低压熔丝熔断原因及更换

日常生活中常用低压熔丝(保险丝)大多为武德合金丝、铅锡合金丝。使用中由于供电线路用电设备发生故障造成低压熔丝熔断,此时不少人会误认为熔丝太细而盲目加大保险丝,为日后安全用电留下极大隐患。正确的方法是分析熔丝熔断的原因,对症处理。1.如果熔丝只在其中部有一断开口而且无电弧痕迹,一般为家用电器增加,旧的熔丝容量偏小,长时间满负荷甚至超负荷工作而熔化。此时应了解负荷变化状况,重新选择合适的熔丝进行更换。家庭用电大多以照明、电热为主,选择熔丝额定电流应等于或稍大于负荷额定电流。若装有空调,则熔丝额定电流为空调额定电流的1.5～2倍加其它负荷额定电流。2.如果熔丝熔断口较小且只在螺钉压接处,说明该处温度明显偏高,大多为更换熔丝     

一种利用迭代法实现的熔丝修调方案

随着集成电路的迅速发展,测试过程中熔丝修调的精度受到越来越多的重视。在某些产品熔丝步距一致性欠佳的情况下,传统的查表法熔丝修调方案已经无法满足当下的精度要求,从而表现为测试过程中区域性或批次性的低良率,造成人力、物力的损失。将迭代法应用到熔丝表的计算中去成为了提升测试精度的必然趋势。采用迭代法的熔丝方案可以根据圆片当前区域的熔丝步距实时调整熔丝表,提升测试良率和测试精度。     

基于非晶态铌酸锌铋薄膜的新型反熔丝器件

本文提出了一种基于非晶态铌酸锌铋（a-BZN）介质材料的新型反熔丝器件并对其性能特征进行了研究。考察了a-BZN反熔丝器件的关态特性,选用从上至下的编程方向对反熔丝器件进行击穿,其击穿电压约为6.56V。获得了a-BZN反熔丝器件的关态电阻,约为1GΩ。表征分析了击穿后的a-BZN反熔丝器件的表面形貌。研究了a-BZN反熔丝器件的编程特性以及编程后的开态特性,结果表明a-BZN反熔丝器件所需编程时间约为0.46ms,编程后其开态电阻约为26.1Ω。对比分析了a-BZN反熔丝器件与结晶态铌酸锌铋（cp-BZN）反熔丝器件和栅氧反熔丝器件在性能特征等方面的差异。     

用于可编程器件的MTM反熔丝特性研究

基于ONO（Oxide-Nitride-Oxide）和MTM（Metal-to—Metal）反熔丝技术的可编程存储及逻辑器件已经广泛应用于空间技术中。MTM反熔丝以其单元面积小、集成度高、反熔丝电容小和编程后电阻小等优势,更加适合深亚微米集成电路。文章通过制备MTM反熔丝单元,对单元的击穿特性和漏电性能展开研究,给出了反熔丝单元漏电流与单元尺寸的关系,对单元的编程电流和编程后的电阻值关系进行了研究,与文献[1]给出的Ron=Vf/Ip的关系基本一致。     

Actel的Axcelerator FPGA获BP Microsystems选用作为第7代编程器的核心控制器

BP Microsystems公司是器件编程的业务领袖，现决定在其全线下一代编程解决方案中选用Actel公司以反熔丝为基础的单芯片Axcelerator FPGA来提高产品的速度、降低功耗及增加安全性。BP Microsystems将把Actel以反熔丝为基础的AX1000器件作为所有第7代工程、多点和自动编程器主板的核心控制器，全面发挥Actel反熔丝技术的优势，大幅提升其行业领先产品的整体性能。     

一种易烧写高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路

多晶硅熔丝是一种单次可编程(OTP)的非易失存储单元,常用于集成电路的修调,确保电路在PVT下性能稳定.对传统熔丝修调电路进行了改进,设计了 一种常规修调电压下高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路.该电路具有功耗低、易扩展和复用性强等优点.基于0.25μm CMOS工艺流片测试,该电路在3.3 V电压下实现了 14位DAC高...     

反熔丝FPGA布局布线算法研究

介绍了反熔丝FPGA及其布局布线算法的研究现状,讨论了目前最为流行的FPGA布局布线的基本原理与实现方式.针对反熔丝FPGA的结构对布局布线算法进行了改进,并在CAD实验平台上实现了改进算法.为了验证改进算法的性能,提出一种常见结构的反熔丝FPGA,并针对几个典型电路进行布局布线.实验结果表明,改进算法可以提高反熔丝FPGA布局布线的效率以及电路速度.     

多管芯并行测试的熔丝修调方法探索

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压、频率或其他特性。为了提高测试效率,需要在多管芯并行测试的情况下,提高熔丝修调的准确性和修调速度。文章介绍了常见的熔丝特性及典型熔丝类集成电路在多管芯并行测试情况下的熔丝修调方法,并进一步研究了降低修调环节对测试系统资源的占用、提高修调效率、简化测试程序等几个方面的优化方法。     

IC内置熔丝熔断方法

集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求。低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用。熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加。在编写测试软件时,传统方法是机械地用if…else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差。文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法。通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2^n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析。这种做法使程序简洁而又逻辑性强.     

