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电容器的损耗是电容器的非常重要的一个指标,是衡量电容器品质的重要标志,决定着电容器的使用寿命和在电路中的作用效果,因此电容损耗值的测量也显的尤为重要。为了能够满足用户对电容损耗测量仪器的校准需求以及现有测量方法中的不足,研制了一套电容损耗校准装置,本文将对该校准装置的相关情况作出详细的介绍。 相似文献
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为解决在片测试系统中1~1000Ω电阻无法进行整体校准问题,通过采用GaAs材料作为衬底,利用半导体工艺中薄膜溅射法,使用轰击离子Ar~+与靶材作用形成反应层,激发出的溅射原子NiCr打至GaAs表面,制作薄膜电阻。采用方块电阻为50Ω/块,通过调节长与宽的比值,研制出1~1 000Ω电阻标准件。为消除电阻测量过程中芯片内部回路引线的影响,研制出相对应的短路器。通过组建具有温度控制系统的定标装置,在-40~100℃温度下对标准件进行定标,定标结果表明电阻标准件的阻值与温度具有良好的线性关系,短期重复性RSD优于0.05%,年稳定性RSD优于0.1%,可以有效解决现有在片测试系统低值电阻参数的整体校准问题。 相似文献
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丁晨乔玉娥刘岩翟玉卫吴爱华 《计量学报》2023,(11):1735-1739
针对在片电容参数溯源及测量不准确问题,提出一种溯源及测量方法,通过在片形式的直通线将测量结果与成熟的四端对标准电容器的量值联系起来,实现了在片电容参数的溯源。通过定量研究干扰回路对测量结果的影响,对探针系统及测量线缆的影响进行修正,准确测量在片电容值,使得测量数据的准确性可验证,计量级在片电容测量系统测量准确度提高0.08%。 相似文献
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本课题拟针对电焊机的校准方法进行研究,弥补电焊机校准工作的空白,研制一套智能型电焊机的校准装置,满足本区域内量值传递的需要,确保量值的准确一致,其校准结果可溯源至国家计量基准。 相似文献
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对型号产品生产、试验过程中所用温度试验设备的计量性能特点进行了论述,提出了测量系统整体自校准方法,在有效保证温度溯源需求的同时,降低了校准成本。 相似文献
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角膜曲率半径、屈光度和散光轴位是评价人眼角膜形态的关键参数。为解决人眼角膜参数准确测量和量值有效溯源,基于角膜反射成像原理,采用球面和环曲面设计形式,首次研制出人眼角膜参数系列标准。曲率半径测量范围为(5.5~10.0)mm,不确定度U=0.002mm(k=2);轴位测量范围为 0°~180°,不确定度U=1°(k=2)。建立了角膜曲率计工作基准装置国家计量标准,形成了人眼角膜参数量值传递与溯源体系。实验结果表明,该计量标准可以满足人眼角膜参数测量仪器的校准和量值溯源,保证人眼角膜参数的测量准确。 相似文献
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提出了一种增强型的在片SOLR校准方法(eSOLR),结合无需定义的直通传输线标准,2对对称的反射标准(开路标准、短路标准)和1对准确定义的负载标准,实现微波毫米波频段的校准测试。详细给出了8项误差模型的求解过程,同时采用校准比较算法对商用校准方法和eSOLR进行了验证。实验结果表明,eSOLR优于现有的商用SOLT、LRRM校准方法。0.2~110GHz陶瓷衬底的无源失配衰减器验证件测量结果表明,新方法S11测量结果更加连续,测量结果与多线TRL更为吻合。 相似文献
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针对在片S参数校准,设计制作GaAs衬底SOLT校准组件,通过计算方法对校准组件中直通、开路、短路和负载校准件中偏置传输线的时延和损耗进行定义,运用基于NIST multiline TRL校准的测量方法对校准组件中开路校准件电容和短路校准件电感参数进行提取,结合直流电阻测试法测试负载阻值大小,实现对SOLT校准组件的完整表征。最后用自行研制并表征的SOLT校准组件校准在片S参数测试系统,通过测量无源器件验证校准效果,将测量结果与NIST multiline TRL校准后的测量结果比较,在20 GHz内传输幅度最大偏差0.1 dB,传输相位最大偏差3.5°。 相似文献
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本文介绍了检定和校准的概念及区别,指出了检测实验室在检测设备校准结果确认方面存在的问题,结合多年实验室技术管理的经验,举例说明了检测设备校准结果的确认步骤和方法。 相似文献
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文章根据集成电路在片测试系统的组成结构和工作原理,以研制的集成电路fF (飞法)级在片小电容标准样片为基础,设计并制备了10 fF~500 fF系列在片小电容标准样片,处于国内领先水平。在有效减小电缆、探针影响的同时,研建了集成电路在fF级片小电容定值装置,研究了集成电路fF级在片小电容定标方法及不确定度评定。该方法可用于14 nm以下集成电路FinFET、 GGAFET器件及碳纳米管等新结构、新原理器件的研发过程中,确保超先进工艺制程研发中小于1 pF量级在片电容量值的准确可靠。 相似文献