一种有限扫描操作测试压缩方法

针对集成电路测试时间长,导致测试费用高的问题,提出了一种基于有限扫描操作的扫描电路静态测试压缩方法．利用有限扫描操作代替全扫描操作,用有限扫描操作合并测试对,通过减少移位操作次数减少测试时间．同时,将启发式方法用于限制候选测试对数量,给候选测试对进行排序,降低计算复杂度,加速压缩过程．基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,本方法所需平均测试时间仅为典型方法的50％左右．     

模拟VLSI电路故障诊断的子带特征提取方法

为了降低模拟电路参数型故障的测试难度,提出了一种基于奥克塔夫(Octave)-Haar小波结构的模拟VLSI电路故障诊断方法。将测试响应经小波滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列计算故障子序列与正常子序列的互相关系数,对每一故障,可确定出互相关系数最小的子带,并将此数值作为该故障的特征,对应子带的正常响应序列的自相关系数作为无故障特征,用故障特征与正常特征的对比可诊断故障。对国际标准电路的实验表明,该方法对参数型故障的诊断已具有高分辨率。     

基于优化权集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集，由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生成概率的测试矢量数，进而减小在高故障覆盖率下的测试长度，该方法对大规模集成电路的内测试和外测试皆适用。     

基于三值神经网络的组合电路测试生成算法

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法．该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题．在一些基准电路上的实验结果表明,本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间．     

面向全迁移的小规模EFSM测试序列集生成方法

针对在扩展有限状态机（extended finite state machine, EFSM）模型上测试序列集生成效率低、规模大等问题,提出了一种面向全迁移的小规模测试序列集生成方法。该方法基于改进的自适应多种群遗传算法（improved adaptive multi-population genetic algorithm, IAMGA）。首先,利用迁移覆盖增益设计适应度函数,使每次生成的可行迁移路径均能产生迁移覆盖增益;然后,根据个体的可行迁移划分子种群,并在子种群内使用轮盘赌算法进行选择,克服了“早熟”问题,提高了全迁移覆盖的成功率;再利用种群的平均路径通过率自适应地调整交叉和变异概率,加快了收敛速度;最后,通过倒序遍历测试序列集去除冗余序列,进一步压缩了测试序列集规模。实验结果表明,与面向单迁移的测试序列生成方法相比,本文所提出的测试序列生成方法面向全迁移,仅一次就能以90%以上的成功率生成满足全迁移覆盖的测试序列集；与传统的遗传算法相比,IAMGA算法生成的测试序列集的平均规模减少了50%,平均迭代次数也减少了20%。本文提出的测试序列集生成方法可有效提高EFSM测试序列集生成的效率和质量。     

基于神经网络的组合电路测试生成算法

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程。利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络，通过故障注入，建立被测电路的约束网络，并构造网络的能量函数，将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点，从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量。在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。     

测试图形生成的遗传算法研究

提出了一种用于组合电路测试图形生成的遗传算法。该算法把被测电路的测试生成问题转化为计算一种约束函数的最优解,可充分利用电路的结构信息。为故障节点生成测试时易于操作,且无需经过故障模拟,就可保证对所有可测的单固定型故障及多故障有较高的故障覆盖率。     

一种基于WPDAG的回归测试选择方法

提出了一种基于WPDAG的回归测试选择方法,利用压缩的全路径动态执行过程生成修改影响集,可以有效地提高测试选择精度,降低测试选择成本。     

VLSI测试中移相伪随机序列的设计

为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用。     

一种基于WPDAG的回归测试选择方法

提出了一种基于WPDAG的回归测试选择方法,利用压缩的全路径动态执行过程生成修改影响集,可以有效地提高测试选择精度,降低测试选择成本.     

基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法

针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法.首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案.该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提高了算法的紧凑性指标.在此基础上,结合改良计数序列算法,生成抗混淆自适应测试算法.该算法解决了改良计数序列算法存在的征兆混淆问题,极大提高了算法的完备性指标,且紧凑性指标较好.     

成组交替对比射击的Bayes评定方法研究

研究了双母体Bayes假设检验方法及其在炮弹弹道一致性评定中的运用。目的在于利用丰富的靶场先验信息,提出弹道一致性试验的Bayes评定方法,以减少试验用弹量,提高试验质量。这里推出了3种情况下被检变量的概率密度函数,为Bayes一致性检验提供了理论依据,并与经典法进行了比较。     

基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计

为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子。通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率。     

电路板的测试技术

介绍了印制电路板在线测试的原理，并侧重阐述近几年开发的新测试技术，结出了不同测试技术的特点，结果表明：预计非矢量测试技术和在线测试技术以及边界扫描技术的联合使用，将是未来电路板测试的重要方法。     

跳变计数法测试置信度的分析

提出一种新的估计跳变计数测试置信度的方法,分析了置信度标准的一些性质,用有限状态自动机建立了测试过程的模型,用马尔柯夫链描述了自动机状态间的相互转换,在充分考虑随机信号的真实统计性的基础上,根据电路输出数据的概率分布特性,求出了测试置信度与测试序列长度间的相互关系,实验表明,理论数据与模拟结果非常吻合。     

故障诊断效率与评估

本文讨论电子设备故障检测序列组合对故障诊断效率的影响．按检测开销和故障发生概率，适当安排检测顺序，组成二叉和多叉故障分离树，可以提高检查效率，缩短检查次数，压缩检查时间，计算显示，良好检测顺序可节省开销1／3．文章还分析了每次故障诊断结果是确诊或误诊的随机现象评判诊断系统的诊断准确率是抽样检验问题．引入假设检验方法，设置显著水平和提出假设，对设备故障诊断系统的准确率进行评判减少了误判概率．文章对建造和评估设备故障诊断系统有参考价值．     

面向IP核测试复用的测试环设计

提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分析了两种典型测试环P1500测试环以及飞利浦TestShell测试环的基础上,提出了一种三态测试环结构.该结构允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上.