退火对AA3104热轧铝板整体织构的影响

对AA3104热轧铝板的织构分别进行了X射线反射法测量和X射线透射法测量。采用X射线透射法测量时,对极图数据作了绕轧向转90°的坐标转换,以直接测得热轧铝板的真实织构,避免用X射线反射法测量时铝板织构不均匀性引起的测量结果偏离整体织构。X射线透射法测量织构简捷、准确。铝板心部和表面织构是不一致的,退火可改变铝板的织构。     

3003铝合金X射线法表面残余应力的检测

采用X射线衍射法测量铝合金3003基体材料表面残余应力中用到的衍射角.试验中,将等强度梁加载后表面产生的应力假设为“表面残余应力”,用传统电测法和X射线法分别测量加载后铝合金3003等强度梁的应力值.以电测值为参照,考察X射线法在衍射角为142°和156°时的应力测量值,并对其进行对比分析.试验表明,衍射角为142°时的测量结果存在非测量不当引起的测量非线性点.因此,X射线测铝合金3003宏观表面残余应力的最佳衍射角为156°.     

连续谱X射线在ICT中的散射修正

在X射线工业计算机断层扫描成像技术（ICT）中，连续谱X射线透射物质时，发生了光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。如未修正，必引起赝像。利用X射线透射物质时的X光子散射遵循的Compton散射强度方程，建立了连续谱X射线完整精确的散射修正模型及其修正方法。为有效去除连续谱X光子的散射造成的图像伪影提供比较完善精确的修正模型和修正方法。     

X射线累积剂量实时检测系统的研制

介绍一种用于测量X射线累积剂量的实时检测系统，该系统采用有限积分法检测X射线剂量，并将测量数据快速传输给计算机进行处理。结果表明，该系统可快速准确地测量X射线相对剂量，输出信号动态范围较宽，测量相对误差较小，经标定后可测量射线的绝对剂量。     

X射线ICT检测中康普顿散射效应的影响与修正

在X射线工业计算机层析检测(ICT)中,由于X射线与物质作用发生康普顿散射效应,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。运用康普顿散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,推出X射线ICT中的散射修正公式,并由圆形截面工件散射模型,求出圆形截面工件的具体计算积分限。从探测器探测到的总光子数中减去康普顿散射光子数,即可有效去除散射光子造成的伪影。     

工程陶瓷磨削表面残余应力的测量新方法

磨削加工后工程陶瓷零件表面会产生残余应力。X射线衍射法是用来测量磨削加工后工程陶瓷中残余应力的可靠测量手段。传统的X射线衍射法称之为sin^2ψ法，通常只能测量工件表层的残余应力；本文介绍了一种残余应力测量新方法，该方法联合使用sin^2ψ法和掠入射X射线衍射法从而得到残余应力在试件中的深度分布。如果考虑X射线的折射，在一系列掠射角下采集到的X射线衍射花样的有效穿透深度和衍射角必须进行折射校正。最后，用这种方法得到的残余应力值是X射线照射的所有层的平均值。     

近代物理分析技术—国内的应用概况和近年进展(续)

四、成份分析技术 4.1 X射线能谱的无标样定量分析电子探针仪是一种常规的微区成份分析仪器,它主要是利用电子束去激发试样产生X射线谱,然后依据莫塞莱定律去分析试样的成份。按测量的物理量分,可以分为X射线光谱分析法(WDAX)和X射线能谱分析法(EDAX)两种,其中能谱分析法具有检测效率高、分析速度快、在两三分钟内就能完成全元素的同时分析等优点,因而受到重视。     

CsI(Tl)光电二极管探测器模拟研究

基于一台COMET公司MXR-225/22型号,最大出射X射线能量为225keV的X射线机,在此基础上要尽可能得到高的探测效率和输出光子产额。通过GEANT4[1]工具包建立模型,模拟得到了改变CsI(Tl)晶体的厚度、X射线能量以及入射角的情况下,其探测效率、输出率以及输出光子产额的变化;同时,通过实验测得光电二极管暗电流曲线,并且根据模拟结果,结合光电二极管的特性参数,计算了在管电压为225kV,不同管电流、不同距离的情况下,探测器输出电流的大小,并与实验测得的数据进行对比。     

影响X射线测厚仪测量精度的因素及维护方法

介绍了影响X射线测厚仪测量精度的因素,在实际使用中采取相应维护措施,就能保证X射线测厚仪满足测量精度的控制要求.     

