基于激光干涉法精密测量材料线膨胀系数装置的研究

阐述了中国计量科学研究院自行设计和研制的基于激光干涉法材料线膨胀系数测量的装置.该装置采用单频激光干涉法测量样品长度变化.为了消除样品自重带来的影响,进行了新的光路设计,以实现材料线膨胀系数的绝对测量,其分辨率小于1 nm.在常温下采用美国国家标准技术研究院(NIST)标准参考物质硼硅酸玻璃进行了测试,测得材料线膨胀系数与NIST公布值的相对偏差在1.2%以内,结果证明,该测量装置的性能是可靠的.     

一种用于线膨胀系数测量的高稳定性激光干涉系统

介绍了一种可以对材料长度变化进行测量的高稳定性双光程激光干涉系统,由于该干涉系统的测量光路和参考光路具有相似的传播路径,光程差仅由被测试样的长度引起,干涉系统具有较强的抵抗环境温度变化和振动等外界干扰的能力。通过平晶反射膜测量试验,对干涉系统的稳定性进行了验证,结果表明在6. 5 h内测量数据的标准偏差为4. 2 nm。该激光干涉系统可用于材料尺寸变化(如线膨胀系数)的高准确度测量。     

激光干涉仪在纳米测量中的典型应用

激光干涉仪具有测量分辨力高、测量结果可溯源等优点,在纳米测量中的应用日益广泛。介绍纳米测量机和低膨胀材料线膨胀系数测量装置中应用的迈克尔逊型激光干涉仪以及在高准确度位移测量装置中应用的法布里-珀罗型激光干涉仪,并结合这些实例对激光干涉仪光学系统设计、测量环境控制、迈克尔逊干涉仪非线性误差补偿以及法布里-珀罗干涉仪量程扩展等方面的关键问题进行分析和总结。所述原则和方法对实现纳米级测量准确度具有重要意义,可为高准确度激光干涉仪的研制及其在纳米测量中的更广泛应用提供技术参考。     

用电容传感器测量金属线膨胀系数

论述了用电容传感器测量金属线膨胀系数的工作原理 ,该测量系统具有结构简单、灵敏度高、线性好、数字化等优点。     

光干涉法高精度材料线膨胀系数测量

中国计量科学研究院研制的高精度材料线膨胀系数测量装置,满足温度范围为5～40 ℃、被测件长度在20～1 000 mm之间的线膨胀系数测量。采用激光干涉法测量被测件长度变化量,用高精度温度传感器测量温度值。设计了热平衡式干涉镜,利用空气折射率修正和零位误差补偿技术,保证在5～40 ℃变温范围内激光干涉仪的测量精度。以500 mm标准量块作为测量对象,线膨胀系数测量结果与德国物理技术研究院(PTB)测量结果的相对偏差为0.2%。材料线膨胀系数测量不确定度达到3×10^-8K^-1。     

金属线膨胀系数测定仪研究

在金属线膨胀系数测量中,通过引入半导体恒温加热器与温度自动控制电路配合实现温差控制.通过光纤位移传感器测量微小位移.对现有的仪器进行改进,可以更加精确地测定金属线膨胀系数.     

量块线膨胀系数测量装置的研制

本文叙述了采用比较法量块线膨胀系数测量装置的测量原理,量块线膨胀系数测量装置组成,装置各系统的作用和功能,量块线膨胀系数测量装置测量不确定度分析与评定等。通过分析和比对试验,证明了装置稳定可靠,满足JJG146-2011量块检定规程要求,实现了比较法测量量块线膨胀系数的目标。     

量块测量中易忽略的几个问题

介绍量块测量中容易被忽视的几个问题,包括温度问题中标准与被测量块的温度差对测量准确度的影响问题;在检测与标准量块线膨胀系数不同的量块时应该注意的问题,以及支承位置的选择不当对量块长度变动量的测量影响问题。     

低膨胀合金的线膨胀系数测量方法--接触式干涉法

线膨胀系数是低膨胀合金的重要性能指标，针对低膨胀合金线膨胀系数的测量精度要求较高，提出了采用接触式干涉法进行测量，并具体介绍其原理、装置、测量步骤以及对试样的要求。多年实践证明，该方法合理、简便、经济、可靠，结果达到精度要求。     

