LCR微机自动测试系统

本文介绍了采用ＰＣ机和ＩＥＥＥ－４８８总线的ＬＣＲ微机自动测试系统，该系统具有使测试快速而准确的优点     

LCR微机自动测试系统

本文介绍了采用ＰＣ机ＩＥＥＥ－４８８总线的ＬＣＲ微机自动测试系统，该系统具有测试快速而准确的优点。     

新型市内通信电缆自动测试系统

简要介绍一种新型市内通信电缆自动测试系统，使用ＩＥＥ４８８接口技术将计算机与测试仪表相联，同时程控电缆转换架测试电缆各种电气参数，最后自动进行数据处理，生成测试报告和检验报告。     

微波信号发生器自动测试校准系统

介绍了微波信号姓器的自动测试校准方法和实现系统。应用IEEE488总线接口可以很方便地进行系统组合,实现功能扩展;采用VB语言进行开放式结构设计,界面直观,通用性强,使用方便。     

一种大电流高速PIN驱动器的设计与实现

介绍了一种大电流高速驱动器.该驱动器包含输入差分比较电路、内部基准电路、倒相缓冲电路、输出功放电路,其主要功能是对输入的TTL信号进行转换,输出+5 V/-15 V信号;通过改变外部引脚的连接方式,可得到同相或反相输出,使用方便灵活.电路采用双极对通隔离工艺技术制造.电路输出具有150 mA的驱动能力,上升、下降时间小于30 ns,延迟时间小于50 ns,主要用于驱动PIN开关管.     

基于IEEE488标准接口的自动测试系统

介绍了一种并行的与仪器相接的标准接口—IEEE488标准接口;论述了如何利用通用的智能仪器构建一个自动测试系统,阐述了仪器软面板的设计规范,分析了传统自动测试系统软件存在的缺点,提出了一个全新的编程思路即测试程序与测试流程数据库相联系的自动测试软件框架。     

仪表自动测试系统研究与实现

介绍了现有的仪表控制技术GPIB总线技术,并基于此技术开发出一个实用的测试系统,对将来测试系统的发展方向进行了预测。     

环境试验自动测试系统

分析了目前通信和测控系统装备进行环境试验测试的现状和需求。针对环境试验对自动测试的需求,给出了一种基于通用测试接口GPIB和VISA编程规范的由台式仪器搭建的环境试验自动测试系统(ATS)。介绍了系统原理和架构、软件功能及工作流程,系统的实用性已经在使用中得到了验证。总结了该系统的特点,分析了自动测试系统的发展趋势。     

信标机自动测试系统的研制

详细介绍了利用由计算机、GPIB接口、通用测试仪器和测试软件等组成的“虚拟仪器”测试系统来实现对信标机性能指标 (工作频率、频谱纯度、输出功率等 )的自动测试。     

模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元

模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能：一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI（加电压测电流）功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV（加电流测电压）功能。     

模拟集成电路直流参数测试系统的研制

文章介绍了自动测试系统的原理与内部模块之间的工作过程及系统的总体结构。懈决了精确测量单元等关键技术．研制了一种通用性强,成本低．性能可靠的自动测试系统。经过实验与生产应用,所研制的测试系统适合于半导体行业的实际生产需要,具有比较高应用价值。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

车载多波束发射机自动测试系统的设计与开发

针对车载多波束发射机技术参数的测量,设计了一种计算机控制、基于通用接口总线(GPIB)接口的自动测试系统,论述了测试系统的工作原理及设计方案。结果表明该自动测试系统可以自动测试车载多波束发射机的技术参数。     

IC测试系统精密定时器的新结构

讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构.该结构将定时计数器分为高速和低速两部分,低速部分采用存储器代替分散的寄存器,既有利于集成,又降低了系统的成本.同时,新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题.     

浅谈两台IC分选机并行测试方法

随着半导体行业测试技术不断提高,IC分选机技术不断升级,昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备,充分利用设备资源,降低测试成本,提高测试效率,是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明,详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理,以及实际工作中的一些注意事项,避免出现质量事故,并通过试验说明并行测试的优越性。     

ATS（自动测试系统）中系统不确定度的处理

介绍了自动测试系统中系统不确定度的基本概念、组成和来源。为了消除系统不确定度对测试结果的影响,结合实际综合自动测试系统的硬件平台和软件平台,提出并实现了自动测试系统中的系统不确定度的两种处理方法。实践证明,这两种处理方法在工程实践中取得了较好的效果。     

乒乓模式在IC量产测试中的应用

随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。     

集成电路测试系统延迟线性能分析

延迟线是集成电路测试系统的关键部件。本文介绍了模拟式延迟线的性能和原理，分析了模拟式延迟线由于干扰。温漂等因素的影响。定时分辨率很高但定时精度难以提高的情况。最后指出延迟线的集成是大劳所趋。立足CMOS工艺的数字延迟线必将成为未来测试系统集成化的发展方向。