一种基于存储器故障原语的March测试算法研究

研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义.从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法.该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%.采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST).仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求.研究结果具有重要的应用参考价值.     

基于March C-算法的单片机存储器测试

为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测哉程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100％,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。     

STT-MRAM存储器的故障测试设计

自旋转移矩的随机存储器（Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory, STT-MRAM）以其非易失性、读写速度快、数据保持时间长、完全兼容CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工艺等优势在新型存储器中脱颖而出.随着其产业化的投入暴增和应用规模的扩大,STT-MRAM存储器产品的质量和可靠性测试十分必要.当前,最常用的March测试算法在对STT-MRAM的性能进行验证时,存在测试复杂度与故障覆盖率两者不匹配的难题.针对于此,从STT-MRAM的制造缺陷形成和分类出发,将部分针孔故障的表现形式,采用March敏化的方式检测,并基于此类故障类型,提出了一种高故障覆盖率的March CM测试算法,根据此算法设计相应的内建自测试（Build-In Self-Testing, BIST）电路.仿真验证及对STT-MRAM的板级测试显示这一设计达到了兼容高复杂度和高覆盖率的测试要求.     

一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计

存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好的故障检测效果：动态故障覆盖率提高了31.3%。这个可观的效果得益于所提算法以经典的March RAW算法为基础进行优化,融入了Hammer, March C+算法的测试元素和一些新的测试元素。不同于普通March型算法的固定元素,所提算法支持用户自定义算法的执行顺序以适应不同的故障检测需求,能够动态地控制算法元素,在时间复杂度和故障覆盖率之间进行调整从而达到良好的平衡。     

基于March X算法的SRAM BIST的设计

针对LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模块,讨论了基于March X算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生:完成了基于March X算法的BIST电路的设计.128kb SRAM BIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%.     

CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试

CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。本文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出,然后给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案。     

模拟集成电路的测试与故障检测技术

本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题，首先介绍面向性能的测试方法，然后讨论故障模型和面向故障的测试方法，在介绍了模拟集成电路的可测性设计技术之后，讨论了利用电源监测进行故障检测的方法。     

嵌入式存储器内建自测试的原理及实现

随着集成电路设计规模的不断增大 ,在芯片中特别是在系统芯片 SOC( system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理 ,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。     

一种基于故障特征分析的总线测试自适应算法

针对现有数字总线测试算法故障覆盖率低、效率不高、过程复杂等不足,建立了以区分主、从驱动器网络为特点的总线结构模型;在分析总线结构故障特征的基础上,定义了故障等价的概念,通过对故障模式的等价变换,得到了故障模式最简集合;最后提出了一种基于故障特征分析的自适应测试算法.结果表明,与同类算法相比,该算法在保证故障诊断最大化的前提下,简化了测试流程,降低了测试复杂性,缩减了测试序列长度;且设计简单,易于工程实现.     

基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现

摘要：针对超大规模SoC（System on Chip）芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA（Power Performance Area）等多个设计因素优化测试电路,包括BIST（Build-in-Self Test）电路布局、数量、时序、存储器布图规划等。最后在一款40nm量产SoC芯片上,应用Mentor Graphics公司LV（Logic Vision）流程实现了测试电路设计,实验结果证明本方案的可行性和有效性。     

存储器故障诊断算法的研究与实现

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡。因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法,才能达到比较满意的效果。     

测试小型存储器阵列的新方法

随着半导体工艺不断地进步，那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列，并且散布在芯片中各个角落。这些阵列有的是寄存器堆，FIFO，或者是在存储器管理系统中一些对性能要求较高的存储器。针对这种类型的小型阵列，如果想要侦测出与速度相关的瑕疵以及固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。     

基于长时间序列检测算法的煤矿电力设备故障检测研究

尽管现代煤矿开采理论和技术不断进步,但煤矿电力系统设备故障依然时有发生.基于电力设备故障故障后的报警信息及其时间序列特性可以快速精准识别故障位置和故障类型,从而及时排除故障,提高故障处理效率,有效避免煤矿安全事故发生.因此,基于时间序列模型的故障检测与诊断已成为煤矿电力设备故障诊断技术研究领域的重要课题.基于此,文章以...     

一种优化的Flash存储器测试算法

直流写、直流擦以及漏极干扰是影响Flash存储器长期有效保存数据的主要原因，本文在Mohammad失效模型的基础上提出了一个更优的测试算法，从而有效缩短测试时间，节约生产成本。     

新型舰空导弹联调测试故障检测技术研究

某新型舰空导弹在装舰前的技术准备中需要进行全弹联调测试,并实现故障检测和排除,确保导弹电路系统的连通性,提出一种基于多传感器融合跟踪识别和关联谱特征提取的导弹联调测试故障检测技术.采用传感器阵列进行舰空导弹的全弹连通性电路输出信号采集,对采集的信号采用谱分析和关联规则特征提取方法进行故障特征提取,对导弹联调测试信号进行频谱分解和模糊决策,采用谱特征提取方法进行舰空导弹联调测试系统传输信息的关联属性特征挖掘,根据关联属性分布的差异性进行故障类别判断,实现对舰空导弹联调测试故障的准确检测和识别,进行舰空导弹联调测试故障检测系统的在硬件设计,主要对故障检测系统的AD模块、程序加载模块、人机交互模块等进行硬件开发.仿真测试结果表明,采用该方法进行新型舰空导弹联调测试故障检测的故障诊断性能较好,对故障特征的分辨能力较强,提高了导弹转级技术准备过程中的联调测试的故障检测效率.     

嵌入式存储器的测试

为了在最终应用中能满足日益增长的对高速运行的需求,标准的微处理器、专门的微控制器以及定制的专用集成电路纷纷在以处理器为内核的芯片中加入各种专门设计的单元(图1)。存储器常常占据了这些专门单元多达70％的总面积。     

利用彩色测试卡判断电视机的故障

彩色测试卡信号是利用电子编码的方法,根据彩色电视机综台质量指标的要求汇编而成.利用该卡可直观地判断电视机的故障。测试卡如附图所示。     

嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证

嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。     

大话务量测试未达到指标故障浅析

本文介绍了 S1240交换机由 SCALSVT的原因造成大话务量测试不通过的两种情况以及如何进行判断及解决。     

浅析模拟与混合信号电路测试与故障检测方法

模拟和混合信号电路本身具有相当高的复杂性及专业性,使得模拟和混合信号电路测试与故障检测无法在传统数字电路测试方法下得到满足。文章通过介绍模拟和混合信号电路测试与故障检测的研究现状,分析了模拟与混合信号电路的测试与故障检测方法,并在传统测试技术的基础上研究了新的诊断方法,具有参考价值。