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通过AFORS-HET软件模拟了TCO/a-Si:H(p)/a-Si:H(i)/c-Si(n)/a-Si:H(i)/a-Si:H(n)/Ag结构的硅异质结电池中硅衬底电阻率、本征非晶硅薄膜厚度、发射极材料特性以及TCO功函数对电池性能的影响。结果表明:在其它参数不变的条件下,硅衬底电阻率越低,转换效率越高;发射极非晶硅薄膜厚度对短路电流有较大影响,发射极掺杂浓度低于7.0×1019cm-3时,电池各项性能参数都极差;TCO薄膜功函数应大于5.2 eV,以保证载流子的输运收集。 相似文献
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太阳电池内部电阻对其输出特性影响的仿真 总被引:5,自引:1,他引:5
通过对太阳电池的等效电路进行分析,建立了太阳电池的计算机仿真模型,定量地模拟了在一定光照下太阳电池内部的等效并联电阻及串联电阻对其伏安特性、开路电压、短路电流及填充因子的影响的程度。仿真结果表明:等效并联电阻产生的漏电流会影响太阳电池的反向特性和正向小偏压特性,且并联电阻影响其开路电压,但对短路电流基本没有影响;等效串联电阻会影响太阳电池的正向伏安特性和短路电流,而对开路电压没有影响;另外,并联电阻的减小和串联电阻的增大都会使太阳电池的填充因子和光电转换效率降低。仿真结果与实际测量的数据取得了相一致的结论。 相似文献
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系统研究了非晶硅本征层的沉积温度和激光刻线功率对薄膜电池组件性能的影响。各非晶硅薄膜(P层、I层和N层)采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)制备。I层的光学带隙随着沉积温度的升高而降低,同时也引起电池转换效率的变化。采用傅里叶红外分析检测I层的H含量及键合方式,H含量及键合方式的变化是引起光学带隙变化的根本原因。激光刻线的形貌采用光学显微镜作微观分析,而采用不同激光功率刻线后,薄膜电池的性能也有所差异,结果显示7.5μJ是最合适的功率。 相似文献
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本文从磷掺杂对价带顶上隙态和导带带尾分布的影响,讨论了掺杂对非晶硅隙态的影响。轻掺杂使带隙深处态密度增加;重掺杂还加宽了价带带尾。掺杂对导带带尾影响不明显,掺杂造成光隙的减少是由于价带带尾单方面变动造成的。 相似文献
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Cu_2S/CdS太阳电池的性能衰退快,寿命短。一般认为是Cu_2S的电化学分解、氧和水汽的氧化造成的。显然,这两种因素都会使电池性能单调下降。但是,我们在观察电池性能衰退的情况时发现:Cu_2S/CdS电池的性能变化并非单调下降的,在某些情况下会呈现性能上升现象。下面是我们的实验结果及简单分析。 相似文献
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相变潜热随温度变化对固-液相变过程的影响 总被引:15,自引:1,他引:15
对相变潜热随温度变化的变温固液相变过程进行了数值分析计算,重点分析了相变潜热随温度变化对相变过程的影响。结果表明,对于相变潜热随温度变化的相变过程,其主要影响因素仍然是Stefan数、相对导热系数、相对热扩散系数、相变温度宽度等基本无量纲数。尽管相变潜热随温度的变化会对相变过程造成一定的影响,但如果用相变温度范围内的平均潜热代替实际相变且视为常数,则可以较好地近似实际相变过程:由此不会给预测融化所需要的总时间带来明显的误差,而对温度分布的影响也很小,主要集中在液固过渡区内。 相似文献
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聚合物poly(3,4-ethylenedioxythiophene):polystyrene sulfonate(PEDOT:PSS)是一种具有高电导率和良好透过性的p型半导体材料。PEDOT:PSS/Si杂化太阳电池由于具有较低的工艺温度,且工艺简单而具有一定的前景。在这种杂化太阳电池结构中,PEDOT:PSS的光学、电学性质对器件性能有重要影响。分别从PEDOT:PSS退火工艺、溶液二次掺杂(二甲基亚砜)的含量以及PEDOT:PSS薄膜厚度3个方面对薄膜的光、电特性以及器件性能的影响进行研究,并优化相关工艺。根据这些优化的参数,最终得到6.63%的太阳电池转化效率(太阳电池面积为2.25 cm2)。 相似文献