大杯伞子实体常见微量元素的定性定量测定

利用扫描电镜和X射线能谱仪对大杯伞子实体的菌盖、菌褶和菌柄中的常见微量元素Na、Mg、Ca、K、Fe、Cu、Mn和Zn进行测定,并计算出它们的相对重量百分比.结果表明菌盖、菌褶和菌柄均含上述各种微量元素,但含量并不相同.     

大杯伞子实体常见微量元素的定性定量测定

利用扫描电镜和X射线能谱仪对大杯伞子实体的菌盖、菌褶和菌柄中的常见微量元素Na、Mg、Ca、K、Fe、Cu、Mn和zn进行测定,并计算出它们的相对重量百分比。结果表明菌盖、菌褶和菌柄均含上述各种微量元素,但含量并不相同。     

大杯伞子实体常见微量元素的定性定量测定

利用扫描电镜和X射线能谱仪对大杯伞子实体的菌盖、菌褶和菌柄中的常见微量元素Na、Mg、Ca、K、Fe、Cu、Mn和Zn进行测定,并计算出它们的相对重量百分比。结果表明菌盖、菌褶和菌柄均含上述各种微量元素,但含量并不相同。     

扫描电镜及X射线能谱仪在首饰镀层检测中的应用

采用扫描电镜及X射线能谱仪对首饰镀层进行了检测,并对两种方法进行了比较.结果表明,镀铑首饰采用无损检测法较合适,而镀金首饰采用破坏性检测法较合适.     

扫描电镜和X射线能谱仪对金刚石聚结体显微结构的分析

利用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）及ｘ射线能谱仪（ＥＤＸ）对金刚石聚结体的显微结构和成分进行了分析，包括：（１）金刚石的晶形、密堆积和粒度配比；（２）粘结剂的种类、分布、渗透和对金刚石的包覆情况；（３）硬质合金基座和聚晶层之间的结合情况；（４）聚结体内部裂纹和含杂质情况分析。说明这一方法是非常必要的，它是聚结体合成前用料监测、合成后质量评估和性能检测中不可缺少的工作。     

定量测定钢中奥氏体和马氏体的X射线新方法

为了解决应用X射线衍射技术进行精确、定量测定含有织构和碳化物的钢铁材料中的残余奥氏体或马氏体问题,弥补国家标准（GB/T 8362-1987）和其它方法之不足,提出一种新方法.该方法操作简单,结果准确,主要用于测定钢中奥氏体和马氏体,也适用于测定其它金属材料中的同素异构体.     

黄金首饰的鉴定（X射线能谱仪应用之一）

利用Ｘ射线能谱仪定量测定黄金首饰成分，选择合理测试参数，经多次测定取其平均值而获得其成分，并借助改变加速电压，判断成分波动范围的合理性。     

EGSnrc程序模拟低能X射线光管参数对射线能谱的影响

研究了低能X射线光管出射的初始能谱形状.在理论分析的基础上,采用蒙特卡罗程序EGSnrc模拟了低能X射线光管中的焦点大小,阳极靶的材料、厚度、角度、面积,这五个参数分别对低能X射线能谱的影响.结果表明:焦点对能谱的影响随着入射粒子能量的增加稳定在1％以内;靶材料的原子序数越高,谱线的强度越大;随着阳极靶角的增大,谱线的...     

表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响的研究

本文研究表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响,用一次靶(Rh)测首饰成分含量,用二次靶(Sn)测镀层厚度,系统研究含量与镀Rh层厚度之间函数关系。结果表明随着铑层厚度增加,所测的Au,Ag元素含量将会增加。Cu,Ni元素含量将会减少,因此必须进行修正。     

X射线光电子能谱(XPS)

在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程:     

纳滤膜的场发射扫描电镜、能量色散X射线、原子力显微镜珊傅里叶转换红外光谱分析

利用场发射扫描电镜、能量色散X射线分析、原子力显微镜与傅里叶转换红外光谱技术,对NF45纳滤膜的表面形态、孔径分布进行了分析研究,同时考察了大豆乳清液的纳滤膜污染特征。研究表明：NF45膜的孔径范围小于0．5nm,膜孔分布均匀,平均表面粗糙度为9．4nm,波峰高度是纳米级;而污染膜面基本表现为无数小葡萄球状的低聚糖类物质组成的块状,且污染物层分布很不均匀,波动很大,平均表面粗糙度为439．7nm,波峰高度是微米级的。     

EDX-LE型X射线能谱仪测试银饰品含量的条件设置

利用能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)测试贵金属首饰含量,测试结果受选择的测试条件、样品成分、样品形状特征等因素的影响。通过日本岛津公司的EDX-LE型能量色散型X射线荧光光谱仪测试银首饰中的银含量,分析得出样品测试面是否平整、准直器的大小是影响实验测试值准确性的最主要因素,测试时需要选择较大的准直器、选择平整的测试面且多次测量以得出测试结论。     

X射线光电子能谱技术在材料表面分析中的应用

X射线光电子能谱技术是一种表面分析技术,不仅能够定性和定量分析材料表面的元素组成和含量,而且可以分析元素的化学价态、化学键等信息.本文通过阐述XPS的基本原理、应用、特点、常见问题及解决办法等,讨论了X射线光电子能谱技术在材料表面分析中的具体应用,并展望了其在计量领域的发展前景.     

X射线光电子能谱对单一助剂与复合助剂包覆片状铝粉的性能研究

通过对加单一助剂包覆的铝粉和复合助剂包覆的铝粉的X射线光电子能谱（XPS）研究表明，制备浮型铝粉时采用了油酸在铝粉表面的包覆率很大，有效地减少了表面氧化，使之具有较高的亮度，由于羧基的存在，具有使铝粉分散和提高光亮度的能力。比较上述复合助剂和单一助剂制备的铝粉，它们最大的区别在于，加入了聚醚-16后，铝粉光亮度提高许多，同时盖水面积也上升，说明铝粉表面的亲油基相对增多．同时也证明了助剂聚醚-16的活性基团有助于提高铝粉亮度。     

X射线束点尺寸对X射线相位衬度成像的影响

X射线相位衬度成像利用X射线穿过样品后的相位变化, 通过衍射信息来获得样品的结构特征。X射线相位衬度成像在生物影像、显微成像以及材料科学研究中有重要的应用。如果X射线成像样品物质密度比较低, 它对X射线的吸收很小, 所以常规的吸收衬度成像质量较差, 不易分辨样品的结构细节。理论分析和实验研究都表明当X射线束点尺寸减小到一定尺度后, X射线源的空间相干性增强, 采用相位衬度成像可以提高低密度样品的成像质量。X射线相位衬度成像质量与X射线束点尺寸, 样品到影像记录平面之间距离直接相关。本文研究了X射线束点尺寸与低密度样品影像边沿轮廓宽度和对比度之间的影响关系。研究结果表明, 根据低密度样品的介电常数、X射线源到样品距离, 以及样品到影像记录平面距离, 存在最优化的X射线束点尺寸。在该最优化配置条件下, 低密度样品的X射线成像可以获得最好的图像质量。     

X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用

X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。