电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.     

基于加速性能退化试验的板级可靠性评估

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。     

产品的可靠性试验和筛选

随着科学技术的迅速发展,电子产品的应用范围不断扩大,而且产品本身也越来越复杂,使用的环境条件也日益严酷。特别是尖端事业的发展对电子产品提出更高的要求,如导弹系统,卫星通讯系统,自动控制系统等等,不仅要求电子产品有良好的技术性能,而且更重要的是要求能够长期准确、可靠地工作。即要求产品有高的可靠性。可靠性实质也是质量问题。对产品的可靠性做出评价需要进行一系列的可靠性试验,如可靠性筛选试验,资格鉴定试验、寿命或加速寿命试     

一种基于振动应力变换的加速试验方法研究

随着电子元器件寿命的延长,电子设备的寿命也越来越长.为了适应高可靠产品的要求,评估、鉴定验收电子设备的可靠性水平时.越来越多地应用加速试验.介绍一种应用改变振动应力的方法来加速整个试验过程.数据的统计和分析方法参照了GJB 150A.16A-2009的规定.在此标准中,不同振动环境的疲劳等价关系可以通过公式进行等价转换,可以确定所累计的各种振动环境产生的振动疲劳损伤和振动耐久试验的加速试验量值.在实验室条件下,该方法可以方便地、可操作地评价出电子产品的可靠性水平.     

通用电子产品全寿命周期可靠性分析方法

可靠性是电子产品的不可见质量.通用电子产品的故障事件频发,但是,现有的针对电子产品可靠性的研究却过于“专一化”,尚未对通用电子产品在整个寿命周期过程的可靠性作出全面的分析.如何在电子产品研制、试验、生产、使用和维修的整个寿命周期中,对电子产品的可靠性进行定性分析和量化评价,是通用电子产品可靠性分析评估中急需解决的问题.针对以上问题,提出了一种对电子产品在全寿命周期中的可靠性进行定性与定量分析的方法,并以某智能电表为例,进行了案例分析.     

印制电路板加速寿命试验方法综述

寿命试验是一种重要的可靠性试验,基于加速寿命试验方法和大数据分析的印制板可靠性评估技术,未来应用前景广大.文章综合阐述了可应用于印制板加速寿命试验的常用加速寿命试验模型、加速因子计算和加速寿命试验方法,希望能够为业内相关研究和应用者提供一定指导和帮助.     

绪论

电子束显示器件是显示设备和电子仪器的关键器件之一,它的长寿命,高可靠是实现有关电子设备的先决条件。 高可靠和长寿命是一门专门科学,它涉及到近代数学、近代物理化学等广泛的内容。国外从事这一学科的研究工作已有六、七十年的历史,特别是五十年代后,可靠性问题的研究工作得到了全面的发展。我国早在第一个五年计划期间,就建立了可靠性的试验基地,调查和收集电子产品的使用情况,统计分析电子产品的失效原因,并开展了部分电子产品的可靠性试验。长期以来,在各种可靠性试验的基础上,还对失效产品进行了物理、化学分析。探索失效的机理,从而对原材料,设计、工艺、技术管理等多方面采取相应措施,提高了电子产品的可靠性水平。     

可靠性设计、试验与设备

0019782产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术[刊]李俭川//电子产品可靠性与环境试验.—2000,(4).—45～48(A)加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。参70019783基于遗传算法的 PCB 互连测试矢量集优化初探[刊]/卢静//桂林电子工业学院学报.—2000,20(3),—41～     

集成电路可靠性应用技术

本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式.加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrhenius model等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效现象,对以上可靠性指标和理论作简要的论述.     

