Quanta和Quanta FEG系列扫描电子显微镜

Quanta系列扫描电子显微镜是FEI公司最新一代的通用型扫描电子显微镜，是飞利浦著名的XL系列产品的升级换代产品。技术先进、操作方便、维护简单。     

几种扫描电子显微镜植物样品的制备技术

介绍几种生物样品的扫描电镜制样技术。这些技术操作简单，快速且实用。     

扫描电子显微镜在植物中的应用研究进展

扫描电子显微镜(SEM)作为一种行之有效的科研分析工具,可对多种植物材料的表面形貌进行观察研究,具有较广的应用范围.本文论述了扫描电子显微镜样品的制备以及在植物花器官、种子表皮、种子形态、叶片表皮、内含物、病原体以及在植物细胞水平的研究进展,并对今后扫描电子显微镜的应用前景进行了展望,以期为利用SEM从事植物研究的科研...     

环境扫描电子显微镜在材料科学中的若干应用

本文简单介绍了构成环境扫描电镜（ESEM）的多级真空系统和气体二次电子探测器，描述了ESEM的基本工作原理。指出环境扫描电镜在材料科学研究中的独特作用、适用领域，并列举了若干应用实例。     

JSM-35CF扫描电子显微镜故障维修三例

我单位自1981年购进日本电子公司JSM-35CF扫描电子显微镜至今已工作了24年，现将最近几年在使用过程中出现的3例故障作一故障分析，并把解决方法总结如下。     

利用扫描电子显微镜改进GaAs MESFET背面通孔电镀工艺

利用扫描电子显微镜对ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ背面通孔形貌及电镀状况进行了分析，并对电镀工艺进行了改进。给出了大量改善前后的电镜照片图形。     

利用扫描电子显微镜改进GaAs MESFET背面通孔电镀工艺

利用扫描电子显微镜对ＧａＡｓ ＭＥＳＦＥＴ背面通孔形貌及电镀状况进行了分析，并对电镀工艺进行了改进。给出了大量改善前后的电镜照片图形。     

高通量(场发射)扫描电子显微镜技术进展

本文重点阐述高通量扫描电镜概念与发展的过程,具体介绍了高通量扫描电镜拟要解决的问题和对应的设计思路,给出了综合数据通量的定义和影响因素。同时阐述了相应的实现手段,分别从重要模组角度介绍高通量扫描电镜的核心性能。通过实际案例计算,分析比较了高通量扫描电镜与标准场发射扫描电镜间的结果差异。探讨了高通量扫描电镜适合应用的领域,同时指出了目前的设计还存在的不足并展望该技术今后的发展前景。     

扫描电子显微镜测试技术在岩土工程中的应用与进展

综述了扫描电子显微镜（SEM）测试技术在岩土工程中的若干进展，包括样品的制备及测试方法，微观结构变化的动态监测方法，扫描电子显微镜的定量分析技术，微观力学本构模型的研究等方面。就SEM应用现状及发展趋势作了评述。     

扫描电子显微镜在栅光刻工艺中的应用

阐述了扫描电子显微镜在解决栅光刻在线监测中遇到的问题和解决过程。在充分的理论分析基础上,通过大量实验研究,克服了光刻胶在高能电子辐照下变形、变性的问题;削弱了光刻胶样品表面荷电对图像质量的影响;在观测"T"型栅的胶窗口时采用特殊的工作条件获得了三层胶的立体形貌图像,从而能够观察三层胶的内部结构。上述问题的解决和技术的改进实现了栅光刻工艺的在线监测;并为栅光刻工艺的稳定和改进、产品成品率的提高提供了大量数据和图像。     

Nova NanoSEM超高分辨率扫描电子显微镜

现代科学技术，特别是纳米技术、半导体等领域的高速发展对微观观察、表征和分析工具提出更高的、更苛刻的要求。目前的场发射扫描电子显微镜对新的应用要求面临越来越多难以克服的障碍，如：样品表面对电子束特别敏感，样品表面容易产生污染，样品不允许进行表面处理，样品上导电材料和非导电材料并存，等等。     

使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究

电子连接器广泛应用于通信系统、计算机网络、电子系统中。要保证系统良好地运行，必须要求连接器具有极高的可靠性。在连接器触点表面镀金可有效防止环境污染对基底非贵金属材料的腐蚀，大大提高电触点的可靠性、延长其使用寿命。但是，连接器触点一般暴露在大气环境下。     

基于扫描电子显微镜的半导体掺杂剂含量剖面分析研究进展

掺杂剂浓度剖面分析是半导体器件研发、诊断和电学性能提升的关键.扫描电子显微镜因具有埃级空间分辨率、成像速度快、荷电效应弱和辐照损伤小等优点,在表征掺杂半导体方面独具优势.本文简要介绍了扫描电子显微镜在掺杂半导体表征方面的研究进展及挑战,包括SEM图像中掺杂衬度的产生机理、成像参数以及SE的能量和出射角度对掺杂衬度的影响...     

高温热解法制备碳螺线管的扫描电子显微镜研究

采用高温热解法,以乙炔为碳源,在金属催化剂和促进剂的作用下,大量制备碳螺线管.利用扫描电子显微镜对二重螺旋状碳纤维的形成和碳粒子纳米结构进行了观察研究,探讨螺旋生长机制.螺旋状生长的推动力是催化剂中间体的晶面的各向异性。本文还利用扫描电子显微镜表征其拉弹性。     

HELP3DCAWT663x系列：功率放大器

ANADIGICS推出采用其第三代低功耗高效率（HELP）技术的全新功率放大器（PA）系列产品。新的HELP3DCAWT663x系列功率放大器专门针对CDMA、WCDMA／HSPA和LTE设备中包含开关模式电源（SMPS）、     

大豆花芽分化和发育的扫描电子显微镜观察

以无限型开花大豆品种东农47（Glycine max（L.）Merr.cv.Dongnong47）为实验材料,对其花芽分化和发育的不同时期进行扫描电子显微镜（SEM）观察。实验结果表明大豆花芽分化分为4个主要时期：（1）花原基分化期、萼片原基分化期、花瓣原基和雄蕊雌蕊原基分化期、雄蕊雌蕊结构分化期;（2）大豆花的发育过程中不同轮花器官发育时间上的重叠现象,以及同轮上的同种花器官存在着发育时间及程度上的差异,不符合ABC模型理论;（3）花瓣的发育在早期迟缓,后期才迅速发育,直至高过雄蕊。     

cdma2000 1x系统空口接入时长分析

分析了影响CDMA网络接入时长的因素，介绍了可以减少接入时长的优化手段，并且辅以实际的优化案例来体现优化成果。     

一种提高扫描电子显微镜－能谱空间分辨率的方法

目前,扫描电子显微镜－能谱（ SEM?EDS）联用技术在分析测试领域已得到广泛应用,它可对材料和生物样品的微观表面进行形貌观察,并对样品中所选定的微区内进行元素成分定性定量以及元素分布分析。但是,由于元素的特征X射线能量高,在样品中的出射范围较深,能谱的空间分辨率较差,导致在使用传统制样方法时都不可避免地会受到来自叠加样品特征X射线以及基底材料特征X射线的干扰,从而影响最终实验结果。为了克服能谱空间分辨率不足的问题,本文应用薄片法的原理研制了一种新的装置,将纳米厚度的样品分散在装置的碳膜上,进行能谱分析。通过与传统实验的对比,附加新装置后其能谱空间分辨率较以往常规实验提高了2～4倍。