乳房X射线成像的CCD探测器

1.引言本文介绍了一种用于乳房X射线成像的多模块组合式CCD探测器。作力一种实用的医疗设备,用于乳房X射线成像的探测器必须满足一系列性能指标,如:成像面积大(18×24cm)、高DQE、高空间分辨率高、信号输出快、     

NEG—1型引出规的X射线限及其原位测定

本文对一种改进型引出规(NEG-1型)的X射线限及其原位测定方法作了讨论.用和普通B-A计的几何因子相比较的方法,对三种X射线源引起的X射线限的大小作了估算,其结果表明,电子打上反射产生的X射线所决定的X射线限是限制该引出规测量下限主要的原因.用深度调制法测得X射线限为～1.6×10~(-11)Pa(等效N_2压强),这与理论估算结果相吻合.     

乳房X射线摄影模型图像的计算机分析（CAMPI）

1.引言乳房X射线摄影模型的计算机分析(CAMPI),是一种客观而精确测量馍型像质的方法。应用CAMPI方法对Fisher乳房测试有规则实体数字式活体组织检验仪器进行研究。在变化的X射线条件下.使用这台仪器获得了集中在最大两个微钙化组上的ACR(美国放射学院)图像模型。图像分析表明.从基本的图像     

分离规的新设计

本文提出了一种具有圆筒形反射极和圆台形鼠笼式结构的新型分离规.用数值计算的方法求出了电子和离子轨迹.对离子的引出效率和收集效率及X—射线光电流作出了实验研究.计算和实验结果表明,该分离规的几何结构和选用的电极电压对于提高灵敏度和降低X一射线光电流都是有好处的.该分离规在没有附加调制电极的情况下可实现自调制和“深度调制”来确定X—射线光电流.特别是深度调制技术,其调制系数K(定义为在X—射线光电流可略去不计、高真空条件下(10~(-8)～10~(-8))托调制状态的收集极电流对正常运用状态的收集极电流之比)的数值可小到10~(-4),使得该分离规可在比X—射线极限高2～3个数量级的压强下来确定X—射线光电流.由于结构设计的改进和电极电压的合理选择,使得其X—射线极限大大降低,和普通B—A计用几何因子作出比较所估算的X—射线极限,及用深度调制技术求得的X—射线极限均小于1×10~(-13)托(等效N_2压强).其灵敏度约为25托~(-1).     

其它计算机理论与技术

Y90-62009-127 0004652子波增强数字化乳房 X 射线图象中微钙化检测用的人造神经网络=An artificial neural network for detect-ing microcalcifications in wavelet-enhanced digitised     

产学联盟 飞利浦打造顶尖微电子教育基地

2004年11月4日，飞利浦消费半导体创新中心(CBIC)在上海正式成立。CBIC是一个集成电路设计中心，通过市场和业务驱动的创新，将为显示解决方案、电视系统和互联多媒体解决方案这三大消费业务领域创造并提供具有突出优势的解决方案。CBIC在上海成立，将使飞利浦的设计和产品更贴近中国市场。CBIC的成果将首先服务于中国市场，进而拓展到全世界。     

GaAlAs/GaAs外延层多层膜X射线干涉条纹的研究

作者在MBE法和LPE法生长的GaAlAs/GaAs外延片中观察到了多层膜的X射线干涉条纹.用X射线双晶测角仪记录了这种干涉条纹,并从条纹振荡的周期计算出外延片中相应外延层的厚度.在实验样品具有一定曲率半径(在本实验条件下10—30米)的情况下,用X射线双晶形貌法摄取了这种干涉条纹相,并对弯曲外延片的成相几何进行了分析;通过测量貌相图上干涉条纹的振荡周期,计算出了外延片的曲率半径.     

