PCB镀金层厚度的测量方法

本文结合我们在为客户PCB镀金层厚度测量服务时所遇到的问题和解决方法，详细的介绍了几种PCB镀金层厚度测量方法的原理、测定流程及其适用范围。     

失效连接器触点表面的SEM和EDS分析

对某失效通信设备的分析表明，电子连接器的接触故障是其失效的主要原因之一。本文利用SEM和EDS分析故障连接器的接触表面，结合接触电阻测试结果，对其失效机理进行讨论。     

X射线能谱仪Si（Li）探测器的清污处理

本文报道了X射线能谱仪的清除Si(Li)探测器污染的方法     

电镜硅锂X－射线能谱仪的制备及修理技术

第一套电镜Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器已经制成，探测器包括灵敏面积为２０ｍｍ￣２Ｓｉ（Ｌｉ）晶体、低温场效应晶体管、光反馈前置放大器、具有７．５μ铍窗的低温装置和７．５升液氮杜瓦瓶。对￣（５５）Ｆｅ５．９ｋｅＶ射线，能量分辨率为１５２ｅＶ。此外报道ＴＲＡＣＯＲ电镜Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器修理的结果，修理后能量分辨率为１４８ｅｖ，与原来的结果一样。每天正常的液氮消耗量少于１立升。     

ESEM的特点及其X射线分析

环境扫描电子显微镜（ＥＳＥＭ）保留了传统扫描电子显微镜的全部优点，但取消了样品环境必须是高真空的限制，在气体压力高达６６００Ｐａ，温高达１５００℃，具有任何气体种类的多气环境里，ＥＳＥＭ都可提供高分辨率的二次电子成像。本文介绍了ＥＳＥＭ的特点、应用领域及Ｘ射线分析的有关问题。     

单晶外延层厚度的X射线双晶衍射测定

本文在利用X射线动力学和运动学衍射理论对单晶外延层材料的双晶摇摆曲线进行计算分析的基础上,给出了测定单晶外延层厚度和质量的方法.当外延层的厚度较薄时,外延层衍射峰的衍射强度正比于厚度的平方,半峰宽反比于厚度.当厚度较厚时,衍射峰的强度增加逐渐趋于饱和,而半峰宽趋于材料的本征半峰宽.外延层的干涉小峰间距反比于外延层的厚度.通过测量样品的双晶摇摆曲线上干涉峰间距,峰强比和半峰宽可以求得外延层的厚度,并对外延层的质量做出评价.     

电镜硅锂X—射线能谱仪的制备及修理技术

第一套电镜Ｘ射线探测器已经制成，探测器包括灵敏面积为２０ｍｍ＾２Ｓｉ（Ｌｉ）晶体、低温场效应晶体管、光反馈前置放大器、具有７．５μ铍窗的低温装置和７．５升液氮杜瓦瓶。对＾５５Ｆｅ５．９ｋｅＶ射线，能量分辨率为１５２ｅｖ。此外报道ＴＲＡＣＯＲ电镜Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器修理的结果，修理后能量分辨率为１４８ｅＶ，与原来的结果一样。每天正常的液氮消耗量少于１立升。     

双晶x射线衍射法测量超薄层外延材料厚度

介绍了通过双晶ｘ射线衍射测量超薄外延层厚度的一种方法。利用回摆曲线中的干涉条纹测量了通过ＭＢＥ生长的Ｇａ０．７Ａｌ０．３Ａｓ／Ｇａ０．９Ａｌ０．１Ａｓ／Ｇａ０．７Ａｌ０．３Ａｓ结构的各层层厚。     

高岭土分散剂在扫描电镜下的分散效果研究

超细粉体比表面积大、表面能较高、粒子处于极不稳定状态，因而相互具有吸引倾向，使粒子产生团聚而影响其应用效果。超细粉体粒度的正确表征对于超细粉体的应用是很重要的，粒度及粒度组成是粉体的重要物理特性参数，直接影响产品的工艺性能和使用性能，在各行各业中受到广泛的重视。     

电镜能谱仪中过渡金属元素的化学价态分析

本文利用电子探针－能谱仪（ EPMA-EDS）对试样微米区域内过渡金属元素的化学价态进行了分析。研究结果表明,过渡金属元素的化学价态可以通过特征X射线Lα／Kβ强度比值结果进行区分,但试样形状、组成成分和化学结构等都可能影响化学价态的判断。此外,本文结合电子－离子碰撞的相关理论对实验结果进行了合理的解释,并将此方法应用到未知样品元素价态的判断中。研究结果对样品内部过渡金属元素化学价态的判断具有重要参考价值。     

