显像管含气系数与真空度的关系

用实验方法测出显像管含气系数与真空度的关系.     

激光化学气相沉积无定形硅

用激光化学气相沉积方法得到了无定形硅薄膜。用干涉仪测得薄膜厚度为微米量级,沉积速率为100(?)/min,用扫描电镜测出无定形硅颗粒平均线度为40～50(?),用激光拉曼光谱仪测出其拉曼频移为480cm~(-1)实验得到了沉积速率随气体峰值温度变化曲线,认为沉积速率受限步骤是硅烷的气相反应,求出反应活化能为192.6kJ/mol。     

炭黑含量测试方法的再研究

本文通过对两种测试炭黑含量方法的比较,找出用另外。种仪表可以更加准确地测出碳黑含量,并且分析了两种测试方法的特点。     

用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法

本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶界偏析,测出含P820ppm钢的晶界区含P量为0.46％,经计算后相当晶界含P量为2.3％,而用俄歇谱仪测出晶界含P量为1.2～3.9％。同样测出含P160ppm钢的晶界含P量为1.5％。对含Mg94ppm的GH169高温合金,测出晶界含Mg量为1.8％,而含MC型炭化物的晶界含Mg量更高,达4％。     

灯泵染料激光器热光畸变的实验研究

用实验方法已分别测出了在染料溶液中由染料溶液和冷却水之间温差引起的温度场,和由光泵浦引起的温度场.所得结论对设计染料溶液循环系统有一定意义.     

分形维数与光学小波变换

用光学方法成功地进行了分形图像的小工测出其分形维数。分形维数值的测定可以推动分形动力学的研究与发展。实验证明,光学小波变换不失为一种实时分析分形图像的重要方法。     

用位置探测器测量高度

用线性位置探测器很容易测出沿装配线运动的零件的厚度或高度变化。测出狭长的光电探测器长度方向上一束细光束的位移，就可以进行这种一维测量。本文概述了这种测量系统的光学设计原理。     

变温光电法测量MIS太阳电池势垒高度

本文介绍一种测量MIS太阳电池的新方法—变温光电法,用这种方法可精确地测出MIS太阳电池的表面势垒高度、品质因数和界面态密度。     

场效应晶体管微波参数测量

本文介绍了用作图法测量场效应晶体管的噪声参数,用网络分析仪测量散射参数(s参数)的方法。给出了国产WC50型低噪声砷化镓场效应晶体管在C波段的噪声参数及在C、S波段的s参数。用测出的s参数设计的C波段场效应晶体管放大器获得了初步良好的结果。     

用简化Mie理论及K—K关系求微粒复折射率的透射法

用简化的Ｍｉｅ散射理及Ｋｒａｍｅｒｓ－Ｋｒｏｎｉｇ关系式，从单频透射比光谱反演微粒的复折射率，用较大粒径的碳黑微粒作了模拟计算，结果表明本方法计算比较简单，比现有方法提高了精度，扩大了波长及粒径范围。最后利用红外分光光度计测出的透射比光谱确定煤粒的复折射率。     

PCM中继器信噪比两种测试方法的分析(上)

本文分析了中继器信噪比常用的两种测试方法——正弦法与噪声法。给出了它们的计算公式和具体测试电路;比较了它们的优缺点;给出了最佳识别门限电压的计算公式。指出了用正弦法测出的正弦波干扰衰减S/x,如何严重地依赖于门限电压的大小,测得的最小的S/x值不一定代表中继器的信噪比最佳;用噪声法测出的噪声余度M_n,则比较不严重地依赖门限电压大小。此外,还指出了由S/x换算到信噪比余度比较复杂,而噪声法测出的M_n则不必进行换算,但后者测试方法比较复杂,对高次群来说,宽带噪声计不易获得。     

六硼化镧薄膜的制备及发射特性的研究

用阴极电泳的方法在Re衬底上制备了LaB6薄膜,用扫描电镜、X射线光电子能谱对样品的表面状况、化学组分进行了分析。经过真空烧结,采用真空热电子发射法测出了LaB6薄膜的逸出功。使用Richardson直线法测量薄膜的逸出功为2.56 eV,具有良好的电子发射性能。     

激光扫描角度测量研究

介绍一种用激光扫描技术进行角度精密测量的系统,该系统利用直角棱镜在激光扫描时能将转角转换为线性位移的测量原理,用CCD器件测出扫描光的线位移,也就可测出角度变化的大小,从而实现转角精密测量,具有测量范围大、精度高,数字化的特点.     

低气压放电灯阴极发射特性的测试与研究

用射频噪声法测出了低气压放电灯(荧光灯、紧凑型节能灯、紫外杀菌灯等)阴极的零场发射电流,进而研究了阴极温度和阴极零场发射之间的变化规律,最后,得到了一种比较简单、方便、实用的测试阴极发射特性的方法。     

用激光束成像法测量双E型硅弹性膜应变

报道了用激光束成像法对双E型传感器的硅弹性膜在不同压力情况下的应变进行的研究,并测出该弹性膜的应变情况。此方法对其他形式的敏感芯片应变的研究具有一定的参考价值。     

电子束蒸发法制备六硼化镧薄膜及其特性研究

用电子束蒸发的方法在Ta衬底上制备了LaB6薄膜,用电子显微镜、X射线光电子能谱仪对样品的表面状况、化学组分进行了分析.采用真空热电子发射法测出了LaB6薄膜的逸出功.结果表明,电子束蒸发的方法能够得到化学成分偏差较小、表面状况较好的LaB6薄膜,其逸出功为2.59eV,具有良好的电子发射性能.     

电缆简易测试法

工程师们早就知道,只要把所有导线串联连接起来,再用欧姆表进行检测,就可以测出电缆是否存在开断故障。然而,这种方法有时是无法使用的,因为它检查不出短路故障。图1所示的方法解决了检测短路问题。把每一个短路     

大尺寸内螺纹的测量

用弯板将螺纹件固定在轮廓仪工作台上，调整好位置及仪器放大倍数。绘制螺纹牙形轮廓图。然后用万能显微镜对牙形轮廓图进行测量，测出螺距和牙形角。再用万能测量方法，在平台上测出相关尺寸，通过计算便可得到实际中径尺寸。本文对测量方法误差进行了分析，其测量方法误差不超过±４．８２μｍ。     

混合集成微型永磁马达驱动电路的热设计及其分析

本文介绍了混合集成微型永磁马达电路的热设计方法,并采用45度热扩散法对热设计进行了理论计算和分析,采用热分析软件绘制出其温度分布情况的热相图,最后,用点温度计实际测出主热源的温度,以验证热设计的实际效果。     

激光化学气相沉积无定形硅的研究

用激光化学气相沉积方法在微晶玻璃基片上沉积出了无定形硅薄膜。用乌氏干涉仪测得薄膜厚度为微米量级,沉积速率为100埃/分;用扫描电镜拍摄了膜层的形貌照片,测得其线度为40～50埃;用喇曼光谱仪测出其喇曼频移为480cm~(-1),与无定形硅的特征喇曼频移一致。