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相似文献
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1.
用动态接触电阻测量系统进行了电磁继电器失效检测试验,检测了其触点闭合过程的接触压降.试验发现闭合过程的触点接触压降为随时间复杂变化的衰减波形,经历了由动态的弹跳、微振动再到静态的过程.数据分析表明继电器接触失效与闭合过程的弹跳时间及接触电阻峰值有一定关系,可综合考虑弹跳时间-操作次数曲线及接触电阻峰值-操作次数曲线的变化规律对继电器触点进行失效预测.  相似文献   

2.
传统的电动触点失效判断的方法主要是通过PLC的控制和检测,判断特定时域的电压值是否越界。因未合理利用整个通断过程中时域信号的变化信息,不足以可靠地判断触点失效的类型。为了解决这一不足,使用由数据采集卡和霍尔传感器等硬件研制的电寿命试验平台,通过采集完整的通断过程的时域信号作为信源,利用LabVIEW软件编写失效类型判别算法进行数据处理及逻辑操作。在试验过程中,实现了实时监测多个触点参数的同时自动识别失效类型并获取触点失效的全面信息。通过实际检测,试验结果达到预期效果。  相似文献   

3.
继电器触点失效预测的研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
用动态接触电阻测量系统进行了电磁继电器失效检测试验,检测了其触点闭合过程的接触压降。试验发现闭合过程的触点接触压降为随时间复杂变化的衰减波形,经历了由动态的弹跳、微振动再到静态的过程。数据分析表明继电器接触失效与闭合过程的弹跳时间及接触电阻峰值有一定关系,可综合考虑弹跳时间-操作次数曲线及接触电阻峰值-操作次数曲线的变化规律对继电器触点进行失效预测。  相似文献   

4.
5.
动态接触电阻测量及触点失效预测研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
用动态接触电阻测量系统进行了电磁继电器失效检测试验,监测了其触点闭合过程的接触压降.试验发现闭合过程的触点接触压降为随时间复杂变化的衰减波形,经历了由动态的弹跳、微振动再到静态的过程.数据分析表明:继电器接触失效与闭合过程的弹跳时间及接触电阻峰值有一定关系,可综合考虑弹跳时间-操作次数曲线及接触电阻峰值-操作次数曲线的变化规律对继电器触点进行失效预测.  相似文献   

6.
在大气中,多数金属表面会生成硫化物。承担电路接通、分断的银基触点表面形成的硫化膜会影响电路的正常导通,使继电器控制功能失效。用抗硫化液处理后可有效提高银基触点的抗硫化腐蚀能力,保护触点表面,是目前较经济的选择。  相似文献   

7.
电触点材料接触电阻的测量方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了电触点材料接触电阻的测试原理及测试方法。对AgNi(0.15)、AgNi(10)两种材料的触点进行了接触电阻测试,分析了其检测结果,为触点接触电阻状况的研究和分析提供了有效的检测工具。  相似文献   

8.
近年来,人们认为触点分离过程中金属液桥的产生给继电器触点带来严重的材料转移和散失,是造成分离熔焊的主要原因之一,但目前对液桥熔焊及液桥行为特点的研究并不够全面和深入。本文归纳总结了国内外学者对触点液桥形成机理、形状特征及其影响因素等研究成果,指出了一些不足与今后仍需致力的研究方向,对深入研究分离液桥有一定指导作用。  相似文献   

9.
接触器式继电器的触点接触失效物理分析   总被引:2,自引:1,他引:2  
介绍了接触器式继电器的失效模式,有接触不良、静熔焊、电弧熔焊等失效形式,对各种失效模式产生的失效机理进行了分析。根据失效原因,提出改进措施,以提高其触点工作的可靠性。  相似文献   

10.
电触点材料接触电阻分析   总被引:6,自引:0,他引:6  
分析了电触点材料接触电阻产生的原因、影响因素以及电触点材料常用金属元素的腐蚀行为。概述了降低电触点材料接触电阻、防止触点元件失效的方法。  相似文献   

