一种数字电路单粒子翻转测试方法

为提高航天器系统设计的可靠性,避免单粒子效应对航天器系统造成损坏,在单粒子翻转经典测试方法黄金芯片比较法的基础上,设计一种硬件实现的测试方法。方法通过对输出高低电平相关区域的重新取舍,采用合适芯片从硬件上实现数据选择器、锁存器与数值比较器的功能优化,并进行FPGA移植,以解决经典方法在电平翻转时出现误判的问题。同时也详细阐述了移植FPGA过程中的器件选取与程序设计。实际测试表明,改进后的测试方法获得了良好的抗干扰性,为单粒子效应模拟试验提供有效的支持。     

考虑过载状态和失效概率的航空网络级联故障模型

为提高突然事件引起的级联故障对航空网络破坏程度的评估可信性,考虑到机场节点对负载的冗余能力,即如果在一定的空间范围内出现过载,节点不会立即失效,而是具备一定的超额负载处置能力,提出一种考虑过载状态和失效概率的航空网络级联故障模型.该模型首先在传统的"负载?容量"Motter-Lai级联故障模型中增加了过载系数、权重系数...     

一种数字电路单粒子翻转试验系统设计

随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性。针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计一种单粒子翻转试验系统。系统可适应绝大部分数字电路的试验需求,采用ARM与FPGA相结合的方式,使用独立设计的DB50分线装置,具备多路输入、多路输出、多路比较的功能。该试验系统驱动能力强、稳定性高,可更有效地进行各类数字电路单粒子翻转效应测试,有助于提高研究效率并缩短开发周期。     

65nm反相器单粒子瞬态脉宽分布的多峰值现象

基于65 nm工艺下单粒子瞬态脉宽检测电路,在重离子辐照下,对目标单元单粒子瞬态脉宽进行了测试。针对实验结果中单粒子瞬态脉宽分布出现多峰的现象进行了分析。详细对比了反相器多峰现象与LET值、温度、阈值电压间的关系。通过TCAD仿真分析了多峰现象的原因,即PMOS由于寄生双极效应,在高LET粒子攻击下产生的瞬态脉冲脉宽大于粒子攻击NMOS产生的瞬态脉冲脉宽。高温条件会使得寄生双极效应更加严重,因此在高温条件下脉宽分布的多峰现象更加明显。     

一种模拟单粒子瞬态产生和测量方法

为了提高利用静态随机存取存储器(SRAM)型现场可编程门阵列(FPGA)评估集成电路单粒子瞬态(SET)的精度,在瞬态脉冲的产生方面以及瞬态脉冲在FPGA中的传播特性方面进行了研究。提出一种基于IDELAY2延迟元件的瞬态脉冲产生和测量方法,利用该方法可以连续产生和测量宽度增量为78ps的正脉冲(0-1-0)和负脉冲(1-0-1),同时在FPGA内部实现8种不同的门电路逻辑链,研究它们对瞬态脉冲宽度的影响。实验结果表明该瞬态脉冲产生和测量方法实现简单,可以在不改变电路布局布线的前提下,改变注入脉冲的宽度,且计算得到的理论脉冲宽度与实际测量的误差小于7%,同时8种不同的门电路逻辑链对瞬态脉冲宽度的影响和门类型以及脉冲类型有关,与初始输入瞬态脉冲宽度无关。     

安全仪表系统硬件失效概率的评估方法

首先介绍了安全仪表系统在实际应用中的需求以及安全仪表系统的硬件失效概率评估的必要性。然后,在研究了硬件失效概率的评估方法后,分析了低要求模式下SIS系统在各种表决组的物理块图和可靠性块图。最后,通过一个范例的计算详细介绍了具体结构下SIS系统的硬件失效概率评估方法。     

考虑发布后故障发现概率的软件费用模型

在基于G-O模型的软件可靠性增长模型中引入以时间为变量故障察觉率,并以此模型建立了一种新的软件费用模型。该费用模型考虑了软件发布后使用者对软件系统剩余故障的发现概率,并不是所有的剩余故障全部被发现这种情况,使模型更符合实际。以软件开发费用最小为最优化条件,讨论发布时间与费用的关系,并在文章最后用示例说明了发布时间随参数变化。     

