质谱学报第13卷总目录(1992年)

文肠 同位素质谱用热表面电离质谱法测量高电离电位元素锑同位素丰度同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中”Sm和’sosm含量Lead IsotoPe Analysis by Mass SPee-trometry and Its Applieation in Ar-ehaeometry避开衫干扰的钱同位素质谱分析石油稳定同位素地球化学新进展IDMS分析中化学处理特点及空白消除方法同位素稀释质谱(I DMS)文献介绍(1989ee1991)1.同位素稀释质谱(IDMS)文献介绍(1989~1991)1. 无机质谱离子注入样品的二次离子质谱(S IMS)定量分析粉末样品中某些杂质元素的同位素稀释二次离子质谱定量分析方法的研究…     

质谱学报第八卷总目录

作者期页丹O﹄111月任一﹄月了户勺OD7‘njt勺J上JI 3 22孟宪厚、黄达峰、李铁球孟宪厚孟宪厚傅淑纯、刘永福富云莲刘泽银蔡炳湖彭运生高仁祥3、474 114 194 26八Ul勺n舀丹O游俊富弓长心祥、王美雁21 49 5312 2 2 no 文题 同位亲质讼同位素稀释质谱法测定水和铀化合物中痕量硼热电离同位素稀释质谱法文献(1973~1984班)热电离同位素稀释质谱法文献(1973、1984互)镁和礼混合同位素质谱分析 4“Ar/“gAr快中子活化年龄测定法的数据处理程 序关于eoZ一H20平衡法d’“o计算的探讨制样历程对质谱计测量结果的影响质谱法测定植物和土壤中稳定…     

~(38)Ar同位素稀释技术中稀释系数与测定误差关系的探讨

本文讨论当~(38)Ar稀释量已知时,用改变样品重量的方法改变稀释系数(φ=~(38)Ar/~(40)Ar),用不同样品量测定标样黑云母ZBH-25的K-Ar年龄。实验结果表明,~(40)Ar的测定误差与稀释系数无关。这一结论是与同位素稀释质谱法的误差理论一致的。因此,在实验中样品量的选取以能精确测定~(40)Ar为准。     

质谱学杂志第六卷总目录

文肠同位素质诺电磁浓缩同位素摘的质谱研究生物样品‘“C的转化和质谱分析技术““Ar同位素稀释技术中稀释系数与测定误差关系的探讨高丰度氮同位素的质谱分析用于微量锉同位素丰度比测定的增锅一热电离法钦同位素质谱分析数据处理的探讨精确测定同位素比方法的探讨无机质讼煤灰降尘的火花源质谱定量分析作者(期)页车宗伶赫崇岩、赵玉珍、王庆、高金方(l)19(2)21富云莲刘琦、邓中国张子斌、郝明理、赵焕珍、 陶德忠李杰元莫志超(3)l(3)7(4)11(4)21(4)33火花源质谱法分析绝缘晶体郭家珍、 马树钦隋喜云、顾培、玉永安、金万逸、(1)14羞兆权…     

质谱学杂志 第一卷——第五卷(1980～1984)总目录

总目录文肠作者卷(期)页,年同位亲质讼法单带热电离的一个离子发射模型精测氢同位素比值的新型质谱计同位素稀释质谱法的误差问题微量分析的有力手段—同位素稀释质谱法盐湖水中鲤同位素丰度比值的质谱法测定质谱法测定地下水中He/Ar,NZ/A:比值及 共在地震监测中的应用应用稳定性同位素’SN研究冬小麦的氮肥效 应铀同位素丰度的精确测定刘炳寰洪阿实、邱纯一孟宪厚肯应凯、邱纯一、朱腾王蕴蕙、孔令昌、曹海霞霍盛华1(1)9,19802(1)61,19812(2)1,19812(2)10,19813(2)40,19824(1)3,1983陈佑良、4(l)11,1953游文采、4(1)29,1983质谱分析铀和…     

氦弧焊接在LZD—201型质谱计上的试验研究

1.前言LZD-201型静态真空质谱计是地质年代学工作者用来进行K/Ar同位素稀释法和~(39)Ar/~(40)Ar法研究的专用仪器。为提高质谱仪器分析微量和超微量样品的精度,要求仪器达到很高的静态真空度和很低的氩同位素本底。这些严格的技术要求,在本仪器的制造过程中是靠精密加工、合理的清洗方法和先进的氦弧焊接技术加以实现的。     

同位素稀释-电感耦合“冷”等离子体质谱法准确测定人血清中钾、钙、镁的含量

血清电解质是骨骼和细胞健康的重要标志物,常通过分析血清中K、Ca、Mg和Na含量来监测其浓度水平的变化。本研究采用同位素稀释-电感耦合等离子体质谱法(ID-ICP-MS),结合"冷"等离子体和碰撞反应池两种模式,加入~(41)K、~(42)Ca和~(25)Mg 3种浓缩同位素稀释剂,同时测定了K、Ca和Mg含量。该方法省去了样品前处理过程中繁琐的基体分离步骤,消除了质谱测量过程中Ar基分子离子的干扰,实现了人血清中K、Ca和Mg含量的准确测定。通过测定NIST SRM956c冷冻人血清无机成分,分析标准物质中K、Ca和Mg含量,来验证该方法的可行性和准确度,测得的结果与标准值一致。本方法可用于临床研究中元素含量分析,也可用于生物基体标准物质的定值。     

