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当X射线应力测定被测部位附近的残余应力沿表面的某些方向存在较大梯度时,X射线照射区域随ψ角的变化而发生的变化会使应力测量结果出现较大的误差。本文分析了试件表面高度设置正确和存在偏差两种条件下的照射区域的变化情况,并提出了减少这种变化所带来的测量误差的措施。 相似文献
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氮化层的 X 射线应力测定 总被引:1,自引:0,他引:1
为了测出氮化层的真正应力状态,提出了选用氮化层中主要氮化物的衍射峰来测定应力的方法,在此法中,采用侧倾法配合等强梁夹具来测定氮化层的弹性常数(S_2/2,S_1),由此可以测出氮化层的真正应力状态。试验结果应用应变仪法进行校核基本正确。从本试验结果来看,利用 Fe_3N(103)晶面测得的表面氮化层应力是内部α-Fe 扩散层应力的三至四倍。因此采用内层的α-Fe(211)衍射峰仅能测定氮化层里边的扩散层应力,而不能反映表面氮化物层的应力状态。 相似文献
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本文从择优取向材料的受力边界条件出发,提出了一种计算择优取向材料X射线弹性性质的近似模型-加权Hill模型,并用这一简化模型计算了一些模型材料的X射线应力测试曲线。为验证新模型,实测了电镀及电刷镀Cu膜的应力。实验结果与用新模型计算结果符合得较好。从而解释了等离子辅助化学气相沉积(PCVD)TiN膜应力测试曲线的低φ角弯曲现象,指出这种弯曲是由PCVD TiN中存在的柱状晶定向排列引起,当低φ角弯 相似文献
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X射线回摆法测定应力的计算方法 总被引:1,自引:0,他引:1
通常采用回摆法来解决大晶粒材料给X射线应力测定所带来的困难,但是这首先需要解决应力的计算方法。本文提出了X射线回摆法在各种条件下的应力计算公式。结果表明,应用这些公式计算的结果与用常规法获得的计算结果基本一致。 相似文献
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董平 《稀有金属材料与工程》2002,31(2):148-151
研究了在modified-ψ衍射几何条件下,铍材表层中存在不同应力梯度时的d-sin^2ψ曲线的形状,确定了铍材表层内的应力梯度对常规的X射线应力测试的影响,结果表明:在通常的sin^2ψ≤0.5的应力测试范围内,应力梯度对测试曲线有明显的影响,应力测试值因应力梯度的存在而偏离真实值,选择合适的靶材以减小X射线对铍材的穿透深度,可以减小应力测试的误差。 相似文献
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本文讨论利用侧倾台在X射线应力测定仪上进行无倾角侧倾法测量时,试样相对于侧倾台的三个方位角设置及侧倾台相对于测角头的三个方位角设置所出现的偏差对应力测量结果的影响。 相似文献
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X射线应力分析是一种非破坏性的检测方法,在工程技术和科研生产上有着广泛的用途。本文简要地介绍了X射线应力分析的原理与方法及MSF-2M X射线应力分析仪,并给出了应用实例。 相似文献
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通常应力分析大都忽略X射线在晶体中的透入深度及其随方向角Ψ的变化,因此有衍射角2θ与sin~2Ψ的直线关系成立。本文分析了沿深度各点衍射峰强度和位置的变化对实际衍射峰形的影响,证明应力可使衍射峰倾斜,呈现不对称分布,实测峰位置是透入深度内各点衍射峰的加权平均值,在此基础上考察了应力梯度对X射线应力分析的影响。发现正应力梯度使2θ-sin~2Ψ曲线上凹,负应力梯度使曲线下凹。与最大有效透入深度内应力的加权平均值比较,按2θ-sin~2Ψ线性回归得到的应力值正梯度时偏高,负梯度时偏低。与该深度内的应力最大值比较,即使2θ-sin~2Ψ关系无明显弯曲,当应力梯度较大时,按线性回归也可能引入较大误差。 相似文献
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残余应力X射线测定方法的研究现状 总被引:21,自引:2,他引:19
综合评述当前广泛应用于众多领域的几种X射线残余应力测定方法,包括其测定原理计算方法和应用领域,最后就X射线残余应力测定方法的发展提出了几种设想。 相似文献
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本文针对能够获得中宽衍射谱线的材料,探索了常规法与用侧倾台作有倾角侧倾法,以及选择ψ角的不同转动方式对X射线应力测定值的影响。实验结果表明,两种方法相比,用有倾角侧倾法测得的应力值比常规法测得的高一些,但它更能反映材料的真实情况,后一种方法的测量误差稍大于前一种方法。不同ψ角转动方式相比,不论选择哪一种方式测量,其结果大致相同;不过交替选择ψ角测量的应力值波动范围要比在正或负ψ方向上测量的大。令人满意的是,在正、负ψ方向上测定的平均应力值及标准差均取得了尚好的吻合。 相似文献
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通过实验对铁、铝材料经X线射透照时产生的散射X射线进行了测量,得出了透照焦距与散射比的关系曲线,管电压和散射比、板厚与散射比的关系曲线。最后提出了在实际探伤时散射X射线的防护措施。 相似文献
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本文提出了一种X射线测量残余应力的新方法一双做法,并利用弹性理沦从一点的应力状态在不同坐标中的关系证明了该法与常规法几何设置所测残余应力的方向和大小是一致的,又从实验上利用无应力梯度的还原铁粉证实了这一点;讨论了该方法在目前残余应力测量中的一些新的应用。 相似文献