提高乳房照相质量的薄膜阵列半导体探测器

SPire CorP公司从与美国军事医学研究司令部的合同中获得经费80万美元,并利用4年时间研制镉锌碲(CdZnTe)薄膜探测器,用于数字化乳房照相诊断。根据Spire公司的分析,研制的大面积、自扫描、平面X射线探测器阵列比现有的基于闪烁仪X射线探测系统更为有效,它产生一个逼近乳房形像的直接X射线照片,     

视频技术

Y90-62009-115 0004334数字化乳房 X 射线图象中的块检测=Detection ofmasses in digitised mammograms[会,英]/Pfisterer,R.& Aghdasi,F.//Proceedings of the 1998 South AfricanSymposium on Communications and Signal Processing(COMSIG’98).—115～120(PC)Y90-62009—139 0004335各种运动估计算法对于泡沫成象的适用性研究=An     

基于级联卷积神经网络的疲劳检测

为了诊断热核聚变等离子体状态,研制了用于热 斑区等离子体诊断用的新型X射线光谱仪,能够同 时探测X射线光谱与聚爆靶图像信息。光谱检测功能由4块椭圆晶体分析器实现,材料分别 为α-石英(1010)、 α-石英(2023)、α-石英(1011)和Si(111),几乎能够覆盖2~20 keV能带范围内的X射线特 征光谱。光谱检测 结构为光源位于椭圆的一个焦点,其辐射光谱经过椭圆反射聚焦于椭圆另一焦点,由X射线 成像板(IP)接收。图 像检测功能由分幅相机匹配小孔阵列成像完成,理想状态能够得到20 幅不同时间的聚爆靶图像。在谱仪与 聚爆靶之间的调整台上设置厚为60μm的Be膜,以保护针孔与晶体避 免聚爆溅射碎片破坏。在中物院“神光- Ⅱ”升级装置上进行了打靶实验,获取了X射线光谱与聚爆靶图像信号。分析了光谱及图像 信息,并针对光谱 仪漏光问题改进了光谱仪结构,最后在神光-Ⅲ原型装置上进行了验证实验并获得比较理想 的图像信号,信噪比(SNR)数据达到15dB。     

在激光靶丸压缩实验中获得亚微米分辨率X射线成象技术的光学模拟

在拟议中的用几千焦耳的多光束激光驱动的靶丸压缩实验中，预计高温压缩核心尺寸约为1微米。目前使用三类仪器来获得在此种实验中该核发出的X射线辐射的空间的信息：（a)针孔照相机，（b)X射线掠入射显微镜；（c)菲涅耳波带片。     

红外热象仪在诊断乳腺肿瘤中的应用

乳房肿瘤是最常见多发的肿瘤之一,其诊断方法一般有常规的体检触诊法,但其检查准确率较低;X射线检查法,又对人体有损害。近年来开始应用的红外线热象图检查法对检查乳房肿瘤已取得较好成绩。     

铟对GaN基激光器晶体质量的影响

利用高分辨X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)对GaN基蓝紫半导体激光器中的n型AlGaN/GaN超晶格在铟背景下进行生长对器件的晶体质量的影响进行了研究分析.分别测量了(0002),(10-11),(10-12),(10-13),(10-14),(10-15)和(20-21)不同晶面的摇摆曲线.利用Williamson-Hall图对X射线衍射的试验结果进行了分析,进而研究了该器件中的线位错.分析表明,在铟背景下生长的n型AlGaN/GaN超晶格相对传统的AlGaN/GaN超晶格而言,可以大大降低GaN基蓝紫半导体激光器中的位错密度并获得较好的晶体质量.这一结论与利用原子力显微镜分析得到的结论完全一致.     

激光器

SPIE-Vol.3776 01147891999年 SPIE 会议录,卷3776:软 X 射线激光器及其应用,3=1999 proceedings of SPIE,Vol.3776:Soft X-ray lasers and applicationsⅢ[会,英]/SHE-The Inter/national Society for Optical Engineering.—1999.—312P.(EC)本会议录收集了于1999年7月19～20日在科罗拉多州 Denver 召开的软 X 射线激光器会议上发表的34篇论文,内容涉及瞬态碰撞激光器,相对性电子束互作用,饱和台顶 X 射线激光器近场成象,OFI 与内壳层 X 射线激光器,放电泵浦激光器,10~(-15)(尘)秒级激光 X 射线的超快原子运动。     