农用机电设备熔丝的选用方法

熔丝就是人们平常所说的“保险丝”,简称“保险”。农用机电设备中常见熔丝安装在设备的闸刀开关上,合闸时,用它接通电源。在农村中,往往受各种因素制约忽视了对熔丝的选择使用。或选型不当,不起保险作用;或用铝丝、铜丝代之接入电路,以免更换之烦。这些做法无疑都是违章的。由于农村中专职电管人员很少,加之宣传力度不够,因而经常有机电设备被毁坏的事情发生,尤其在农忙、抗旱排涝期间,成为损坏的高峰期,不但给机主和集体造成损失,而且贻误农     

深亚微米多晶硅熔丝特性研究

随着集成电路产业的迅速发展,熔丝电路在IC芯片中的应用越来越广泛。为了提高集成电路制造良率,在集成电路设计中通常会大量使用基于熔丝技术的冗余电路。通过对180 nm工艺多晶硅熔丝熔断特性的探索和研究,给出多种尺寸的多晶硅熔丝电熔断特征参考值,可以满足集成电路设计对编程条件和编程后熔丝阻值的不同需求。集成电路设计者通过选择不同的多晶硅熔丝尺寸种类,实现熔丝外围电压电流发生电路的灵活设计,大幅提高180 nm工艺多晶硅熔丝设计成功率。通过优化熔丝器件结构、编程条件等参数,实现不同应用需求的熔丝量产。     

揭秘反熔丝FPGA的安全性

基于反熔丝技术的FPGA是目前业内安全性最高的FPGA产品。文章从多个层面介绍了反熔丝架构技术,以及反熔丝FPGA的编程方法和安全熔丝的重要性。另外,文中还讨论了各种途径的获取反熔丝设计信息的方法并证明了其不可行性。     

多晶硅电学特性研究之Ⅴ:多晶硅熔丝的电编程性质

研究了冗余技术电编程电路中的多晶硅电阻熔丝的电编程特性!分析了多晶硅熔丝的编程机理和电流一电压特性。发现电阻率在0.60～1.10×10~(-3Ω·cm范围的多晶硅熔丝熔断时存在一个临界电流密度,它与熔丝的几何尺寸和室温电阻率无关,是一个约为32mA/μm~2的常数;临界电场是随熔丝室温电阻率增加的,平均熔断功率密度也与熔丝自身的电阻率相关。认为掺杂剂提供的载流子对熔丝的熔化起着重要的作用。     

反熔丝FPGA配置电路的研究

反熔丝FPGA的编程过程是对可编程逻辑模块进行配置的过程,具体过程是利用配置电路对连接在逻辑模块输入、输出端口的反熔丝单元施加高压,将其击穿形成连接通路,从而使得逻辑模块连接在信号线上.位流数据控制配置电路完成反熔丝单元的预充电、寻址、加压以及编程过程.通过控制晶体管的打开和关断及复用编程通道,可以实现不同类型反熔丝的编程,并简化配置电路的设计规模.测试结果表明,配置电路可靠地完成了反熔丝的编程功能.     

最小二乘法和熔丝编程

文章对模拟电路熔丝存在的原因、常见材料和常用的熔丝编程方式做了基本的介绍,由一个真实案例引入了和传统熔丝编程方案有所不同的熔丝编程算法——最小二乘法（数据拟合）。着重介绍了最小二乘法在测试采样数据呈线性关系时的一次线性方程的拟合,并给出了具体的求解过程和系数计算公式。通过实例对比了传统熔丝编程和最小二乘法熔丝编程两种算...     

熔丝类电路的修调探索

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型。不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序。文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨。     

一种串并结合的多Site熔丝编程算法

随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。     

通用阵列逻辑GAL的原理及应用

2.2 GAL16V8的熔丝图在有实体熔丝的PLD器件中,反映熔丝编程后是否保留或被烧断的图表叫熔丝图.由于GAL器件中可编程与阵列的编程单元的CMOS管导通和截止同其他PLD器件中实体熔丝的保留和烧断存在一一对应关系,因此,在用GAL完成特定逻辑功能电路设计时不但借用“熔丝”这一术语,同时也借用了“熔丝图”这类图表.用户借用计算机专用软件对     

一种应用于反熔丝FPGA的电荷泵电路

电荷泵（Charge Pump）电路以其可成倍输出自身输入电压的特性而被广泛应用于各种芯片的驱动电路中。在反熔丝FPGA中,反熔丝为高压一次编程器件,在编程过程中需要通过高压隔离管将反熔丝与其它器件隔离开,而高压隔离管在工作时需要大于芯片电源VCCA的电压来驱动,如何提供高压保证隔离管能够无损传输数据是反熔丝FPGA研发时必须要考虑的问题。本文提出了一种应用于反熔丝FPGA的电荷泵电路,电路具有快速启动的特点,同时电路工作频率可调,通过在电路中增加冗余NMOS结构,提高了电路在工作中的安全性,该电路在工作时能保证熔丝编程过程中除了反熔丝以外的其他器件不受编程电压的影响,且在编程结束后通过电荷泵输出电压打开隔离管完成信号的无损传输,能够满足反熔丝FPGA对于电荷泵的需求。     

反熔丝FPGA配置算法与软件实现

反熔丝FPGA制造困难且多用在特殊用途领域,因此有关其位流文件的研究很少.本文首先介绍了反熔丝FPGA及FPGACAD软件流程,接着描述了反熔丝FPGA具体结构并通过一个具体例子说明了如何配置反熔丝FPGA,然后讨论了反熔丝FPGA的编程方法,由此引出了位流文件的格式和反熔丝单元编程信息格式,最后提出了反熔丝FPGA位流文件生成算法并在实验平台实现了该算法.