低能γ光子及X射线在透射金属箱方向激发的次级X射线

采用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测系统，以透射法测量了２４１Ａｍ和２３８Ｐｕ放射源的低能γ光子和Ｘ射线在透过不同厚度的Ｆｅ和Ｃｕ箔时激发的次级Ｘ射线相对强度的变化。实验结果表明：激发产生的Ｘ射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加；在高原子序数材料中将产生更多的特征Ｘ射线；各次级Ｘ射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度、能量有关。最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。     

低能γ射线和X射线在几种金属薄膜中产生的次级辐射效应研究

对电子,低能γ射线和Ｘ射线穿透几种不同厚度的Ｆｅ,Ｃｕ和Ｔａ薄膜时所产生的次级电子及次级Ｘ射线进行了实验测量,并对影响次级电子和次级Ｘ射线强度的因素进行了分析。     

X射线及低能γ光子在金属箔透射面的光致电子发射产额

采用改进的密立根光电流测量法,在透射方向测量了＾２４１Ａｍ放射源的Ｘ射线及低能γ光子在透过不同厚度的Ａｌ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｔａ及Ｗ箔时光致电子发射的产额。结果表明：光致电子发射产额在样品厚度范围内随箔厚的增加而减少;在高原子序数材料中将产生更多的光致电子发射。提出了“射程层贡献”模型,以该模型为基础建立的计算方法所得结果与实验值间相对误差平均约为１０％。     

防护水平低能X射线次级标准电离室的研制

用具有优良导电性能的碳纤维材料经环氧树脂固化制成壁厚０．３６ｍｇ／ｃｍ￣２、直径为１９５ｍｍ的大体积球形电离室。电离室机械强度好、体积稳定、对低能Ｘ射线能量响应好、灵敏度高，它不仅可作为防护水平低能Ｘ射线次级标准实验室的参考电离室，而且也适用于照射量率的现场测量。     

超灵敏小型回旋加速器质谱计X射线本底的来源及其抑制方法

通过理论分析和实验测量，基本上确定了Ｘ射线本底产生的原因，并采取了有效的克服办法，使Ｘ射线引起的本底计数降低到原来的２／５，极大地提高了＾１４Ｃ的探测效率和样品测量的精确度和丰度灵敏度。     

用XRF分析稀土元素时同位素激发源的选择

根据Ｘ射线荧光产生和探测的机理,用一些基本的物理参数（光电质量吸收系数、荧光产额、吸收边阶跃比、被分析的Ｘ荧光线相对于同线系的强度比等）分析计算了在同位素激发Ｘ射线荧光分析技术（ＸＲＦ）中最常见的两种激发源和＾２３８Ｐｕ源分析稀土元素含量时,在不同的测量系统和分析条件下,每个元素的相对激发探测效率以及它们的优缺点,从而确定了对不同的稀土元素,选择何种激发源、测量何种特征Ｘ线系（ＫＸ或ＬＸ）,可使整     

荧光X射线参考辐射的优化

在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响。在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量。结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs2SO4的厚度大于490μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤Te O2的厚度约为327μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低。     

使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究

复合光导管组成的Ｘ光透镜可将发散的Ｘ光束聚至直径φ０．５ｍｍ，聚束后的功率密度增加１０＾４倍，这种新型的Ｘ光透镜已用于Ｘ射线荧光分析研究，使用Ｘ光管功率仅２Ｗ，而探测限可达１０＾－９－１０＾１０ｇ．     

低能重离子注入麦胚引起深层细胞损伤的一种可能机制

讨论了低能重离子注入麦胚造成深层细胞损伤主要是注入离子与小麦组成各元素发生相互作用后的次级过程中产生了特征Ｘ射线。以能量较高（３。５８９ｋｅＶ），强度相对贡献较大的钾元素为例，当强度减弱至原来的２＾－＾１＾０时，其穿越麦胚深度可达３７０μｍ，可谓是“长射程”。小麦种子在深层能受到低能离子注入的影响，可能正是由于这种次级过程的“长射效应”。     

部分种子成分的特征X射线在等效生物材料中衰减的测定

用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器实现了Ｎａ、Ｍｇ、Ｓ、Ｃｌ的特征Ｘ射线在有机膜中的相对衰减以及与Ｏ、Ｋ元素的特征Ｘ射线能量相当的Ｘ射线或轫致辐射在有机膜中的相对衰减，分别得出了它们减的数学描述，并把实验得到不同能量的Ｘ射线在有机膜中的质量吸收系数与Ｂｅｒｋｅｌｅｙ的ＯＣＧ软件计算出的结果相比，相关都小于３０％。     

