X射线荧光光谱法测定铝矿石中Al2O3、SiO2、Fe2O3含量

本文采用硼酸镶边衬底制备铝矿石样片。用波长色散X射线荧光光谱仪测定铝矿石中Al2O3、SiO2、Fe2O3含量。本方法测量准确度、精密度较好。所得结果与化学分析结果一致。     

X射线荧光光谱法测定高炉渣中的Al2O3

介绍X射线荧光光谱法采用粉末压片的制样方式测定高炉渣中的Al2O3的分析方法．该方法简便、快速、准确、可靠．     

X-射线荧光光谱法测定高炉渣中的Al2O3

介绍了用X射线荧光光谱法测定高炉渣中的Al2O3,试样采用粉末压片制成.该方法简便、快速、准确、可靠.     

X射线荧光光谱法测定焦炭、焦粉灰分中T.Fe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、K2O和Na2O的含量

介绍了采用荧光光谱法测定焦炭、焦粉灰分中T．Fe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、K2O和Na2O含量的实验条件，与化学法相比，该方法简便快捷，测量精密度高，准确性好。     

X射线荧光光谱法测定煤灰成分

介绍用作煤灰中的SiO2、AlO3、K2O、CaO、S快速分析的X射线荧光光谱法,探讨了样品制备条件,基体干扰及其校正,以及分析准确度和精密度。     

X射线荧光光谱法测定焦炭中硫及灰分中SiO2和Al2O3含量

本文介绍了采用X射线荧光光谱压片法测定焦炭中硫及其灰分中SiO2和Al2O3，的检测方法。确定了实验的最佳条件，进行精密度和准确度的试验，讨论粘合剂的选择及其对结果影响，标准值的定值和有关结果的转换。     

全铝X—射线分析仪分析铝电解质

本文叙述全铝X－射线分析仪分析铝电解质中的A1、F、Na、Ca、Mg含量，进一步计算分子比、CaF2、MgF2、Al2O3、过剩AlF3的方法，以及每个元素及化合物谱线的选择与修正、分析参数的建立、工作曲线的绘制、样品的制备方法等。实践证明：分析结果准确可靠，精密度良好，实现了准确快速测定的目的。     

X射线荧光光谱法测定生铁块中杂质元素

应用荧光光谱仪分析生铁块中Si、Mn、P、S、As、Ti。该分析方法简便、快速,结果较为满意,适用于炼钢生产过程中的在线分析和质量控制。     

X射线荧光光谱法测定铝电解质分子比、CaF2、MgF2等分析方法改进

介绍了针对X射线荧光光谱法测定铝电解质分子比、CaF2、MgF2等成分时存在的问题所采取的改进措施及取得的成效。     

X射线荧光光谱法测定AZO中Al的质量分数

采用熔融玻璃片制样,建立了测定AZO中Al的x-射线荧光光谱分析方法。校准样品采用光谱纯ZnO和A120,按照一定比例进行磨匀的方法进行配制,保证了校准样品中Al元素含量的准确性。根据AZO中Al元素的荧光强度和含量所具有的对应关系,并考虑到各元素之间的吸收与激发效应,经过校正拟合出Al元素的实际工作曲线。方法用于AZO中Al的测定,结果与ICP—AES法吻合,相对标准偏差（n=10）小于2％,完全能够满足生产的需要。     

X射线荧光光谱法分析萤石中的CaF2

采用X射线荧光光谱仪及熔融玻璃片法,分析了萤石中的CaF2.在制样时利用低温熔融成玻璃片,克服了样品中的F高温挥发,获得了满意的结果.     

利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应

采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铝铁中铝时,由于粒度效应的影响,铝测量结果的准确度降低。通常,采用单一控制样品粒度小于0.075 0 mm的制样方法来克服粒度效应时,铝的X射线荧光强度的相对标准偏差(RSD,n=10)达到4.3%。在大量试验的基础上,提出了一项粒度重组技术,即通过调整样品中的0.250～0.125 mm、0.125～0.075 0 mm、0.075 0～0.045 0 mm、＜0.045 0 mm 4个粒度等级的质量占比为2∶2∶1∶5后,铝的X射线荧光强度的RSD(n=10)降为1.2%,有效降低了粒度效应的影响。从粒度调整对测定结果的影响、两种制样方法对测量强度的影响、不同制样方法样片表面差异、不同分析方法准确度的显著性差异4个方面进行讨论,证明粒度重组方法能有效地消除粒度效应对粉末压片法结果的影响,铝铁中铝的测定结果与EDTA滴定法的结果准确度无显著性差异。     

