激光频率,已检测到碘的多普勒加宽吸收谱线,谱线宽度约为800MHz。在激光器的压电陶瓷(PZT)上,加上交流调制信号和直流扫描电压,通过信号检测、相敏检波、积分和高压放大等伺服回路,实现了在多普勒曲线中心处的频率稳定。 相似文献
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1997年7月,在北京中国计量科学研究院进行了由国际计量局组织的碘稳频633nmHe-Ne激光波长基准的多边国际比对,进行了频率稳定度、频差及相应的压力位移、功率位移和调制位移测量实验。测量工作以BIPMP3激光器为参考,最后给出以BIPM4激光器为基准的最终测量结果。 相似文献
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532 nm Nd:YVO4/KTP激光器的I2分子吸收谱线的观测及频率稳定的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
激光二极管抽运的固体激光器可用于光学计量,长度测量,相干光通信,激光雷达等方面,高精度应用要求激光器的频率稳定。碘分子在532nm附近在上百条强的吸收谱线,采用单频Nd;YVO4/KTP激光对碘的一些吸收谱线作了观测,并进行了激光频率稳定的研究,这些吸收谱线是1997年9月国际米定义咨询委员会推荐作为频标的9组532nm碘吸收谱线之外的新的参考谱线。 相似文献
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一切测量结果都不可避免地具有不确定度。因此测得值只能在一定程度上近似它的真值。根据不同的测量参数和测量不确定度要求,选择不同的测量方法。在很大程度上,测量方法决定了测量标准的选择。在测量过程中,除测量方法、测量标准影响外,还有如下主要因素影响长度测量结果的不确定度。 相似文献
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<正>一、石油螺纹参量基准通过石油螺纹参量基准技术改造项目,对石油螺纹参量基准的设备进行了升级,提升了工作效率和可靠性。引进了螺纹扫描测量仪,具备了小尺寸螺纹量规的测量能力,为国内 相似文献
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我们测量了~(127)I_2稳定的633nm氦氖激光的频移和谱线宽度,测量结果说明了它们与碘压、调制幅度和激光输出功率之间的依赖关系。谱线宽度是用三次谐波锁定技术测量的。频率依赖于碘压和调制幅度的关系与其他研究所的结果相类似。各台激光器的功率位移系数不同。当两台激光器的谱线宽度接近相等时,它们之间的频率在±5kHz以内。在上述实验条件下的碘压为17.3Pa,调制幅度为6MHz。文中对实验结果进行了分析和讨论。 相似文献
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长度单位“米”已重新加以定义,它是建立在光速为常数值的基础上,如何按新定义的要求,以基准的实际形式作复现是极为重要的。本文阐述我国所进行的有关研究及取得的成果包括对多波长稳频激光器的描述、碘稳频激光的国际比对,测量基准量块和线纹尺的干涉仪及以它们测量出的量值与国际比对结果。 相似文献
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阐述了2 m激光干涉测长基准装置工作原理及系统组成,以线间距测量功能为基础,研究了接触式和非接触式的几何测长对准方法,实现了其测长功能拓展应用。介绍了实现纳米精度测长的技术措施。对称布局的双光电显微镜同步扫描测量接长的方式实现2 m刻线间距测量,信号处理系统具有标准间距位置脉冲发生功能,可以实现位移传感器动态触发校准和其它应用。对于高质量的线纹尺,2 m激光干涉测长基准装置单次测量刻线间距的最佳瞄准精度优于10 nm(1σ),1 m测量范围内的线纹测量不确定度U=(20+40 L) nm (k=2)。 相似文献
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探测系统噪声对激光束束宽测量的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
讨论了由于探测系统噪声原存在,对目前广泛采用的二阶矩束宽定义的激光束空域参数测量系统的影响,并给出实际测量系统设计时减少噪声影响的方法。 相似文献
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在确定的函数关系(数学模型)中,因变量(输出量)随自变量(输入量)的变化规律完全由数学逻辑所确定,自变量到因变量的传递系数(灵敏系数)也可由因变量的标准差和自变量的标准差之比所决定,而与自变量的来历(测量的或者给定的)没有关系[1].本文根据这一基本原理,采用模拟自变量随机变化的方法,成功计算了手持式激光测距仪的测距固定偏差和比例偏差系数的测量不确定度,从而计算出测距标准差综合评定的扩展不确定度,同时解决了复杂的数学模型中多个输入量到输出量的灵敏系数和输出量的不确定度的计算问题. 相似文献
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Simulation and investigation of the effect of an isolated jump on realization of the unit of power of laser radiation and dissemination of the size of the unit are considered. Results are obtained by means of a newly developed algorithm that characterizes the behavior of the mean value of a signal and the standard deviation of a system as functions of the parameters of a jump in the power of laser radiation and the length and amplitude of the jump. If information concerning the time when a jump occurs is available, the proposed algorithm makes it possible to take into account how a jump affects the ultimate result of a measurement. 相似文献