彩电回扫变压器加速寿命试验电源设计及其可靠性考虑

l前言彩电回扫变压器是彩色电视接收机的关键部件，其可靠性的高低和寿命的长短直接影响彩电的可靠性质量水平。为满足彩电可靠性（hfl？I3F）15op小时）的要求，国家标准GB9367－88（彩色电视接收机用回扫变压器总技术条件）规定了直接考核回扫变压器可靠性和寿命的试验项目——加速寿命试验。此后，各种加速寿命试验设备相继问世，从初期的温箱十彩电十相关测量仪器所构成的试验和测量系统，到后来的综合性试验和测量系统，这些设备为考核回扫变压器的可靠性起了重要作用，但是，都不同程度地存在一些问题，有的设备没有低压负载，降低…     

Reliability estimation of aeronautic component by accelerated tests

This article presents a reliability assessment of aeronautic electronic board using the accelerated test approach. The mission profile used is one defined in FIDES for electronic equipment in aircraft. The reliability function is defined taking into account the different phases of product life (Ground, Taxiing, Flying, Dormant). FIDES describes the environment (thermal and humidity, thermal cycling, mechanical, …) for each phase. The paper presents the different accelerated life models used to take into account all environment. A test plan is proposed to estimate the unknown parameters of accelerated life models. The thermal and humidity and thermal cycling tests have been performed and the data are analyzed. Finally, the reliability function is evaluated.     

Semi‐quantitative temperature accelerated life test (ALT) for the reliability qualification of concentrator solar cells and cell on carriers

An adequate qualification of concentrator photovoltaic solar cells and cell‐on‐carriers is essential to increase their industrial development. The lack of qualification tests for measuring their reliability together with the fact that conventional accelerated life tests are laborious and time consuming are open issues. Accordingly, in this paper, we propose a semi‐quantitative temperature‐accelerated life test to qualify solar cells and cell‐on‐carriers that can assure a minimum life when failure mechanisms are accelerated by temperature under emulated nominal working conditions with an activation energy >0.9 eV. A properly designed semi‐quantitative accelerated life test should be able to determine if the device under test will satisfy its reliability requirements with an acceptable uncertainty level. The applicability, procedure, and design of the proposed test are detailed in the paper. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd.     

Competing causes of failure and reliability tests for Weibull lifetimes under type I progressive censoring

For many high reliability products where very few items are expected to fail during the test period, testing under normal conditions is not feasible. Further, the requirement for high reliability increases the need for test procedures which yield valuable degradation and other useful information for improving product reliability. Thus in some manufacturing and other experiments, various types of failure censored and accelerated life tests are commonly employed for life testing. In this paper we discuss Type I progressively censored variable-sampling plans for Weibull lifetime distributions under competing causes of failure. The proposed procedure is attractive as it yields useful degradation-related information for improving product quality. In addition, the procedure is useful when a test is conducted under severe time constraint and/or when the experimenter wishes to save costly specimens or scarce test facilities for other use.     

HALT测试综述

HALT(highly accelerated life testing)测试,主要应用于产品研发设计阶段,对于暴露产品的潜在缺陷效果明显,是设计工程师提高产品可靠性的重要实验手段.目前该实验方法已被国内外电子业界充分认可并逐渐推广使用.本文介绍了HALT测试对提高产品可靠性的重要性,阐释了与HALT实验相关的一些术语和定义,并就如何进行HALT实验进行了较详细的论述,内容涉及实验前的准备工作、实验参数的规格指标、实验设备的能力要求以及实验步骤和实验细节等.文章还对HALT实验后关于测试报告和后续整改及验证的要求进行了概括.     

LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法

介绍了一种关于发光二极管（LED）可靠性评估的加速寿命试验设计方法。通过这个方法,在针对LED的性能退化现象和运行不稳定问题进行加速试验设计时,可以在已知目标可靠度和置信度的前提下,定量地确定满足可靠性要求的试验用样本量、加速应力水平以及试验时间。同时,用于发光二极管加速寿命试验的基本设计思想,可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。     

可靠性测试方法在电子产品中的应用分析

在我国工业和科学技术实现飞速发展的现阶段,质量检验与可靠性测试技术在各个领域中已经实现了较为广泛的渗透,特别是对于电子产品而言,其在人们的日常生活和工作中的使用频率明显高于其他产品,进而对电子产品的质量提出了越来越高的要求,这也给电子产品可靠性测试工作的开展带来了一定的挑战.因此,要进一步加大对可靠性测试方法在电子产品中的应用课题的研究力度.     

汽车电子产品环境与可靠性试验标准研究

汽车电子产品的可靠性,直接关系到整车的安全性和可靠性,因此其测试要求也比较严格。介绍了汽车电子产品环境与可靠性试验所采用的标准,并对相应标准中的试验项目进行了分析研究;同时,举例分析了试验顺序方案的制定方法。     

可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。