共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
丁晨乔玉娥刘岩翟玉卫吴爱华 《计量学报》2023,(11):1735-1739
针对在片电容参数溯源及测量不准确问题,提出一种溯源及测量方法,通过在片形式的直通线将测量结果与成熟的四端对标准电容器的量值联系起来,实现了在片电容参数的溯源。通过定量研究干扰回路对测量结果的影响,对探针系统及测量线缆的影响进行修正,准确测量在片电容值,使得测量数据的准确性可验证,计量级在片电容测量系统测量准确度提高0.08%。 相似文献
3.
4.
5.
十五、溯源性(traceability)溯源性的概念在第二讲中已有详细的论述。本条款是关于供方计量确认体系对溯源性规定的要求。1.应该使用可溯源的测量标准校准测量设备。具体地说,要求供方的所有测量设备都进行校准,为此,供方应该建立自己的测量标准或利用经认可的技术机构的测量标准。其次,这种测量标准应该由准确度更高的测量标准来校准,通过有规定不确定度的溯源链直至与国家的或国际的测量标准联系起来,以此保证测量结果的准确一致。2.国际或国家测量标准应符合国际计量大会(CGPM)的建议。“建议”是指经国际计量大会批准的由… 相似文献
6.
为实现芯片电容参数测量过程中的有效开路,提高在片电容测量的准确性及一致性,针对在片电容开路方法开展了研究工作。通过对标准电容器及开路器原理结构进行分析,结合半导体芯片工艺测试实际需求,设计并制作了在片开路器。在完成在片电容测试系统搭建基础上,分别利用传统悬空开路法和在片开路法对1pF量值的在片电容进行了测量。实验数据显示,同悬空开路法相比,在片开路法电容测量结果的准确性及一致性有显著提升,测量重复性可达0.01%,为芯片电容计量测试工作提供了有效开路手段。 相似文献
7.
天幕靶测量系统校准方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
天幕靶是外弹道参数测试的常用设备,主要用于各种弹丸的初速、飞行时间以及着靶速度等测试,随着武器系统试验质量管理体系的逐步完善,要求其测量数据准必须准确可靠,并可以不间断溯源至国家基准。传统做法是进行单靶指标测试和出厂时系统标定,但标定的专用装置无法直接溯源,因而难以确保天幕靶测量数据的准确统一。本文提出了一种基于通用仪器的天幕靶系统校准方法,分析表明:该校准方法准确度高,易于溯源,从而确保了天幕靶出具的外弹道参数量值准确统一,满足武器系统试验质量管理体系要求,具有较高的推广应用价值。 相似文献
8.
9.
目前国内开展转矩转速测量装置量值溯源的主要技术依据是JJG 924-2010《转矩转速测量装置》检定规程.根据规程6.1.3条款的要求,开展转矩转速测量装置的检定用设备为扭矩标准机.[1]转矩转速测量装置所测量的转矩值为动态量值,规程中规定不同准确度级别的转矩转速测量装置采用不同准确度级别的扭矩标准机开展量值溯源,势必造成动态量值以静态方式溯源的尴尬现状.本文将重点围绕转矩这个动态量值的校准方法展开研究,研制一套转矩转速测量装置量值动态校准装置,保证溯源量值和实际使用状况一致. 相似文献
10.
扫描电子显微镜是半导体领域用于关键尺寸测量的重要仪器。为了保证仪器量值的准确和一致,需要对扫描电子显微镜进行校准。首先,针对校准规范中提到的正交畸变和线性失真度参数,采用半导体工艺,研制了一种标称值为10μm的格栅样板。其次,为了准确评价格栅特征的一致性,研究了一种矩形检测算法。测量过程中,使用该算法对样板的格栅特征进行测量,并把使用原子力显微镜获取的测量数据作为参考值。实验结果显示:矩形检测算法能够快速检测出格栅特征,测试数据稳定在6nm以内。此外,研制的格栅样板一致性好,一致性参数控制在0.2以内,能够应用于扫描电子显微镜的校准。 相似文献
11.
12.
<正>目前,国内暂无石油产品光安定性测定仪的相关计量检定规程或校准规范。对石油产品光安定性测定仪的校准方法进行研究,可为构建石油产品光安定性测定仪量值溯源体系提供技术依据。一、校准方案的设计1.校准所用的主要计量器具(1)温度测量设备:测量范围为50℃~150℃,最大允许误差为±0.3℃。 相似文献
13.
14.
15.
16.
美国NIST Multi-TRL校准技术实现在片散射参数(S参数)的精确校准测试,但国内尚未实现上述校准技术,致使在片测量准确度不能满足精密测试需求。在充分研究Multi-TRL算法并自主推导相关核心公式的基础上,开发Mutli-TRL校准软件CETC13,并对校准软件准确度进行验证。然后利用半导体工艺开展0.1~40 GHz Multi-TRL校准标准1312的设计和制作,通过衬底厚度、横截面的优化设计,该校准标准能有效抑制多模传输。CETC13校准软件与校准标准校准过的在片系统测量结果与国外相同等级的在片系统相比,在0.1~40 GHz频段内,传输幅度相差0.05~0.10 d B,相位相差0.05°~1.3°;反射幅度相差0.002~0.007,可解决国内在片S参数精确校准测试问题。 相似文献
17.
18.