X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术在复合材料工件检测中的散射修正

在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术（X-TICT）中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此，必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程，结合X射线与物质相互作用的特性，建立了有效去除X—TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数，即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。     

使用射线仪进行钢产品测量

非接触厚度测量方法是根据被测产品吸收射线的量进行测量的方法。 50年代,X射线仪在冷、热轧带钢生产中已普遍应用。早期的X射线仪为了降低造价和复杂程度,使用了非常简单的X射线源:由高压变压器给X射线管加上未整流的     

非胶片射线检测技术（续）

4背散射成像 4．1物理基础 4．1．1概述 背散射成像是利用散射线而不是透射线来成像的。尽管一般X射线检测中散射的光子数与透射光子数一样多,但要使散射线成像却难得多。因此,背散射成像通常是一项数字技术。     

铝合金薄板焊接接头残余应力分析

铝合金型材已经被广泛用作高速列车车体材料,其结构件焊接接头的服役安全可靠性至关重要。残余应力对接头的疲劳寿命影响很大,能够准确、无损、快速对焊接结构的残余应力进行测试。分别采用小孔法及X射线衍射法进行残余应力测试,通过对比分析两种方法测量的焊接接头残余应力的分布及数值,发现小孔法测量数值稍大于X射线衍射法;射线法测得数值波动范围较小孔法大,其主要原因是测量试件表层应力。但两种方法测量结果的总体趋势一致,故采用无损的X射线衍射法测量3 mm5083-H111薄板的MIG焊接头是可行的。     

基于透射衰减和菲涅尔衍射的厚度测量法

提出了一种基于X射线透射衰减和菲涅尔衍射光学机理的工件厚度测量法。首先利用菲涅尔衍射模型对透射数字成像的边缘区域进行衍射校正,然后在相应能量的X射线透射作用下,根据其边缘处的厚度值,反推该材料的衰减系数,最后利用厚度测量公式计算出工件的厚度值。该方法不依赖于难以测量的材料衰减系数集、材料的原子序数及X射线的绝对光强值,不仅能够批量测量透射目标各点的厚度值,还可以测量其内部缺陷的大小。     

SM2X-A/B型X射线测厚仪

上海冶金仪表计量厂生产的SM2X-A╱B型X射线测厚仪主要适用于冷轧生产过程中的金属板材、带材的非接触式厚度测量,具有精度高、测量迅速、读数方便、连续测量、测量开口度大、安全可靠等优点。尤其适用     

由X射线穿透深度简易测量残余应力

X射线测量应力一般是用特性X射线穿透深度相应的一种加权平均值来评定材料表面的应力.对由压延和磨削加工等产生表层应力梯度的材料,要测量其残余应力分布,用经典的sin~2(?)法评定是困难的.因此,为评定这类应力分布,已提出多种新的测量方法.本研究是根据两种特性X射线对金属的不同穿透深度,无损测量表层残余应力深度方向分布的简易方法.此法可用于测量木材加工用的带形锯钢材(JIS SKS51)在压延加工、热处理及磨削加工后所产生的残余应力.为研究简易法的实用性,也用逐层削薄法精测了深度方向上的残余应力分布的变化.此时,对逐层削薄法测得的量值,根据X射线的穿透深度作了修正.这里对这种方法也同时作一介绍.在理论分析中,假定平板试样呈各向同性,且残余应力只考虑与板厚z方向有关的平面应力状态.2 理论2.1 逐层削薄法与测量衍射角的X射线透过深度的修正方法     

用X射线透射法测量热轧铝板整体织构

对热轧铝板的织构进行了X射线反射法剥层测量和X射线透射法直接测量。透射法测量时需要对极图数据作绕轧向转90°的坐标转换。两种方法的对比分析表明,透射法可以直接获得热轧铝板的真实织构,避免了反射法测量时铝板织构不均匀性引起的测量结果偏离整体织构。透射法测量织构过程简捷、准确,有利于发展在线织构检测技术。     

纳米晶CaV4O9的水热合成和磁性

采用水热技术合成了CaV4 O9纳米晶。还原水合肼对产物的形成起着关键作用。通过粉末X射线衍射谱 ,X射线光电子能谱 ,透射电子显微镜和X射线能量色散谱等分析方法表征了所合成CaV4 O9纳米晶的结构和组成。对其变温磁化率的测量表明产物具有二维量子自旋效应。讨论了化学条件的变化对合成产物的影响     

科技动态

<正>钢管及管状物壁厚、椭圆度的六点测量设备德国SikoraAG公司新研制的6000型X射线六点壁厚和椭圆度测量仪可用于钢管和管状物的壁厚、椭圆度及变形过程中的缺陷检测。该系统采用3轴X射线测量,为测     

用X射线穿透深度简易测量剩余应力

1前言采用X射线测量应力一般是评定材料表面的应力。实际是，使用特性X射线穿透深度的累计平均值。因此，测量由压延和磨削加工等而产生表面应力斜率的材料剩余应力分布时，用过去的sin2Φ中法正确评定是困难的。所以，为评定这类的应力分布提出多种新的测量方法。在本研究中示