11.
电接触材料腐蚀机制研究进展   总被引:2,自引:0,他引:2  
从电接触材料与环境作用所产生不同类型的腐蚀出发,概述了电接触材料发生腐蚀的主要类型,分析了其腐蚀机制和特征,主要介绍了环境因素对电接触材料大气腐蚀的影响,并展望了电接触材料腐蚀机制的研究趋势。  相似文献   

12.
电弧作用下铜钨触头材料表面特征及失效机理   总被引:3,自引:0,他引:3  
同建辉  徐锦峰  李英挺  何东继 《高压电器》2004,40(3):231-232,234
阐述了型式试验后铜钨触头材料表面特征,得出铜钨触头材料在电弧作用下产生龟裂纹、裂纹、铜液态孔的主要失效机理及原因,并提出增加触头寿命的措施。  相似文献   

13.
研究了直流阻性负载条件下新型铜基电接触材料的电弧侵蚀特性、材料转移及接触电阻。材料在电流〈14A时,由阴极向阳极转移;在电流≥14A时,由阳极向阴极转移。触点电弧侵蚀后的表面形貌产生明显的孔洞和裂纹,接触电阻随电流值和接触次数增加有小同程度的波动。结果表明,接触过程中各种因素的不对称是产生材料转移的主要原因。  相似文献   

14.
开关电器触头熔焊机理分析   总被引:5,自引:1,他引:5  
描述了开关电器触头熔焊的物理本质,分析了触头熔焊的影响因素,例如触头弹跳特征、触头极性、触头材料性质(包括热力学性质、力学性质和冶金学特征等)、电弧能量和电弧效应等。在此基础上,提出了触头熔焊机理。  相似文献   

15.
微动磨损是造成电触点失效的主要原因之一。本文以镀SnPb合金的接触对为代表研究微动幅值和微动频率对微动失效的影响机理。在一定的实验条件下,微动频率对微动失效的影响并不是单调的,存在最易引起失效的频率,其与材料氧化和磨损特性有关;微动幅值对微动失效的影响呈单调趋势,幅值越大,微动失效越快;绝缘氧化物的堆积造成接触电阻升高,由于滑道中部Sn的氧化比端部充分,因此在整个滑道内Sn/O值呈中间低、两端高的趋势。  相似文献   

16.
我国尘土污染严重,是导致电接触故障的主要原因之一。连接器触点之间的接触界面在大气环境中易受尘土的污染,导致接触对接触不良,出现故障。为了明确尘土颗粒对电接触性能的影响,利用有限元软件Ansys为分析工具,对硬颗粒嵌入到电接触区域的过程进行计算机数值模拟,得到了可能造成电接触故障的硬颗粒的危险尺寸。其结论为分析此类电接触故障机理提供了理论依据。  相似文献   

17.
光伏组件中的电连接器是组件电流输出和机械连接等的重要部件,其可靠性是光伏组件正常工作的非常重要。本文在阐述光伏组件用电连接器失效模式及其表现形式的基础上,着重从理论上探讨接触失效的机理,并对电连接器接触寿命进行数学建模。  相似文献   

18.
对小型高分断断路器用纤维状银石墨(AgC)电触头材料的制备工艺进行了研究。材料装机型式试验结果表明。纤维状AgC电触头材料能满足小型高分断断路器的各项性能指标。  相似文献   

19.
不同负载条件下航天继电器接触失效机理分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出了通过在线监测退化参数,获取继电器接触失效信息的研究方法。首先给出了航天继电器可靠性寿命试验的试验条件,论述了航天继电器接触失效的两种失效模式及其机理,分析了不同负载类型下航天继电器的触点表面形态和退化参数变化趋势,获得了退化参数反映继电器退化过程的动态信息,最后给出了失效机理分析后的结论,并对以后的工作提出一些想法和建议。  相似文献   

20.
尘土颗粒带电对电接触故障的影响   总被引:3,自引:0,他引:3  
对尘土颗粒的带电特性进行了研究,并探讨了颗粒带电对电接触故障的影响.结果表明,尘土颗粒所带电荷的总体变化趋势可用一个一元三次多项式表示,电荷分布呈现带状区域.对失效的连接器触点进行观察分析发现,电触点接触区附近的污染要高于非接触区的污染,污染物中主要为尘土.尘土污染会造成镀金微孔,并造成微孔腐蚀.  相似文献   

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