相对法计算X射线深度分布φ(ρz)函数的缺陷及其改进

固体中特征X射线深度分布φ(ρz)函数是电子显微学、电子束显微分析的重要物理基础,计算方法是:φ(ρz)函数在固体某一质量深度ρz的值,等于该深度处厚为dρz的薄层中产生的X射线几率与具有相同厚度孤立薄层中产生的X射线几率之比。我们称之为相对计算法。作者发现,相对法存在很多缺陷:1.没有严格按定义计算φ(ρz)函数。考虑φ(ρz)曲线的精度,孤立薄层的厚度应取得充分薄,一般为电子两次散射间平均自由程,要准确计算这样薄的孤立膜中X射线激发几率是困难的。因此,一些学者在理论计算中都用表面电离截面来代替,如R L Myklebust.D.E.Newbury及H.Yakowitz等的工作,我们严格按定义对B、Si、Fe、Ni、Ag、Au在20keV时计算了integral from n=0 to ∞(φ(ρz)dρz值,同时用传统相对法作了计算,发现后者计算结果存在系统误差,原子序     

边缘学科分支最新动向

TNse051,TP399 95051296理想X射线血管造影像的自适应采集/刘济林,高春鸣,阮苏苏,顾伟康(浙江大学)11中国生物医学工程学报二1995,14(2)一178~181 文中提出了理想X射线血管造影像的自适应采集方法,分别在实验室里和医院里用所研制的数字造影装置进行了临床实验,得到了满意的效果.图3参义北) 讨论了用Hopneld优化网络解决DO人估计问题方法的有效性和正确性.文中主要分析‘把DOA估计做为一个优化问题映射到神经网络上.这一方性的有效性和正确性‘图2参9(文)TN一051,TP399 95051297评价心脏功能的人工神经网络方法/秦明新,曹彤,鲍洪涛、…     

软X射线高反射率多层膜反射镜

日本松下技术研究所用准分子激光CVD工艺技术实现软X射线聚光用高反射率多层膜反射镜,这种反射镜是在硅基板上由钨(W)和硅(Si)交互沉积的多层膜(W/Si)构成椭圆柱面反射镜(尺寸:55×55mm~2,短半径60mm),(图1).多层膜的各层,在基板纵剖面内的膜厚是不同的.该椭圆形反射镜能把点光源发出的软X射线聚成光束.所发出的两条光线能聚焦成一点.     

话音频带压缩的传输装置

一、图的简要说明:图1是采用分频压缩原理的系统方框图.图2、3、4、5是分析分频压缩原理的信号波形及其频谱图.图6是专利第301795号(特许公报昭37——3963号)介绍的压缩系统方框图.图7为第6图被压缩以后的输出波形图.第8图是经过复调制后的电压波形图.图9、10是本实例1的系统方框图.图11、12是本实例2的系统方框图.图13、14是本实例3的系统方框图.     

国外工艺文献导读

20 0 4 0 4 0 1　 2D/ 3D检测—VdoEFoank .CircuitsAs sembly ,2 0 0 4 ,15 (1) :2 6～ 2 8(英文 )在今天的电子组装中 ,X -射线系统的作用越来越重要。它可以透过材料体探测面阵列器件的隐藏焊点。 2D/ 3DX -射线检测相结合是最佳的设计、生产和质量控制的工具。本文从 2D与 3D图像、2D与 3D相结合和 2D/ 3D检测应用等方面介绍了灵活方便的X射线检测系统。2 0 0 4 0 4 0 2　ODM挑战EMS—BillCoker .CircuitsAs sembly ,2 0 0 4 ,15 (2 ) :34～ 37(英文 )在赢得母板市场后 ,基于亚洲的原始设计制造者 (ODM)已把他们的目光投向…     

弯晶谱仪在X射线探测中的应用

为了对激光等离子体进行诊断,研制了聚焦型椭圆弯晶谱仪用来探测等离子体辐射的X射线.谱仪利用从椭圆一个焦点发射出的光线经椭圆面反射必汇聚于另一焦点的性质而研制,椭圆的离心率和焦距分别为0.9586mm及1350mm.在此采用氟化锂(200)(2d=0.4027nm)作为晶体分析器,其布拉格衍射角变化范围为30～67.5°,可探测波长范嗣为0.2～O.37nm.在"神光-Ⅱ"激光装置上进行了打靶实验,利用软X射线CCD相机作为摄谱器件,该谱仪获得了钛的类He共振线(w)、磁四级M2跃迁x线、互组合跃迁y线、禁戒谱线(z)以及类Li谱线(q).实验结果表明该谱仪的最高光谱分辨率(λ/△λ)可以达到1000以上,能够用于激光等离子体X射线光谱学研究.