加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。     

高加速应力试验及极限应力试验综述

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。     

可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。     

浅谈高加速寿命试验和高加速应力筛选

本文简要介绍了高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)试验技术的产生、作用及应用对象，重点阐述了HALT／HASS试验技术基本原理和试验过程．     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。     

加速可靠性试验技术及其应用

加速可靠性试验是一项新兴的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比.从全寿命周期管理的需求出发,对加速可靠性试验技术进行了简要的介绍,讨论了加速可靠性试验对于加强军品质量控制的作用,介绍其研究现状,并对如何深入开展加速可靠性试验的研究与应用工作提出建议.     

产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术

加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。     

A Reliability Statistics Perspective on the Pitfalls of Standard Wafer-Level Electromigration Accelerated Test (SWEAT)

Standard Wafer Level Electromigration Accelerated Test (SWEAT) has become a common fast wafer level reliability test for electromigration in industry. However, its ability to detect changes in processes and its correlation with conventional electromigration test result has come under close scrutiny. From the perspective of reliability statistics, SWEAT also has other pitfalls that render its test results questionable. In this work, these pitfalls are highlighted, and alternative wafer-level electromigration tests are discussed. The arguments that the SWEAT is not appropriate for evaluation of electromigration of metal lines are presented. SWEAT as a tool to evaluate electromigration lifetime of metal lines is not recommended unless the pitfalls are seriously looked at.     

电子产品加速寿命试验的一种优化设计

在两个未知参数的加速方程中,设定一个约束条件,以MLE渐进方差最小为准则。给出了指数分布（电子产品寿命数据）下k≥3个应力情况失效数据分配的最优设计。     

基于加速性能退化试验的板级可靠性评估

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。     

循环序进应力加速寿命试验的统计分析

讨论了在产品寿命服从指数分布的情况下,循环序进应力加速寿命的分布函数及试验的数学模型．并给出了相应参数的估计。     

电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.     

某军用直流电源的RET方法研究

可靠性强化试验(RET)是一种新兴的试验技术,它使用在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。以某军用直流电源为例介绍了可靠性试验方法,并对可靠性强化试验方法的优越性进行了讨论。     

基于加速环境的可靠性指标验证试验

首先进行了电子产品失效模型的理论研究,并利用加速退化试验技术而研究了某通信产品失效机理一致的应力范围,通过对试验数据进行的统计分析,计算出失效机理一致情况下的激活能。在可靠性指标验证的试验研究中,将试验样品分成若干组分别进行恒温加速验证试验,并将试验结果与现场统计数据进行比较,最终确定产品的MTBF。