激光拉曼分光计中杂散光的测试方法

本文叙述了激光拉曼分光计中杂散光的测试方法及获得杂散光“廓线”的步骤。在测试中考虑到激光拉曼分光计的特性和使测试结果与仪器实际运转情形相符,以便求得激光拉曼分光计实际降低杂散光的程度。为了使实验结果正确,文中还指出应注意事项。对激光拉曼分光计中影响杂散光的因素及测试杂散光的条件进行了研究,实验结果也发表于此。     

激光Raman分光计中杂散光测试方法间定量关系的实验研究

本文以ＳＤＨＲ一１０００型全息凹面光栅双单色仪为例，从实验上分析了激光Ｒａｍａｎ分光计中杂散光测试的３种方法间的定量关系，并讨论了３种测试方法的特点与应用场合等问题，提出了几点看法与建议。     

测量激光喇曼分光计杂散光的几点考虑

本文对激光喇曼分光计杂散光的测试方法提出了几点考虑。为了使测量结果正确地反映出仪器本身的性能,讨论了测试用的激光光源、光的入射方式、光强衰减方法和微弱光讯号检测等方面应注意的几个问题,并给出了相应的实验结果。     

平面衍射光栅分辨率、杂散光测试仪的设计

文章简要说明了测定衍射光栅分辨率、杂散光的意义和测定分辨率、杂散光的方法。从光学系统的象差考虑，确定了测试仪器的总体布局；计算了仪器主体光学系统的若干参数，给出了仪器的技术指标。     

CXZ杂散光测试仪

本文介绍的CXZ杂散光测试仪,是一种专用测试仪器,根据黑斑法原理来测定望远镜杂散光及透过率,并对经纬仪杂光测试提出新的测试方法,通过实测试验,本仪器杂光测试重复误差可达0.5％,透过率测试重复误差达2％。同时,仪器也可用于照相物镜的杂光及分光透过率的测试。     

高性能紫外分光光度计杂散光的测定

杂散光是光谱仪器的误差源之一.在紫外可见分光光度测试中,若在测试波长处的杂散光为0.1%,试样的吸收度为1A(即透光度为10%T),受杂散光的影响,透光度变为10.1%(即A=0.9957),引进了0.43%的误差.若杂散光为1%,则误差增至4.1%,所以杂散光的影响是不容忽视的.     

杂散光对分光光度计测量准确性的影响

杂散光是衡量分光光度计性能的重要参数之一.杂散光的大小对于分光光度计测量结果有很大的影响.现就杂散光这一项目对仪器测量结果准确性的影响予以说明。     

一种色散相减型凹面全息光栅双单色仪

叙述了一种色散相减型凹面全息光栅双单色仪的结构原理、主要性能和仪器重要技术指标,进行了杂散光的测试;介绍了该仪器的实际应用。     

一种色散相减型凹面全息光栅双单色仪

叙述了一种色散相减型凹面全息光栅双单色仪的结构原理、主要性能和仪器重要技术指标,进行了杂散光的测试;介绍了该仪器的实际应用。     

机载激光通信系统的杂散光分析

在自由空间激光通信系统中,常采用通信及信标发射接收共用同一系统的方式,内部发射激光若不能很好的抑制、外部杂散光的干扰都能在整个系统中通信,接收探测器以及信标接收探测器像面上将产生杂散光的影响.本文针对机载激光通信系统进行了杂散光的分析及软件仿真,仿真结果表明系统光学和机械结构设计有效地抑制了内部和外部杂散光.     

