一种新颖的适用于探地雷达应用的平衡脉冲发生器*

介绍了一种新颖超宽带皮秒级的脉冲发生器。该发生器由雪崩三极管电路和独特的脉冲整形电路构成。雪崩 三极管电路产生一对平衡的驱动脉冲信号,脉冲整形电路有效利用阶跃恢复二极管的阶跃特性产生一对平衡的快前沿脉冲信 号。从测量结果可知,当脉冲重复频率为1 MHz 时,该脉冲发生器输出一对峰值电压为±30 V 的平衡脉冲,前沿约为260 ps, 而后沿相对较缓,且具有极小的振铃。当该发生器给偶极子天线馈电时,接收的信号拖尾极小。在探地雷达浅层探测中,该脉 冲发生器可以实现多目标高分辨率检测,具有很好的应用前景。     

超宽带脉冲产生电路的研究与设计

在UWB脉冲信号发生器的研制中,通过分析UWB脉冲波形的特征,以一阶高斯脉冲为设计目标,提出了一种以振荡源、储能元件和高速开关为主体的UWB脉冲产生电路系统模型,并且在实际电路中设计了不同的实现方式。利用复杂可编程器件(CPLD)为UWB脉冲发生模块设计了脉冲时序触发电路。针对脉冲的产生方案,设计了一种利用雪崩晶体管产生UWB脉冲的电路,实际测试得到了1 ns以内的窄脉冲;与此同时设计了一种基于阶跃恢复二极管的UWB脉冲发生电路,在PSpice中仿真得到了宽度约400 ps的UWB脉冲信号。仿真结果表明,PSpice建立的SRD模型符合理论分析,设计的UWB脉冲信号发生电路也完全满足在超宽带引信上使用的需求。     

一种脉冲信号参数测量仪的设计

本文设计了一种基于单片机STC15W4K32S4和DDS频率合成器AD9851的脉冲信号发生器及脉冲参数测量仪.AD9851电路产生的10Hz~2MHz正弦信号经高速电压比较器TLV3501整形为脉冲信号,作为测试信号源,脉冲信号参数测量电路主要包括降压模块、整形电路、数据采集与处理模块.测试结果表明,该脉冲信号参数测量仪实现了对10Hz~2MHz的脉冲信号频率、幅度、占空比、上升时间等参数的准确测量.     

具有高重复頻率和毫微秒响应的阶跃恢复二极管的新穎脉冲形成电路(第一部分)

本文討論了利用二极管由正向至反向恢复的阶跃特性所构成的多种新穎毫微秒脉冲电路;指出了阶跃恢复二极管在高重复頻率毫微秒脉冲电路中应用的多种可能性;并根据电荷存儲概念对各电路的物理机构提出了定性描述。 本文所研究的电路分成三类:将高重复頻率正弦波变換成毫微秒脉冲的形成电路;将响应慢的脉冲变換成响应快的脉冲的整形电路;与晶体管配合的毫微秒脉冲发生器电路。 通过这些电路的討論,提出阶跃恢复二极管在脉冲电路中应用的重要性及潛在能力。在以后的論文中将探討其它新型电路,并对某些电路作較詳尽的分析,提供实际应用举例。     

一种平衡输出皮秒级脉冲源的设计与应用

设计一种平衡输出皮秒级脉冲源电路,该电路由雪崩三极管电路和阶跃恢复二极管整形电路组成.雪崩三极管电路产生平衡输出的纳秒级脉冲信号,经阶跃恢复二极管整形电路整形产生平衡输出的皮秒级脉冲信号.文中分析脉冲源电路的工作原理,制作电路并进行测试.测量结果表明,设计的脉冲源电路可以产生平衡输出幅度±26 V、宽度253 ps、重...     

高精度混沌测量电路研究

由于工作环境等因素造成混沌系统的参数发生漂移,从而在利用混沌轨道距离测量小信号时,精度得不到提高.本文提出了一种减少混沌测量电路参数漂移的新方法.利用镜像恒流源的工作原理,采用三个性能一致的晶体管和若干二极管组成RC充放电回路,该电路结构简单,实验结果表明它能有效地提高测量精度.     

基于脉冲形成网络的超宽带脉冲产生与设计

分析了超宽带天线对冲击脉冲波形的要求.利用阶跃恢复二极管和微带传输线.通过延迟的方法设计并制作了超宽带双极脉冲发生器.根据超宽带脉冲发生器产生的脉冲参数,通过理论分析和时域有限差分法(FDTD)仿真,给出了一种微带脉冲形成网络的设计方法,并利用该方法成功地产生了纳秒级宽度的双极性超宽带窄脉冲信号.测量结果表明:经过脉冲形成网络产生的信号具有良好的波形,且拖尾振荡小,有利于提高天线的辐射效率.     

半导体激光器快速激励脉冲的形成电路

本文讨论用雪崩晶体管作放电开关,分别和电容器、传输线两种储能元件构成的毫微秒脉冲发生器的工作特点,及有关电路参数的选择。也介绍了雪崩晶体管与高频大功率晶体管、大功率MOS场效应管的组合应用。     

超宽带Scholtz’s单周期脉冲的产生电路设计

以并联阶跃恢复二极管（SRD）窄脉冲发生器为基础,结合简单的RLC电路,设计一种直接产生Scholtz’s单周期脉冲的电路结构。这种脉冲近似二次微分高斯脉冲,是超宽带系统中使用较多的一种波形。文章主要讨论了电路原理与设计方法,并进行了仿真验证。仿真结果显示该电路所产生的脉冲信号具有良好的波形,是一种适合于超宽带通信系统的窄脉冲信号产生电路。     

晶体管电流放大系数β的脉冲显示

一、引言随着晶体管电路应用的日益广泛,晶体管性能的测试鉴定引起了普遍的重视.晶体管参数的测试,主要是为电路设计服务的.但是小信号测试及直流测试~[3]与雷达、计算机等领域中的电路工作状态(大信号脉冲工作状态)颇有出入.为了鉴定晶体管在脉冲工作状态下的性能,有研究脉冲测试的必要.同时由于制造工艺方面的技术困难,目前晶体管性能的离散性