半导体分立器件参数的脉冲测试

本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法．     

分立逻辑器件将便携式系统连结起来

诸如微处理器、控制器、DSP和ASIC产品等超大规模半导体集成电路是启动便携式电子产品快速成长的最主要技术;然而,在今天的几乎每一款便携式产品内部也会看到很多的分立逻辑器件,这些器件在连结便携式系统方面扮演了一个关键性的角色:将内核部分与外界联系起来的接口部分以及给产品增加的诸如升级、时钟分配和调节、电源管理支持等任选功能方面。这个角色与高集成度器件一样重要。     

分立器件

FGA25N120ANTD：1200VNPT沟道IGBT 飞兆半导体公司推出1200VNPT沟道IGBTFGA25N120ANTD，结合了良好的抗雪崩能力和经优化的开关和导通损耗性能权衡，能为电磁加热（1H）应用提高系统可靠性和效率。FGA25N120ANTD为微波炉、1H电饭煲和其它1H炊具而设计，与上一代器件相比，它的工作温度可降低10℃，因而能够延长系统寿命。     

分立器件

FS系列车载用稳压二极管NEC电子完成了44款用于汽车的助力转向系统、发动机控制、ABS(防抱死制动系统)等电子控制单元的稳压二极管产品FS系列的开发,并开始发售样品。     

分立器件

MRF6VP3450H:RF功率晶体管飞思卡尔推出50V横向扩散MOS(LDMOS)RF功率晶体管,MRF6VP3450H旨在让TV发射器采用模拟和数字两种调制格式。高效的RF功率晶体管通过把AC输入功率转换成RF输出功率,降低运营成本。     

ETS-200T/FT:Teradyne公司的分立器件成品测试解决方案

ETS-200T/FT(成品测试)是专为分立器件测试而设计的,特别针对在旋转式和其它转位并行式的机械分选机上测试的功率场效应管(Power FET)。ETS-200T/FT是使用Eagle提供的转位并行架构来提供功率场效应管的测试方案,最多支持5个测试站,每个测试站可以测试不同的测试项目,并且能够覆盖直流参数、交流参数、雪崩能量测试     

分立器件封装及其主流类型

分立器件封装也是微电子生产技术的基础和先导。本文介绍国内外半导体分立器件封装技术及产品的主要发展状况,评述了其商贸市场的发展趋势。     

压力敏感器件智能测试系统的设计

设计了一套压力敏感器件智能测试系统,通过自动控制高低温试验箱、压力控制器、高精度数字万用表、绝缘电阻测试仪、漏电流测试仪等仪表,实现对压力敏感器件的温度冲击老练、温度补偿、静态特性、稳定性等多项参数的自动测试;同时,该系统能够实现对压力敏感器件测试数据的自动整理、分析、处理,形成测试报告,给出传感器质量分析报告,最终达到对压力敏感器件的自动测试。将该系统应用于压力敏感器件的测试中,可以提高传感器的测试效率和产品质量,降低生产成本。     

半导体器件测试虚拟仿真教学实验设计

半导体器件是集成电路的核心基础,器件特性是器件建模和集成电路设计的重要依据,半导体器件测试成为集成电路相关领域人才必须掌握的重要实践能力。针对实际测试实验存在设备和耗材昂贵、测试过程耗时长等问题,通过搭建半导体器件交直流特性测试系统的虚拟模型,并基于InP基器件科研测试数据反哺教学,学生通过对器件在不同偏置下不同特性的虚拟测试,巩固半导体器件理论知识,掌握测试设备操作技能,全面提升动手实践能力。     

集成电路测试系统软件的设计及实现

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以及对文本测试程序的编译方法。用户只需要根据测试流程编写流程图即可以实现测试程序的编写,实现对IC的测试,提高了开发效率。该软件系统具有和硬件系统低耦合性,当向集成电路测试系统添加删改硬件时,不需要修改太多的软件内容即可以正常工作,通用性较好。     