NIST芯片计划指南与应用

美国国家标准与技术研究院(NIST)开始实施一项名为"NIST on a Chip"(NOAC)的全面计划,该计划将测量服务和计量学从实验室直接带到用户手中,从而使两者彻底改变。该项目致力于开发一套内在精确的、基于量子的测量技术,这些技术几乎可以随时随地部署。这些芯片将使仪器在不需要NIST传统测量校准服务的情况下不间断地工作。这些技术将使用户能够在工厂车间、医院诊断中心、商用和军用飞机、研究实验室以及家庭、汽车、个人电子设备中进行精确测量,并且都可以溯源到国际单位制(SI)。     

用雷尼肖（RENISHAW）激光干涉仪实现线纹尺的动态测量

本文扼要叙述了利用激光干涉仪动态测量高精度线纹尺的方法与同时用比长仪测量线纹尺的结果进行了比较,结果十分接近,从而使当前大量的激光干涉仪拓宽了用途。     

新测量技术可能帮助半导体商年省数十亿美元

正一项能够为半导体制造商每年节省数十亿美元的测量性能上的基础性突破为其发明者——美国国家标准与技术研究院(NIST)研究人员在2013年赢得RD 100大奖。这项由NIST研究人员开发的被称作定量混合测量法的技术(Quantitative Hybrid Metrology,QHM),利用统计技术以及由两种或两种以上仪器测量所获得的测量值,来严格确定半导体芯片上纳米     

塑料包装材料力学与热学特性测量的数字散斑新方法

首次将数字散斑相关测量新技术引入包装材料的力学与热学特性研究领域，较好地解决了具有粘弹性材料在非常温环境下的特殊测量技术关键。以聚苯乙烯（PS）泡沫塑料与聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）为例，分别测定了线膨胀系数、弹性模量及其蠕变规律。     

走向成功的美国NIST的目标、定位和策略

正NIST简介概述美国商务部直属的国家标准和技术研究院(NIST)是支持美国测量和标准要求的主要联邦机构。它的前身是美国国家标准局(NBS),成立于1901年,1988年更名为国家标准和技术研究院,目的在于进一步提高其技术开发支持角色的影响力。自成立之时,NIST就一直提供标准化高精密度块规所需的测量标准和测量工具,以制     

下落法测量材料比热的装置研究

结合下落法和绝热量热法测量原理,研制了一套下落法测量装置及其相应的电测设备.介绍了下落法量热计装置测量原理、结构、加热炉均温区、量热计标定、标准参考物质比热测量等内容,比热测量采用美国国家标准技术研究院(NIST)的标准参考物质SRM781-Mo,测量温度范围为370～720 K,新装置的比热测量结果与NIST标准参考物质证书给出的参考值进行了比较,最大相对偏差不超过1.6%.在测量温度范围之内,新研制的量热计对标准参考物质SRM781的比热测量结果与该物质的比热参考值相一致.     

尺子的温度膨胀系数测量与计算

本文讲述尺子长度温度修正方程式中系数测量及计算方法、对尺长影响的误差评估。     

印刷电路板线膨胀系数测试

研究温度对印刷电路板的线膨胀系数影响,为印刷电路板的设计、使用、为提高产品质量提供科学依据。取印刷电路板以应变电测原理和技术测量印刷电路板的线膨胀系数。得出了印刷电路板在100C-300C,300C-500C温度范围内的线膨胀系数。本实验以应变电测量法成功的测量了印刷电路板的线膨胀系数。     

基于PCI总线的激光粒度测量系统

本文设计了基于PCI总线的激光粒度测量系统,采用专用接口芯片S5933与CPLD相结合的方式实现PCI总线接口的设计,用CPLD开发了PCI数据采集的ADD-ON逻辑,通过DMA方式实现粒度测量系统数据由ADD-ON总线向PCI总线的传输,充分利用了PCI总线的高性能、高可靠性等特点,为激光粒度测量数据的实时采集、显示、处理提供了可靠的保证。     

用Excel处理量块线膨胀系数数据

本文介绍了一种Excel处理量块温度线膨胀系数数据的简便方法，并给出了具体的操作步骤。     

温度变化对零件测量误差的影响

本文以高压电气产品零件屏蔽罩为例,从理论和实际两方面计算、分析、论证了温度变化对线膨胀系数大的金属零件的测量误差影响程度,及温度变化和零件测量误差两者的关系,从而对检查员在实际检查中采取有效措施避免温度变化对测量结果的影响,保证测量结果正确性起到指导作用;另外可对设计人员在产品设计时根据产品安装环境对线膨胀系数大的金属零件尺寸公差做相应调整,保证产品可靠安全运行提供参考依据.