基于AADL的失效概率分配及安全性评估方法

当代航空系统是复杂的安全关键信息物理融合系统(cyber-physicalsystem,简称CPS).失效概率分配是民用航空系统及设备初步系统安全性评估过程的重要工作,AADL(architecture analysis and design language)适用于航电系统的设计开发,对AADL模型实施失效概率分配和安全性评估是不可或缺的.提出了基于AADL的失效概率分配方法,可将系统失效概率分配给子构件,作为其安全性需求.该方法综合考虑系统架构设计、模型复杂度和严酷度(severity)等级.通过结合失效概率分配方法和确定性随机Petri网(deterministicstochasticPetri-net,简称DSPN),进一步提出了基于AADL的安全性评估方法,将系统的AADL模型转换为DSPN模型,以计算子构件的失效概率,并评估子构件是否满足安全性需求,直到设计出满足安全性目标的架构模型.最后给出了失效概率分配方法与安全性评估方法的实现算法和工具结构,并通过将所提出的方法应用到飞行控制系统,表明所提方法能够有效地完成失效概率分配和安全性评估.     

阱接触面积对PMOS单粒子瞬态脉冲宽度的影响

使用TCAD模拟工具分析了纳米工艺下阱接触面积对PMOS SET脉冲宽度的影响。结果表明,纳米工艺下,当存在脉冲窄化效应时,增加阱接触面积会导致SET脉冲变宽,这与传统的通过增加阱接触面积可抑制SET脉冲的观点正好相反。同时,还分析了不同入射粒子LET值以及晶体管间距条件对该现象的作用趋势。     

数字电路故障诊断系统接口技术的实现

本文通过阐述接口电路设计的概念,就作者近期完成的某科研项目,详细说明了基于VXI总线的数字电路故障诊断系统接口电路的开发方法及电路转接,身份识别和自我检测功能的实现过程。     

一种考虑对齐不一致的短语翻译概率估计方法

在统计机器翻译中,短语翻译概率特征对最终的翻译结果有着重大的影响。传统的估计方法只考虑了双语短语同时出现,满足对齐一致性的情况,而没有对其他情况进行统计,因而短语翻译概率的估计不够准确。该文中,我们修改了传统的短语概率计算公式,在估计概率的过程中充分地考虑短语的各种出现情况。多个测试集上的实验结果证明了我们方法的有效性。     

考虑时延偏差的数字电路时延测试综述

先进集成电路工艺下,时延测试是数字电路测试的一项重要内容。各种时延偏差来源如小时延缺陷、工艺偏差、 串扰、电源噪声、老化效应等,影响着电路的额定时钟频率,是时延测试中需要考虑的因素。文章在介绍电路时延偏差 问题的各种来源的基础上,给出了针对不同的时延偏差问题所涉及的分析、建模、测试生成与电路设计等关键技术。进 一步介绍了中国科学院计算技术研究所近年来在考虑时延偏差的数字电路时延测试方面所做的研究工作,包括：考虑串 扰/电源噪声的时延测试、基于统计定时分析的测试通路选择、片上时延测量、超速测试、测试优化、在线时序检测等方 面。文章最后对数字电路时延测试技术的发展趋势进行了总结。     

基于多因素考虑的变压器故障概率模型

变压器在电力系统中意义重大,电力变压器一旦发生故障对电力系统将造成重大损失.在电力行业发展进程中,预防性检修及定期检修已不能满足当前的需要.因此研究基于在线监测的变压器故障诊断技术,获取当前变压器的健康状态,更好地对变压器的运行状况进行维护.综上所述:在线监测的变压器诊断技术对电力系统的安全运行具有非常重要的现实意义.当前的故障概率计算大多是针对可靠性的故障进行计算[1],没有综合考虑运行年限、已发生故障以及维修情况、运行经历等因素.因此得出的故障概率不是很准确,论文将从变压器运行的在线监测数据、运行年限、已发生的故障及维修情况、运行经历综合进行考虑,综合以上因素加权最后得出变压器整体的故障概率.     