半导体激光器加速寿命测试系统研制

介绍了半导体激光器(LD)加速寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD寿命测试系统。该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制出LD的老化曲线,即恒功条件下的“I-t曲线”,然后推断LD的使用寿命。     

某嵌入式软件可靠性仿真测试系统设计与实现

根据软件可靠性要求,在对某嵌入式控制软件进行功能需求和组成结构分析的基础上,设计实现了一种嵌入式可靠性仿真测试系统。该系统主要是针对某嵌入式被测系统建立仿真测试环境,对被测系统中的嵌入式软件进行可靠性测试。文章重点对系统设计中的需求分析、系统构成和构成系统各个模块的设计方法进行了阐述。最后通过测试实践验证了系统在实际嵌入式软件可靠性测试中具有较高的使用价值,并为其他类嵌入式软件的可靠性测试提供了一种较为灵活的思路。     

功能测试系统开发平台设计

为满足电能表系列产品的测试需要,减少功能测试软件的开发周期,提升公司产品功能测试能力,特提出电能表功能测试软件开发平台的设计概念。本设计旨在建立一套统一的功能测试软件开发平台,通过分层、模块化、高度抽象的设计理念,逐步将介质库、协议库、功能库、语言库、界面库等成熟技术集成到该平台上,并通过预留接口的方式保留对平台的二次开发功能,从而实现测试软件的快速设计能力,保证功能测试的开发需求。     

通用光伏系统测试平台的设计

为了统一光伏系统测试方案,避免项目管理混乱和不必要的重复设计等问题,提出了一种通用光伏系统测试平台,制定了光伏系统与PC软件端数据交互协议,实现了用来获取常用光伏系统测试参数及具有良好扩张性的通用用户监控界面。测试结果表明,该测试平台很好地解决了上述问题,从而缩短了系统设计周期。     

汽车速度及加速度在线测量装置

基于光电测速原理，利用半导体激光器。设计了一种新型的汽车速度与加速度在线测量装置，其测量精度优于0．5％，测量车辆速度范围（反应速度）：20-120km／h。且造价低，寿命长。文中详细分析了其设计原理、测量精度及实现方法。     

导弹发射装置测试系统的设计与实现

机载导弹发射装置用于在飞机上安装和载运导弹,并按规定的发射程序控制和实施导弹的发射。讨论了导弹发射装置测试系统的设计与实现,主要探讨了此测试系统的系统设计、系统管理、软件开发。测试系统的设计按照某型飞机导弹发射装置的测试要求,将系统的各个功能模块连接起来,可以完成导弹发射装置的各个功能部件的测试。     

Multivariate rational regression and its application in semiconductor device modeling

Physics equation-based semiconductor device modeling is accurate but time and money consuming. The need for studying new material and devices is increasing so that there has to be an efficient and accurate device modeling method. In this paper, two methods based on multivariate rational regression (MRR) for device modeling are proposed. They are single-pole MRR and double-pole MRR. The two MRR methods are proved to be powerful in nonlinear curve fitting and have good numerical stability. Two methods are compared with OLS and LASSO by fitting the SMIC 40 nm MOS-FET I–V characteristic curve and the normalized mean square error of Single-pole MRR is \begin{document}$3.02 \times {10^{{\rm{ - }}8}}$\end{document} which is 4 magnitudes less than an ordinary least square. The I–V characteristics of CNT-FET and performance indicators (noise factor, gain, power) of a low noise amplifier are also modeled by using MRR methods. The results show MRR methods are very powerful methods for semiconductor device modeling and have a strong nonlinear curve fitting ability.     

PT泵的微机测试系统的设计

为实现PT泵的自动化测量,以单片机为核心设计一种多功能PT泵检测系统。该系统具有燃油流量检测、油泵压力检测、油温检测、转速检测等功能,可实现PT泵各种参数的数字化测量,并且具有功能齐全、结构简单等特点．适用于多种PT泵的性能检测。