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外壳热沉是集成电路的重要组成部分,外壳镀层质量是影响可靠性的直接因素。目前主要通过目检法来检测镀层的裂纹等缺陷,但由于人员经验的差异,可能会导致检测结果存在差异,且该方法的结果追溯性较差。超声扫描显微镜是一种无损检测设备,被广泛地用于检测塑封集成电路的分层、裂纹和空洞等缺陷,具有较高的分辨率。因此,基于超声扫描显微镜,对外壳热沉镀层的可靠性进行了评价。试验结果表明:超声扫描显微镜能够快速有效地检测出外壳热沉镀层缺陷,并保存检测图像,检测结果的可追溯性较强,可以为镀层缺陷的可靠性评价提供参考。 相似文献
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扫描探测系统的信号检测问题 总被引:2,自引:0,他引:2
扫描探测系统属于对比度检测系统。它将相邻两瞬时所检测到的信号差值作为有效信号值,系统噪声则是探测器噪声。背景与目标一样是作为检测对象考虑的,而不应作为噪声源考虑。在有像差存在的情况下,目标像点会扩展。对理想点目标而言,当实际弥散像点面积超过探测器单元面积时,仍应按点目标计算入射能量而不应混同于扩展源。 相似文献
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提出了一种由椭圆形人工表面等离子激元(SSPPs)馈电的新型宽带圆极化频率扫描天线.天线以椭圆结构单元SSPPs传输线为基础,沿传输线两侧周期性地加载开口环贴片,利用表面波的慢波特性实现天线的频率扫描,并且通过加载贴片偏移四分之一波导波长产生90°相移,实现圆极化辐射.仿真和实测结果均表明,所提出的天线在4.5~8.0... 相似文献
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红外凝视成像系统中的光学微扫描技术 总被引:3,自引:2,他引:3
简要介绍了国内外微扫描技术研究情况,讨论了用于凝视焦平面探测器的微扫描技术原理和分类,按伺服电机驱动和压电陶瓷驱动两种形式,分析了微扫描技术的原理、结构和信号读出方式,最后总结了微扫描技术的优点. 相似文献
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介绍了圆锥扫描中波红外光学系统的参数检测的方法和基本原理,探讨了测试系统的调校方法,并针对系统装调和测试过程中成像不理想的问题,利用FRED软件进行了杂散光分析。通过分析发现,红外平行光管上的星孔基片上的高反金属膜产生的杂散光是造成弥散斑不清晰的主要原因,通过紧贴星孔外表面安装一个同心云母片抑制了该杂散光。此外,若圆锥扫描中波红外光学系统的校正镜镀膜透过率不够高,则会在红外探测器焦平面的4个角上产生规则形状的杂散光,可以在图像处理时通过软件程序算法来剔除其影响。最后进行了精度测试,测试结果表明:所研制的圆锥扫描中波红外光学系统的参数检测系统满足各项精度指标要求。 相似文献
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提出了一种旨在提高非制冷红外焦平面空间分辨性能的非机械式微扫描方法,该方法利用在3~5μm和8~14 μm中远红外波段有良好的光开关性能的红外液晶材料,制作成像素间距和规模与非制冷红外焦平面阵列相当的TFT-LCD矩阵.按行、列选择红外TFT-LCD矩阵的开与关,得到与二级机械式微扫描一致的同一场景的4幅微位移图像,通过插值重建获得采样频率提高到2倍的场景微扫描图像.分析了该方法的实现机理,给出了实际可行的微扫描系统方案,并采用该方法的思想对辐条状图案进行了微扫描仿真.与常规的机械式微扫描技术相比,该非机械式微扫描方法具有重量轻、机械复杂度低、稳定可靠、重复精度高的显著优点. 相似文献
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等离子体驱动技术的最新进展,使扫描技术的开发成为可能。此文中将这种新驱动技术同双驱动技术作了比较。集中介绍了意法半导体的最新驱动特性,包括恒定上升斜率和展频分散技术的使用,以及新的能量回收技术。 相似文献
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电子系统对集成电路性能、封装密度及微型化的要求似乎是永无止境的。当今的“奔腾”(Pentium)芯片是0.8μ的工艺,一共有320万个晶体管,而SIA预言到2001年超亚微米技术(<0.18μ)将成为主要技术。一个芯片将可包含6400万个以上的晶体管,性能将达到600兆赫。器件复杂性和集成度的剧增导致了它的高密度封装(BGA,COB,TAB,MCM等)。就当前的封装技术而言,管脚引线数达到数百甚至更多已不是什么新闻,而其管脚引线间距已从DIT/PGA器件的2.54mm缩小到了SOIC的1.27mm、QFP的0.635mm、TAB的0.203mm了。 相似文献
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介绍了微扫描技术及其给红外焦平面阵列(FPA)成像带来的好处,分析了微扫描红外焦平面阵列成像方案的特点,比较了各种微扫描成像方案的优势及不足,指出了红外焦平面阵列微扫描成像工程化的可行方案和研究方向。设计了一种采用非制冷氧化钒384pixel×288pixel焦平面探测器的长波红外微扫描光学系统。其工作波长范围为8~14μm,F数为1,焦距为150mm。利用光学设计软件CodeⅤ进行了仿真计算,对其像质进行了评价,并给出了微扫描系统的配置方案。 相似文献
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文章以吕环高速公路植物喷播边坡防护为例,通过研究红黏土改良、植物种子选择、锚杆施工、挂网客土喷播、后期管养等植物防护技术,可有效提升黄土高原地区公路边坡的绿化效果和生态防护效果,避免发生地质灾害,提高高速公路的运营安全. 相似文献
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车明康 《电子工业专用设备》1990,(2):35-39
边界扫描技术通过电路板的边缘引线,就能测试和诊断电路板的制造性故障与器件的内部逻辑。这种技术特别适用于测试采用SMT电装技术和某些大规模ASIC芯片的复杂电路板。 相似文献
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本文阐述了主动式电磁扫描检测技术及信号处理的工作原理,总结和分析了在应用该检测方法的过程中需要注意的主要问题,供大家参考和探究。 相似文献