医用电子加速器迷宫内的X射线剂量当量率的测量和估算

使用ＦＡＲＭＥＲ２５７０／１Ａ型和ＦＪ－３４７Ａ型两种电离室剂量仪测量了能量为６，８，１８ＭＶ的７个医用电子加速器迷宫内的Ｘ射线剂量当量率，结果表明迷宫内Ｘ射线测量当量率在迷宫内入口处最高，当迷宫内入口到等中心的蹁小于５．２ｍ时，该迷宫内入口中心处的Ｘ射线测量当量率与等中心处用束Ｘ射线吸收剂量率的比值大于５．５×１０＾－５，随距离增加，剂量率减小，进入迷宫巷道后，Ｘ射线剂量当量率一般不超过等中心有     

双源两次X射线荧光测量法鉴定金饰品质量

介绍了用放射性同位素Ｘ射线荧光分析法检查了２４Ｋ金饰品质量的简便方法，该方法使用＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ两种辐射源进行两次测量。     

材料自散射对低能γ射线厚度测量精度的影响

本文根据γ射线与物持发生Ｒａｙｌｅｉｇｈ散射和康普顿散射的基本规律，用蒙特卡罗法计算了散射γ射线对探测器计数或沉积能量的影响，从使用低能Ｘ，γ射线（＾３４１Ａｍ５９．６ｋｅＶ）测量钢带厚度的角度，分析了散射对测量结果精度的影响，计算了与实验进行了比较。     

用X射线荧光分析技术甄别金制品和镀,包金赝品

从理论上阐述了把Ｘ射线荧光分析和低能伽玛射线散射结合起来甄别金制品和镀，包金赝品的可行性，并在实验中进行了验证。这一方法适用于镀，包层厚度在７０μｍ以下的各种重金属覆盖样品。     

特征X射线能谱法测定Fe^＋注入小麦种子的深度

用１１０ｋｅＶ Ｆｅ＾＋离子束垂直注入小麦种胚后，在扫描电子显微镜上沿种子纵沟剖面，在不同深度上测量Ｆｅ元素被激发出的特征Ｘ射线强度分布，结果表明分布呈指数衰减，与晶体中的热扩散分布相类似，并对此进行了讨论。     

透射式特征X射线测厚技术实验研究

介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法,并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究;当被测量纸张的厚度从7.2mg/cm2到43.2mg/cm2时dm与In Ⅰ曲线的相关系数达到0.999以上,测量相对误差在2%以内.     

γ射线法在医用186Re样品分析中的应用

描述了以γ射线测量为基础分析医用＾１８６Ｒｅ样品的步骤和方法。用ＨＰＧｅγ射线探测器对ＮＨ４ＲｅＯ４进行了γ（Ｘ）射线谱测量。根据谱中γ（Ｘ）射线的能量和强度鉴别了＾１８６Ｒｅ,鉴定了＾１８６Ｒｅ的核纯度,通过与标准源进行比较,给出了样品的放射性活度。     

钢的等效射线衰减系数的实验分析

利用X射线数字成像技术检测薄壁钢件时,需根据钢的等效射线衰减系数进行检测工艺参数优化。然而,多色、宽束条件下的等效射线衰减系数难于获得。为此,通过实验方法,对钢的等效射线衰减系数进行有效测量。首先,对等效射线衰减系数的测量方法及影响要素进行分析。然后采用面阵列射线探测器对0.05 mm厚的钢箔测量射线强度的变化量,得到了30～150 kVp射线管电压下的钢的等效射线衰减系数。实验结果表明:相较于单能、窄束射线条件下得到的衰减系数,实验得到的等效射线衰减系数明显偏大。假定射线探测器为理想探测器,结合不同管电压的射线能谱,经计算得到的等效射线衰减系数与实验结果趋于符合;借助于图像质量指标分析得到的等效射线衰减系数值,则与实验测量值完好符合。因此在射线成像检测实践中,有必要对等效射线衰减系数进行实际测量:此系数与通常单能、窄束射线条件下得到的衰减系数明显不同,它与图像质量指标存在直接的关联。     

经软X射线辐照的InP的表面损伤态

采用Ｘ光激发光电子能谱对经同步辐射软Ｘ光辐照的ＩｎＰ表面进行了分析。实验结果表明：ＩｎＰ表面辐照损伤与辐照Ｘ光的能量及剂量有关,尤其是具有近Ｐ原子Ｋ壳层共振吸收能量的软Ｘ光辐照与其它Ｘ射线辐照相比,其结果有所不同。文中就实验结果的机制进行了初步探讨。     

样品颗粒度对X射线荧光强度影响模拟方法研究

通过MCNP软件建立均匀颗粒的面心立方最密堆积模型,以硫酸铜-锌组合样品为例,研究样品在X射线激发下的荧光强度随颗粒大小的变化情况。采用研磨方法制备不同颗粒度的无限厚样品并进行实验,以验证建模方法的正确性;在此基础上研究颗粒度效应对有限质量厚度样品荧光强度的影响。结果表明,自然状态的无限厚硫酸铜颗粒样品的荧光强度随颗粒尺寸增加而下降,变化程度小于统计涨落,与相同条件下的模拟结果基本一致;在质量厚度相同的情况下,样品颗粒尺寸增大,铜-锌荧光强度之比减小。