分光光度计灵敏度、杂散光的测定

本文介绍一种测定分光光度计灵敏度、杂散光指标的方法,从这种测定方法中得出的原始数据,可以鉴定分光光度计性能的优劣。     

白光日冕仪光学系统杂散光抑制

“夸父计划”是由“L1+极轨”的三颗卫星组成的一个空间观测系统，夸父A星中一个重要的仪器是白光日冕仪(2.5 R⊙ -15 R⊙ )，并且在我国是首次研制。日冕仪的工作特点决定了其对杂散光抑制要求及其严格。本文通过分析系统工作特点，设计了白光日冕仪，系统视场4度、角分辨率14角秒、口径30mm、焦距200mm、系统总长1080mm、其中光学系统370mm，37pl/mm的MTF值大于0.5；根据其杂散光抑制的结构特点，利用多个光阑互相共轭的空间位置关系，系统的四个主要杂散光光源从结构上被全部抑制，从而达到了良好的杂光抑制水平。     

白光日冕仪光学系统的杂散光抑制

为满足日冕仪对杂散光抑制的苛刻要求,通过分析日冕仪的工作原理和结构特点,设计了白光日冕仪光学系统,系统观测范围为2.5～15 R⊙,角分辨率为14″,口径为30 mm,焦距为200 mm,系统总长为1 080 mm;其中光学系统长370 mm,37 pl/mm的MTF值＞0.5.分析了直射太阳光、太阳光在外掩体D1边缘的衍射光、视场光阑A1边缘的衍射光、以及物镜组O1各表面多次反射带来的系统杂散光的特点,利用多个光阑互相共轭的空间位置关系,设计了相应的杂散光抑制结构,从而完全抑制了系统的4个主要杂散光光源产生的杂散光,使系统整体杂散光抑制水平达到10-8～10-10 B⊙,满足了日冕仪光学系统对杂散光抑制的要求.     

光学系统中杂光分析

光学系统的杂散光极易在系统内形成多个鬼像 ,这不仅严重影响光束质量和传输特性 ,并可能对系统光学元件造成永久性损伤。提出了一种基于光线追迹基础的分析光学系统杂光影响的有效方法 ,建立适合各类光学系统杂散光及鬼像分析的数理模型。编制了专门的杂散光分析软件 ,通过计算机光路模拟 ,对光学系统中的鬼光束进行全面、系统分析 ,可得出系统鬼像及关键元件处的能量密度 ,从而在光学系统设计阶段排除鬼像的潜在危害     

紫外平面刻划光栅杂散光数值分析及测量方法

杂散光是光栅的重要技术指标,它直接影响光栅的信噪比,尤其紫外波段的杂散光对光谱分析更为不利。为了考察平面刻划光栅在光谱仪器中使用时产生的杂散光,采用基于传统Fresnel-Kirchhoff衍射方程导出的杂散光相对强度表达式,数值分析了杂散光产生的原因。数值模拟结果表明,紫外平面刻划光栅刻槽周期随机误差以及刻槽深度随机误差是杂散光的主要来源,而光栅杂散光对光栅表面小尺度随机粗糙度并不敏感。另外,提出了平面光栅光谱仪出射狭缝相对宽度的概念,并数值分析了仪器出射狭缝高度及出射狭缝相对宽度与杂散光强度的关系。此理论分析方法分别为如何在光栅制作工艺中从根源上降低光栅杂散光以及在光栅应用过程中从使用方法上降低光栅杂散光提供了理论参考依据。最后,为了与采用滤光片法测得的光栅杂散光实验值进行比较,给出了理论求解杂散光总强度的求和公式,并对四个不同波长的杂散光进行了多次测量,使理论值和实验值的相对误差控制在13%左右。     

紫外平面刻划光栅杂散光数值分析及测试

杂散光是光栅的重要技术指标,它直接影响光栅的信噪比,紫外波段的杂散光对光谱分析尤为不利.为了考察平面刻划光栅用于光谱仪器时产生的杂散光,采用标量衍射理论数值分析了杂散光产生的原因.数值模拟结果表明,紫外平面刻划光栅刻槽周期随机误差以及刻槽深度随机误差是杂散光的主要来源,而光栅杂散光对光栅表面小尺度随机粗糙度并不敏感.提出了平面光栅光谱仪出射狭缝相对宽度的概念,数值分析了仪器出射狭缝高度及出射狭缝相对宽度与杂散光强度的关系,从而分别为在光栅制作工艺中从根源上降低光栅杂散光以及在光栅应用过程中从使用方法上降低光栅杂散光提供了理论依据.最后,为了与采用滤光片法测得的光栅杂散光实验值进行比较,给出了理论求解杂散光总强度的求和公式,并对4个不同波长的杂散光进行了多次测量.结果表明,当刻槽周期随机误差、刻槽深度随机误差和表面随机粗糙度分别取0.8 nm、 0.5 nm和1.2 nm时,理论值和实验值的相对误差可控制在13%左右.     