选择镀镍金中镀金面积与厚度关系的研究与改善

随着现代电子技术的不断发展,电路板中将有越来越多的镀镍金表面工艺,来满足开关、触点及耐摩擦等方面的要求。图形的分布不均给电路板镀镍金的表面处理带来了诸如金厚度、金表观等难以克服的缺陷。从电镀的原理方面入手,分析造成这些缺陷的原因,并给出相应的解决办法,为以后选择镀镍金为表面处理方式的产品的加工提供一种新的思路与方法。     

电镜-能谱仪在离子亚细胞定位中的作用

由于电镜 - X射线能谱仪能提供离子亚细胞定位信息而颇受关注 [1]。本文报告了近年来我室利用在 JEM- 1 2 0 0 EX透射电镜上装备的 Link公司 AN1 0 0 0 0能谱仪在这方面的一些主要研究成果。1 .软骨钙化机制研究　软骨钙化过程实质上是钙盐在软骨内沉积的累积过程 ,但目前尚未完全清楚。我们利用电镜和 X射线能谱仪对钙盐在软骨内沉积的部位、形态、成分和含量进行了研究 ,结果显示 :1在软骨细胞内 ,钙盐以颗粒形式只沉积在线粒体内 (图 1 ) ,其 Ca- P的摩尔数比值为 0 .9～ 1 .1 ,类似于无定形钙盐 ;2在软骨细胞外非钙化基质内 ,钙盐…     

一种提高扫描电子显微镜－能谱空间分辨率的方法

目前,扫描电子显微镜－能谱（ SEM?EDS）联用技术在分析测试领域已得到广泛应用,它可对材料和生物样品的微观表面进行形貌观察,并对样品中所选定的微区内进行元素成分定性定量以及元素分布分析。但是,由于元素的特征X射线能量高,在样品中的出射范围较深,能谱的空间分辨率较差,导致在使用传统制样方法时都不可避免地会受到来自叠加样品特征X射线以及基底材料特征X射线的干扰,从而影响最终实验结果。为了克服能谱空间分辨率不足的问题,本文应用薄片法的原理研制了一种新的装置,将纳米厚度的样品分散在装置的碳膜上,进行能谱分析。通过与传统实验的对比,附加新装置后其能谱空间分辨率较以往常规实验提高了2～4倍。     

插头镀金线镀层厚度计算模型研究

电镀镍金镀层厚度是PCB产品可靠性的关键指标,文章从插头镀金线实际生产需求出发,运用法拉第定律和多元函数进行数学推导,得出一个普遍适用于插头镀金线镀层厚度理论计算模型。在理论计算模型的基础上进行多次试验分别得出电镀镍和电镀金的电流效率,并对实际镀层厚度计算模型的有效性进行重复试验验证。试验结果表明,我们可以得出一个合理的镀层厚度计算模型以指导插头镀金线实际生产。     

X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响

利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示：随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低角度下,特别是在特征X射线全反射临界角附近,实际测得的低能量特征谱线的相对强度比预期要小,这是因为这些低能量谱线的波长较长,相对于这些谱线的全反射临界角较大,由膜内产生的低能量谱线,探测器无法探测到而引起。此项研究为X射线薄膜微区分析的定量计算提供依据。     

地椒叶腺毛发育的扫描电镜观察

利用扫描电子显微镜对地椒不同发育时期叶表面的腺毛进行了观察,结果表明:地椒叶的腺毛有两种类型,头状腺毛和盾状腺毛.头状腺毛由1个基细胞、1个柄细胞和1个头部分泌细胞组成;盾状腺毛由1个基细胞、1个柄细胞和12个头部分泌细胞组成,4个在中央,8个在边缘;两种腺毛均在芽中已经发育完成,发育过程中,头状腺毛几乎没有很大变化,...     

光谱散射率的绝对测量

现在一般光谱散射率的测量均采用相对方法.本文提出一种光谱散射率的绝对测量方法.     

基于PCI总线的X光能谱仪图像采集系统

随着现代计算机和电子技术的发展 ,计算机总线不断地变迁以适应用户图形接口 (ＧＵＩ)的需要 ,目前ＰＣＩ总线已经逐渐取代了传统的ＩＳＡ等其它总线。因此基于ＰＣＩ总线的图像采集系统将会越来越广泛地应用于分析仪器中。本系统中采用了ＰＣＩ总线标准 (2 1版本 ) ,与ＰＣＩ总线完全兼容。图像采集过程中速度最快能达到每秒 1 33ＭＢｙｔｅ,从而能最大限度地减少ＤＭＡ传输时间 ,提高系统的效率和性能。在设计方法上也有很大的改进 :数字电路的设计全部采用目前最先进的现场可编程逻辑阵列 (ＦＰＧＡ)芯片。ＦＰＧＡ的设计用硬件描述语言…