利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应

采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铝铁中铝时,由于粒度效应的影响,铝测量结果的准确度降低。通常,采用单一控制样品粒度小于0.075 0 mm的制样方法来克服粒度效应时,铝的X射线荧光强度的相对标准偏差(RSD,n=10)达到4.3%。在大量试验的基础上,提出了一项粒度重组技术,即通过调整样品中的0.250～0.125 mm、0.125～0.075 0 mm、0.075 0～0.045 0 mm、＜0.045 0 mm 4个粒度等级的质量占比为2∶2∶1∶5后,铝的X射线荧光强度的RSD(n=10)降为1.2%,有效降低了粒度效应的影响。从粒度调整对测定结果的影响、两种制样方法对测量强度的影响、不同制样方法样片表面差异、不同分析方法准确度的显著性差异4个方面进行讨论,证明粒度重组方法能有效地消除粒度效应对粉末压片法结果的影响,铝铁中铝的测定结果与EDTA滴定法的结果准确度无显著性差异。     

X-射线荧光光谱法测定转炉渣中CaO,SiO2,MgO,Al2O3,FeO,Tfe,P2O5和S成分的研究

本文对制样条件、仪器参数、基体干扰、曲线拟合等方面进行了研究.在制样方面,确定了合适的研磨时间、样品粒度、压片时间、压片时所需的压力;通过试验确定了仪器的最佳分析参数.选择与试样基体相匹配的样品,定值后建立工作曲线;对FeO采用经验系数法消除了共存元素的干扰.通过大量生产检验以及与其它方法比对,本方法具有灵敏度高、准确度好、检测限低、测定范围宽等特性,完全能够满足生产需要.     

X荧光光谱法测定硅石中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P2O5、Fe2O3

介绍了硅石的一种X荧光光谱分析方法。试验采用熔融玻璃片法,测定硅石材料中中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P2O5和Fe2O3,等常见组分。通过试验找出最佳熔融、测定条件,使用标准样品确定工作曲线。结果表明,该方法的准确度和精密度良好,完全可以用于硅石的化学成分分析。     

X射线荧光光谱法分析铝,硅质耐火材料

采用Ｘ荧光光谱仪测定铝、硅质耐火材料、研究了系统制样方法、基体吸收－增强效应的校正、测定精度及制样精度，拓展了铝、硅质耐火材料的分析范围。     

X射线荧光光谱法测定高锰钢中锰的方法

建立了应用波长色散X射线荧光光谱法测定高锰钢中锰元素的分析方法,实验确定了仪器最佳工作参数。通过背景扣除和干扰校正系数法消除基体干扰和共存元素Cr、P的光谱干扰,采用经验系数法建立工作曲线,线性相关系数为0.999 8。实验结果表明,方法的检出限为2.1μg/g,方法分析范围为1.00%～20.00%,测定结果与标准物质的认定值一致,相对标准偏差小于0.200%,该分析方法快速、准确,满足高锰钢中锰的分析精度要求。     

X射线荧光光谱分析铸铁中28种元素

对铸铁的X射线荧光光谱分析方法进行系统的研究,包含C、Mg、Al、Si、Mn、P、S、V、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Zr、Nb、Mo、Sn、Nd、Ce、La、W、Pb、Bi、Te、Sb 28种元素进行测定。试验通过利用国内外21块铸铁标准样品拟合成一套铸铁的通用校准曲线,选择合适谱线和测量条件并进行有效的背景扣除,其中,测定P、S、Mn、Co、As受共存元素谱线重叠干扰的校正系数,解决了元素之间谱线重叠干扰的问题;Pb元素选用Lβ₁谱线做分析线,以避免As元素的谱线干扰;Te、Sb、Sn均选用Kα谱线,并采用高分辨狭缝以提高峰背比;C、Mg采用高灵敏狭缝,有效解决了元素间干扰问题及超轻元素、微量杂质元素的检测难题。方法用于铸铁标准样品中主次元素的检测,测定值与认定值相符,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于1.5%。     

X射线荧光光谱法测定铝锂合金中多元素含量

选择铝锂合金系列标样建立校准曲线,通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰,结果表明,校正后多数元素校准曲线的标准偏差(SD)和品质因子(K)变得更小,曲线的离散度降低,线性关系得到较大改善,由此建立了波长色散X射线荧光光谱法测定铝锂合金中Mg、Si、Ti、Cr、Zr、Fe、Cu、Zn、Mn等9种元素含量的新方法。各元素的检出限均低于4.5 μg/g。对E986铝锂合金标准样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.9%;对铝锂合金实际样品进行分析,测定值与湿法及火花源原子发射光谱法的测定值吻合较好,能够满足铝锂合金中各元素的检测要求。