空间相机消杂光设计及仿真

空间相机中的杂光会引起像质的模糊和对比度的下降。在对像质要求较高,或被探测的光能量本身就很微弱的场合,必须对杂散光进行消除。本文研究的空间相机基于同轴三反系统,消杂光机构主要由内外镜筒、视场光阑、里奥光阑和挡光板组成。在内外镜筒的设计中参考了卡塞格林系统的设计方法并利用CAD建模进行辅助设计。为了对消杂光效果进行评价,介绍了基于计算机随机光线Mento-Carlo仿真方法。解释了对表面的散射特性进行描述的双向散射模型、关键面的选取和模型的建立。利用计算机分析得到了空间相机的杂光系数和点源透射比的曲线,子午方向+10°入射杂光在像面造成的杂光系数在0.35％以下,0°~20°范围非成像视场点源透射比在10-6量级,该结果可做为进一步优化设计的参考依据。     

用于高精度卫星姿态测量的大相对孔径 高杂光抑制比星敏感器光学设计

星敏感器是卫星高精度空间姿态测量与飞行控制的关键仪器。 针对低阈值星等、大视场等特殊需求,设计了焦距 55 mm,相对孔径 1 / 1. 1,视场角 17°×17°的星敏感器光学系统。 基于无热玻璃图方法,通过光学玻璃材料与机械结构材料的 温度特性匹配优化,实现了光学被动式无热化设计。 完成两级遮光罩与挡光环的消杂光结构设计,利用非序列光线追迹完 成视场内成像光线鬼像分布与视场外杂散光仿真分析与计算。 结果表明,星敏感器光学系统各视场弥散斑半径 RMS 小于 4. 5 μm,2×2 像元内能量集中度≥96% ,-35℃ ~ 45℃ 大温差下各视场的 MTF 在截止频率处均大于 0. 6,畸变优于 0. 05% 。 45°规避角外杂光 PST 达到 10 -8 量级,像面处各阶鬼像光斑半径均大于 0. 8 mm。 星敏感器光学成像质量与杂光抑制满足高 精度姿态测量要求。     

衍射光学元件杂散光分析的数据结构及鬼像分析

当光学系统中存在衍射元件时,特别是高功率激光光学系统中,由于多级衍射和多次反射的存在,因此系统中将会产生危害性的杂散光和鬼像。提出了一种用于衍射光学元件杂散光分析的树形数据结构,树的每一个结点描述了系统中两个表面之间传输的光束参数,并且根据光路计算结果,动态地开辟内存空间存放杂散光和鬼像的位置、能量等数据。对含1个衍射面和7个常规面的光学系统作了实例计算,表明用这种数据结构可以全面分析系统中的杂散光,给出鬼像位置和估计鬼像能量。当取最高反射次数为4次,衍射级为0到±5级时,运行时间在1s以内,成功地分析了该红外光学系统的鬼像。     

4J32镜头组件电化学方法消除杂散光的实验研究.doc

为消除光学系统镜头组件中杂散光以成像的影响,采用电化学方法对4J32合金进行处理,降低表面反射率,实现了消光处理。利用正交实验法研究了在重铬酸盐体系中主盐浓度、电压、电解液温度、时间等因素对镜头组件的消杂光性能的影响,并确定了最佳方法。结果表明,处理后零件尺寸改变极小,反射率降低较明显,所得到的4J32合金呈黑色、光亮美观,具有优良的附着力和消除杂散光能力。