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相似文献
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1.
射线探伤是以射线照像底片来评定探伤结果的。因此,底片质量直接影响检测结果。影响义片质量的因素较多,本文仅就黑度对底片质量的影响进行研究,并对最佳黑度范围等问题进行探讨。  相似文献   

2.
钛合金焊缝X射线照相底片黑度对灵敏度的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
王伏喜 《无损检测》2000,22(6):263-264
分析了钛合金焊缝X射线照相底工对度灵敏度的影响,试验表明,底片的黑度应限制在比标准要求要窄的范围内。  相似文献   

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匡雪飞 《无损探伤》2002,26(3):40-41
在锅炉、压力容器、压力管道的制造及在役压力容器的定期检验工作中 ,X射线探伤拍片是常用的一种重要检验手段。由于操作上的一些原因 ,往往造成一些底片白头 ,它使底片黑度达不到要求 ,以致有效评定长度缩短 ,焊缝的实际探伤比例下降 ,它是 X射线探伤的大忌。小管径 ( ≤ 76 mm)对接焊缝的 X射线拍片主要问题有 :椭圆成像的开口度达不到要求 ,底片黑度偏低 ,底片上没有字码的影像 ,像质计偏离焊缝中心。解决这些问题的方法如下 :a)正确计算射线源沿管子轴线方向的移动距离S。b)计算透照厚度 TA ,然后根据射线机的曝光曲线 ,确定其透照时…  相似文献   

6.
研究了薄板平焊缝在不同条件下X射线照相底片黑度与射线照相灵敏度之间的关系,发现通过实验方法可以确定不同厚度的平焊缝达到最高灵敏度时底片的黑底范围。  相似文献   

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自制了底片复制曝光箱,进行了X射线照相底片复制试验,成功地复制了熔焊缺陷图谱所用的底片。  相似文献   

9.
第一专题 射线照相灵敏度   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

10.
郑世才 《无损探伤》2010,34(3):8-11
从识别细节的最小黑度差理论和射线标准的有关规定,讨论了一些教材中普遍存在的关于"最佳黑度"叙述的错误。  相似文献   

11.
射线照相黑度值的重要性及其标准规定值的合理性   总被引:2,自引:1,他引:2  
强天鹏  李衍 《无损检测》2003,25(8):428-433
黑度是射线照相检验中的一个重要参数,我国射线照相标准中的黑度规定值与国际标准化组织(ISO)和国外标准存在的较大差距。指出该参数与景仰质量和检测有效性、可靠性的利害关系,建议按两种主要焊接接头型式分别规定射线照相许用黑度范围。  相似文献   

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金属焊接的焊缝熔池是在不平衡状态下凝固结晶和组织转变的,因此,焊缝处于组织不均匀和复杂的应力作用状态,同时由此而引起物理和化学的不均匀性。本文介绍不锈、耐酸及不起皮钢316L为母材,采用P5焊条焊接,其焊缝在X射线底片上所出现的一种现象,并对此现象作一些分析。焊接试板母材是美国316L,相当于我国牌号00Cr17Ni14Mo2,其化学成分:C≤0.03;Si≤1.00;Mn≤2.00;18~20Cr;12~16Ni;2~3Mo;S≤0.02;P≤0.035。  相似文献   

15.
张承国 《无损探伤》2001,25(6):26-26
介绍射线检测中常出现却被忽视的底片质量问题,以及如何监督检查。  相似文献   

16.
结合目前X射线照相底片的信息化处理方法,针对底片处理效果,分析了底片在扫描阶段的信息损失原因,提出了改善扫描效果的方法。  相似文献   

17.
郑世才 《无损检测》2006,28(5):270-271
1问题的提出 我国某些射线照相检验教材中,在讨论底片黑度时,给出了最佳黑度的提法。最佳黑度是否存在?为什么?  相似文献   

18.
李同超 《无损检测》1997,19(3):74-74
过去在X射线底片水洗后晾片过程中出现很多流线型水迹和梅花型水迹。曾用过多种方法和脱水剂,都没有从根本上解决问题。在这种情况下,我们自己设计制造了一种手摇胶磙碾轧机,用这种碾轧机可使水迹伪缺陷数几乎降低为零。方法是将水洗后的底片七至八张摆放成梯形,然后从一端输入胶磙机碾轧,底片上的残留水被完全挤压出顺下端  相似文献   

19.
王军  强天鹏 《无损检测》2011,(10):50-52
就目前业界普遍关注的计算机射线照相(CR)中各参数对检测灵敏度的影响问题进行了分析。试验验证了X射线管电压、曝光量、不同成像板型号和扫描参数对像质计灵敏度的影响规律。最后提出了CR技术应用中需要注意的问题。  相似文献   

20.
黄钦豪 《无损检测》1994,16(10):287-287
由于胶片在生产制造及运输过程中容易产生缺陷,特别是暗室处理中更易产生划伤、水迹、指纹等伪缺陷。附表是本单位三个年度中随机各抽五个月的底片进行质量统计的结果。 由附表可见,由于胶片本身和暗室处理时操作不当造成的废片是不少的,致使成本增加,若按每张片20元计算,一年中废片损失即超过20万元,还不包括重照使产品生产周期延长而造成的损失。因此,探讨底片伪缺陷的成因及其防止或消除方法是非常必要的。  相似文献   

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