基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成

针对数字电路中多故障测试生成较难的问题,本文提出了基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成算法。该算法先把多故障转换成为单故障,再用神经网络的方法对单故障电路构造故障的约束网络,最后用混沌搜索方法求解故障约束网络能量函数的最小值点获得原电路中多故障的测试矢量。在一些国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。     

Multiple Light Source Estimation in a Single Image

Many high‐level image processing tasks require an estimate of the positions, directions and relative intensities of the light sources that illuminated the depicted scene. In image‐based rendering, augmented reality and computer vision, such tasks include matching image contents based on illumination, inserting rendered synthetic objects into a natural image, intrinsic images, shape from shading and image relighting. Yet, accurate and robust illumination estimation, particularly from a single image, is a highly ill‐posed problem. In this paper, we present a new method to estimate the illumination in a single image as a combination of achromatic lights with their 3D directions and relative intensities. In contrast to previous methods, we base our azimuth angle estimation on curve fitting and recursive refinement of the number of light sources. Similarly, we present a novel surface normal approximation using an osculating arc for the estimation of zenith angles. By means of a new data set of ground‐truth data and images, we demonstrate that our approach produces more robust and accurate results, and show its versatility through novel applications such as image compositing and analysis.     

Multiple Vertex Next Event Estimation for Lighting in dense,forward‐scattering Media

We present a new technique called Multiple Vertex Next Event Estimation, which outperforms current direct lighting techniques in forward scattering, optically dense media with the Henyey‐Greenstein phase function. Instead of a one‐segment connection from a vertex within the medium to the light source, an entire sub path of arbitrary length can be created and we show experimentally that 4–10 segments work best in practice. This is done by perturbing a seed path within the Monte Carlo context. Our technique was integrated in a Monte Carlo renderer, combining random walk path tracing with multiple vertex next event estimation via multiple importance sampling for an unbiased result. We evaluate this new technique against standard next event estimation and show that it significantly reduces noise and increases performance of multiple scattering renderings in highly anisotropic, optically dense media. Additionally, we discuss multiple light sources and performance implications of memory‐heavy heterogeneous media.     

非平坦函数概率密度估计

针对非平坦函数的概率密度估计问题,通过改进支持向量机(support vector machine,SVM)概率密度估计模型约束条件的形式,并引入多尺度核方法,构建了一种单松弛因子多尺度核支持向量机概率密度估计模型。该模型采用合并的单个松弛因子来控制支持向量机的学习误差,减小了模型的计算复杂度;同时引入了多尺度核方法,使得模型既能适应函数剧烈变化的区域,也能适应平缓变化的区域。基于几种典型非平坦函数进行概率密度估计实验,结果证明,单松弛因子概率密度估计模型比常规支持向量机概率密度估计模型具有更快的学习速度;且相比于单核方法,多尺度核支持向量机概率密度估计模型具有更优的估计精度。     

含存储器数字电路系统的自动测试生成

已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型，不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征，提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法，其中，ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型， RAM利用新建立的RAMBIT基元等效成利于测试的时序电路模型。将其应用于ATPG软件中，解决了含存储器数字电路的自动测试生成问题。     

数字电路自动测试生成实用化软件

介绍了针对ATE应用和TPS开发的需要首次在Windows NT平台上研制的一套数字电路诊断测试数据自动生成的实用化软件系统OCTOPUS100。该软件与已有的ATPG软件相比具有成本低,有利于推广等优点。该软件具有灵活性、实用性和通用性,经实验与试用表明有很高的实用价值。     

An Automatic Test-Generation System for Large Digital Circuits

A new test-generation system (FUTURE) for large digital circuits (more than 10K gates) is based on a nine-valued FAN algorithm. Fault simulation adopts a concurrent simulation adopts a concurrent simulation technique. The system consists of four major modules: fault modeling, random pattern generation, algorithmic pattern generation, and fault simulation. The system can be a powerful CAD tool and effectively generate test patterns for large sequential circuits with Scan Path.