新型离子光学的惰性气体同位素质谱计的研究

本文论述了我们1990年研制成的一种新型离子光学质谱计,Φ_m=130°,ε=56°,大斜角λ、出射,R_m=80mm,L_1=L_2=130.32mm,具有高分辨本领。可测~4He、~(20)Ne、~(21)Ne、~(22)Ne、~(36)Ar、~(38)Ar和~(40)Ar的同位素。它是专门为地震监测预报研制的,已用于地震监测,现已获得三个成功的震例。     

NG—1型全金属稀有气体纯化和质谱分析系统

本文论述了一种比玻璃纯化系统更具优点的稀有气体金属纯化系统和质谱分析系统,系统的静态真空16小时维持在10~(-7)托内。活性碳管在-195℃下将He、Ne与Ar有效地分离,以便Ne同位素的分析。用自制的金属大小球均匀分装稀释剂。质谱计的分辩能力105(峰高百分之五处),精度±2%。最小可检测限:He为1.3×10~(-5),Ar为8×10~(-5),Ne为9×10~(-5)。测得空气的~(40)Ar/~(36)Ar比值为296.05,~4He/~(40)Ar比值为1.94x10~(-4),~4He/~(20)Ne比值为0.167。该质谱分析系统可用于地质学、地震气体地球化学等的研究。     

MS—10质谱计控制器的改造

A.E.I.MS—10质谱计控制器是一台电子管电路仪器。本工作采用集成电路代替加以改造,使新控制器获得了良好的稳定性。放大器的测量范围从10mV—10V扩大到10mV—100V,测量误差为±0.5%以内,适用于K—Ar和~(40)Ar—~(39)Ar定年。     

等离子体质谱法在地矿分析中的应用

本文简述了等离子体质谱的特点,该法能同时进行多元素测定,既能测定常量元素,又能测定痕量杂质,被测元素浓度相差8个数量级仍能获得理想结果.用于半定量分析,1～2分钟可完成75种元素的快速扫描,对PPb量级的杂质,固体试样分析误差<50%,液体试样<20%.定量分析采用同位素稀释或外标准加入,可准确测定10~(12)g/g的杂质元素.以实例介绍了该法在地质材料、矿物、土壤、煤炭及环境试样由的应用情况.     

ZD—201型氩同位素静态分析质谱计

惰性气体的同位素分析在石油、地质、空间科学等许多科研领域具有重要价值,特别是氩(Ar)同位素分析已成为地质年代测定的一种重要手段。长期以来,由于国内没有静态分析同位素质谱仪器产品,国外产品则价格昂贵,致使我     

用于AMS测量36Cl标准样品的研制

36Cl核素的半衰期为3.01×105 a,自然界的36Cl主要来源于三种核反应:高能宇宙射线同Ar、K和Ca等相互作用的散裂反应,宇宙线的次级中子的36Ar(n,p)36Cl反应和地下中子引起35Cl的俘获反应.此外,50年代以来的人工"核暴"和核设施释放的36Cl也成为某些地区自然环境中的36Cl主要来源.36Cl作为一种长寿命的同位素示踪剂在地球科学和环境科学中具有重要的应用前景[1].加速器质谱计(AMS)是上世纪70年代后期发展起来的一种分析长寿命放射性同位素的新方法,它是一种直接记录原子的方法.加速器质谱计可以进行高灵敏度、高精度的相对快速测量.加速器质谱方法测定36Cl/Cl的灵敏度可达到1×10-15,加速器质谱计测量36Cl的样品需要已知可靠的标准样品进行校准,加速器质谱方法测定36Cl/Cl的值,样品的化学形式为氯化银[2～5];中国原子能科学研究院核物理所加速器质谱计组原有的36Cl标准样品已经用完,需要从新配制36Cl标准样品.     

