可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

微波组件产品高加速寿命试验综述

微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素.高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性.因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义.     

一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间（FT50）评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。     

加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

地面设备的可靠性加速试验方法研究

为了缩短可靠性鉴定试验周期、降低经费,对地面设备可靠性加速试验的方法开展了研究。根据地面设备的实际使用特点,依据GJB 899A—2009确定相应的可靠性鉴定试验剖面。参考国内外加速试验标准,基于疲劳累积损伤理论,运用阿伦尼斯模型、逆幂率模型等对可靠性常规试验应力进行加速,给出了加速因子计算方法,得到了加速条件下的等效...     

电子产品高加速寿命试验的实践及案例分析

为了快速地暴露产品的薄弱环节,在高加速寿命试验（HALT）过程中会施加远超过产品规定极限的应力,也就是说高加速寿命试验属于“过试验”,其结果存在不确定性。最好的情况是在短时间内激发出在预期应用环境下长期使用时可能出现的故障模式,凸显其对提高产品可靠性的不可替代的作用。最坏的情况是激发出较多的非关联故障模式,分析处置这些故障耗时费力,影响进度,而且对这样的故障模式进行改进将造成产品“过设计”,对提高可靠性无实际意义。HALT的不确定性在于其效果在很大程度上取决于试验团队所具备的经验、历史数据和对实施细节的考虑。根据实际工作经验,详细地分析了HALT试验准备、试验实施、故障分析和产品改进的过程和方法,分享了实际案例,具有工程参考价值。     

基于Duane模型的加速可靠性增长试验研究

本文采用加速因子和Duane模型对产品的加速可靠性增长试验进行了定量评估,并通过典型应用案例对评估方法进行了验证。加速可靠性增长试验是一种采用较产品正常使用状态下所经受的更加严酷的试验条件,通过在有限时间内搜集更多产品寿命与可靠性信息,提高产品可靠性的内场试验方法。加速可靠性增长试验既能节省时间与经费,又能用合理而科学的方法评定经此试验后设备的可靠性,规范的可靠性增长试验甚至能够代替可靠性鉴定试验。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选（HALT＆HASS）技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

大功率LED排式热管散热器的开发及性能研究

开发了一种应用于大功率LED散热的排式热管散热器。在大空间自然对流冷却环境中,分别在0°、30°、60°、90°放置条件下对其启动性能、均温特性、散热性能进行了试验研究。试验结果表明:散热器启动性能良好,启动时间约为67min;在输入功率为30～70W的范围内,热源表面中心点温度不超过75℃;各倾角下散热器均具有较低的总热阻及扩散热阻,0°放置时总热阻最小。基于试验所得结果,通过计算LED结温论证了排式热管散热器在各倾角条件下均可满足热输出70W以下大功率LED散热的需求。     

具有电压检测功能的大功率设备软启动器设计

基于限制大功率设备启动时冲击电流的幅值、完善软启动器的各种功能、提高工作可靠性等目的,本轮文设计的软启动器利用运算放大器构成电压比较、运行自锁、延时等环节,通过采样整流滤波电容端电压的变化,实现交流输入电压检测、软启动电流切换、内部逻辑控制等功能,在不同的输入电压范围内,也能限制跃变电压的幅值,保证了软启动器工作的可靠性。该软启动器具有结构简单、动作可靠等优点,可广泛应用于电源输入端需进行AC/DC变换的大功率设备。     

S波段大功率GaAs PHEMT单片放大器

GaAs单片集成电路具有体积小、质量轻和可靠性高等特性,已经成为微波领域重要的器件。采用MBE技术生长出双面掺杂AlGaAs/InGaAs PHEMT结构的外延材料,研制了高效率的GaAs PHEMT器件,S波段功率附加效率大于55%。建立了基于EEHEMT的大信号模型,利用ADS软件搭建了有耗匹配的二级放大电路拓扑结构,进行最佳效率匹配,得到优化电路。采用4英寸(1英寸=2.54cm)GaAs0.35μm标准工艺研制了AlGaAs/InGaAs/GaAsPHEMT MMIC电路,测试结果表明,在测试频率为2.2~3.4GHz,测试电压VDS为10V时,输出功率大于12W,功率增益大于22dB,功率附加效率大于40%。     

可靠性强化试验在高可靠产品中的应用探讨

简要介绍了可靠性强化试验的概念及基本原理.以某型机载激光捷联惯导电子部件的可靠性强化试验为例,阐述了可靠性强化试验的全过程及有关的试验方法,在此基础上为机载高可靠产品可靠性保障提供了一个新的试验手段.     

高可靠元器件的使用环境、试验条件和失效机理

为了对高可靠元器件进行可靠性试验提供设计依据,对包括航天、军事和汽车等在内的高可靠应用领域中的典型环境条件和要求进行了研究.这些环境条件包括高低温、温度循环、湿度、振动以及辐射等.总结了应用于高可靠领域的电子元器件的实验条件和相关标准,分析了高可靠应用环境条件对电子元器件失效的影响及其失效机理.     

高功率光纤耦合半导体激光器在连续和脉冲高功率光纤激光器中的应用

阐述了高功率光纤耦合半导体激光器在连续和脉冲光纤激光器中的应用。通过实验研究,得到了输出功率30 w的1 060 nm的连续光纤激光输出和20 kW的脉冲峰值功率输出。     

一款高精度低电流的两级高电压电源调整电路

提出了一种改进的高输入电压调整电路结构,该电路结构在TSMC 0.25 μm BCD工艺平台进行验证.电路包括两个参考电压模块、两级调整电路和一个关断信号产生模块.介绍了初级电压调整和精确电压调整电路,可以产生稳定精确的输出电压,同时也提高了低输入电源电压时的输出电流能力.通过两级电源调整电路可以实现软启动功能,减小启动浪涌电压,提高启动性能.此外,关断模块产生可以可靠关闭高压模块和低压模块的两种控制信号,使得在待机模式下高压直流转换系统仅消耗极低的待机电流.该电路结构的输入电压可以在2.5～45 V宽幅范围内变化.在待机模式下,高压直流转换系统的待机电流最低仅300 nA,电源调整电路可以输出最高60 mA的负载电流.     

高密度化高性能化PCB的最新技术动向

概述了包括材料、生产技术和可靠性等的高密度化高性能化PCB的最新技术动向。     

密封胶粘剂在高可靠微电子封装中的应用

阐述了高可靠微电子封装对密封胶粘剂的性能要求.通过试验优选出一种能实现高可靠、高气密粘接封帽的环氧树脂胶粘剂,用该胶粘剂封帽的外壳通过了严苛的可靠性考核.详细介绍了胶粘封帽工艺过程,并对影响封帽质量及可靠性的因素进行了探讨.     

Xilinx低等级FPGA高可靠应用的升级试验方法研究

随着微电子设计与制造水平的不断提高,部分低质量等级集成电路逐渐地具备了应用于高可靠性要求的军事和宇航领域的能力。Xilinx FPGA作为高性能逻辑器件的典型代表,具有较高的设计和工艺成熟度,在军事和宇航领域有着广阔的应用前景。全面梳理了Xilinx FPGA质量等级的定义规则,详细介绍了Xilinx不同质量等级FPGA的厂家保证情况,提出了Xilinx低质量等级FPGA面向高可靠应用的升级试验方法。