质谱准确测定高丰度~(15)N_2的计算方法

近年来,稳定同位素质谱(IRMS)在农业、生态、环境以及地质资源中的应用越来越广泛。在氮素研究过程中,稳定同位素质谱仪主要测定的是~(15)N自然丰度或~(15)N富集较低的气体样品,在测定高丰度的~(15)N_2时,质谱仪自动计算出的结果在精确度和准确度上,都有很大的偏差。为了探究造成这种现象的原因,利用(NH4)2SO4与NaBrO溶液反应产生N_2,精确地配制了10、25、50、70、99.14atom%的~(15)N_2系列高丰度气体样品,利用MAT-253稳定同位素质谱仪测定气体样品的~(15)N_2丰度,并采用推导出的3种不同的公式:~(15)N atom%=1/1+2I28/I29×100、~(15)N atom%=I29+2I30/2(I28+I29+I30)×100和~(15)N atom%=2/I29/I30+2×100计算~(15)N_2系列样品的丰度,并与仪器给出的结果进行对比。结果表明,在测定~(15)N atom%≥10atom%的N_2样品丰度时,质谱仪计算机软件计算出的~(15)N丰度结果并不准确,必须采用公式进行人工计算。公式~(15)N atom%=1/1+2I28/I29×100和~(15)N atom%=I29+2I30/2(I28+I29+I30)×100只适用于计算丰度约为10atom%的N_2样品的~(15)N丰度,并要求以m/z28、29和30的峰面积代入公式进行计算;而当N_2样品~(15)N atom%≥10atom%时,均可采用公式~(15)N atom%=2/I29/I30+2×100计算~(15)N_2的丰度。该方法可为质谱测定高丰度~(15)N_2提供准确可靠的计算方法。     

同位素稀释-高分辨电感耦合等离子体质谱法测定高纯石英中痕量铀不确定度的评定

根据国际标准化组织(ISO)17025的要求,对方法的有效性和测定的不确定度进行评定.本文介绍了同位素稀释-高分辨电感耦合等离子体质谱(ID-HR-ICPMS)法测定高纯石英中痕量铀方法中不确定的来源、不确定度分量的量化、标准不确定度和合成不确定度的计算原则,对计算过程所需各参数的采集和计算方法进行了评定.     

^40Ar—^39Ar法国际标准样BSP—1角闪石的测定

利用RGA—10质谱计和析氢仪联合装置对BSP—1角闪石进行了K—Ar及~(40)Ar—~(39)Ar年龄测定,坪年龄为2054±2Ma;谱线平坦,~(40)Ar~(?)保存性很好,K/Ca和CI/K比值稳定;~(40)Ar—~(39)Ar等时年龄为2053Ma,~(40)Ar/~(36)Ar初始值为294.2,与大气Ar丰度一致。国内外13个实验室参加了该角闪石K和~(40)Ar~(?),的定值分析,其结果为:K=0.725±0.003(%),~(40)Ar~(?)=109.06±0.26(10~(-6)cc-STP/g),由此求出的K—Ar年龄为2060±8Ma,与坪年龄、等时年龄吻合。这些结果表明,BSP—1角闪石结晶时未捕获大气Ar,结晶以来未受过热扰动,保持着良好的~(40)K、~(40)Ar~(?)封闭体系,是很理想的~(40)Ar—~(39)Ar法的国际标准样。     

质谱学报第12卷总目录(1991年)

文题作者(期)页同位素质谱高灵敏度高精度铅同位素测定中的几个问题负热电离质谱在准确分析痕量负离子中的应用黄斌黄达峰赵敦敏八︺门︺一从d︸内h,11古V一砂二致线年龄数据处理程序系统 无机质谱钢铁中一些元素相对灵敏度的测定及其应用’同位素稀释火花源质谱法定值测定茶叶和茶 树叶标样中九种微量元素火花源质谱法测定高纯稀土氧化物中的痕量 稀土杂质18Ni马氏体时效钢塑变氢行为的离子探针研 究133型艳离子源 有机质谱利尿剂氨氯毗咪、节硫喷嗦和三胺喋徒的 LC/MS分析双冠醚的研究W.三种类型双(4’一苯并一15 一冠一5)的质谱外琳质…     

质谱仪器及其应用(五)

第九章专用仪器下面介绍一些专用质谱仪器,以便在研制和使用这些仪器时掌握它们的特点。数量最多的专用质谱仪器——质谱检漏仪,将在有关真空技术的章节中介绍。 9—1 同位素比值质谱计采用不同类型的离子源,配合一台测定同位素比值(丰度)的通用质谱计,固然可以测定周期表上所有元素的稳定同位素和部份放射性同位素,效果却不一定都好。针对某些常见的或重要的同位素,人们设计了专用的质谱仪器,取得了良好的使用效果,下面介绍的是其中几例。相对于化学分析质谱仪器而言,同位素比值质谱计的分析对象较少。前者往往需要分析多种成份,质谱比较复杂;后者一般只针对个别元素的同位素,质谱容易辨认。然而,测定同位素比值的质谱计常对下列指标提出较高的要求:     

应用ZhT-03型质谱计准确测定~(15)N同位素丰度

本文介绍用ZhT-03型质谱计精确测定~(15)N同位素丰度。对仪器的工作状态、测量数据的校正、不同丰度~(15)N样品的测定作了探讨,着重探讨样品中溶解空气对测量结果的影响及其校正。     

同位素稀释质谱法特点

1997年国际物质量咨询委员会(CCQM)在巴黎召开的第六次会议,将同位素稀释质谱法、精密库仑、电位滴定、凝固点下降法和重量法定位于具有绝对测量性质的方法.其中同位素稀释质谱法是唯一一种微量、痕量和超痕量元素权威测量的方法.因为IDMS可以通过天平称重和同位素丰度比的质谱测量,将化学成分分析转化为同位素丰度的质谱测量.