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通过对电容型设备多次带电测试介质损耗(以下简称介损)的数据分析,并与停电测试值对比,研究以带电测试替代电容型设备介质损耗停电预防性试验的可行性。 相似文献
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电容型设备介损的带电测试对比分析 总被引:2,自引:1,他引:1
对 2 2 0及 110 k V等多个变电站电容型设备进行了带电测试 ,对比了 110 k V CT电压下停电试验和运行中的带电测试数据 ,结果证明带电测试与停电测试有着较好的等效性 相似文献
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1 概述 在线监测电容型设备介质损耗(以下简称介损)tgδ及电容量,各地采用的方法不尽相同,我局采用电桥平衡、电容分压取标准电压的方法,经实践证明效果是好的。 通常采用电桥平衡、低压标准电容器法测量电容型设备的介损tgδ和电容量时,标准回路的电压取自同相母线电磁式电压互感器的二次电压,原理如图1,测量结果按下式计算: 相似文献
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针对当前带电测试 tgδ存在的问题,提供一种新的带电测试 tgδ的装置及新型的高压变送器,从而克服了以往带电测试 tgδ装置的不足之处,并提出了应进一步探讨的几个问题。 相似文献
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介绍了一种测量两组电容型设备介损(tanδ)差值与电容量(CX)比值的相对比较法带电测试系统,系统亦可用于带电测试氧化锌避雷器全电流及阻性电流.现场应用表明采用这种带电测试方法的长期测量结果稳定,容易消除外部因素对测量的影响,能够反应设备绝缘的真实状况.文章还分别列举了正常设备与缺陷设备的现场测量情况,就部分测试影响因素进行了分析. 相似文献
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计算电容型设备介质损耗因数的相关函数法的改进 总被引:16,自引:6,他引:16
由于不能在整周期区间内准确积分,当采样频率与电网信号频率不同步时,采用有限时间离散相关函数法计算电容型设备的介质损耗因数(介损)会产生较大的误差.采用插值法修正了相关函数法的积分区间,用梯形积分代替矩形积分,采用优化的采样频率和采样点数来提高计算精度.仿真实验表明经过修正的相关函数法对电网频率波动有较强的抑制能力,可明显减少介损的计算误差,从而不必使用同步采集卡.此外,该方法的采样频率不高、采样点数不多,易于通过基于微控制器单元(MCU)或数字信号处理器(DSP)的测量系统实现. 相似文献
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介质损耗测试是电容式电流互感器绝缘测试中十分重要的项目。但随着设备电压等级越来越高,常规的10kV介质损耗测试由于其电压与设备额定电压相差甚远,其测试数据难以全面反映出电容式电流互感器的绝缘特性。为此提出电容式电流互感器在常规介质损耗测试中出现异常情况时,追加进行额定电压下的介质损耗测试。以孙村220 kV变电站201C相和211C相两台电容式电流互感器为例,介绍了其在额定电压下介质损耗测量的试验过程,并结合试验数据对试验结果进行了相关的阐述和分析。 相似文献
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文章分析了使用电容分压法取标准电压和电桥平衡法在线测量电容型设备介质损耗因数时采用的测量方法中产生的测量误差,并提出了解决办法,可提高数据的测试和分析判断的准确度。 相似文献
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文章通过谐波分析及正弦波参数两种软件仿真法对电容性设备介损监测结果进行了分析比较,给出了在考虑采样精度、频率波动、相位漂移、零点漂移及谐波含量变化等影响因素时3种算法所得到的不同介损绝对误差仿真结果。指出谐波分析法和正弦波参数法均要求采样精度≥8位,但实际中采样精度取10住或12位均能满足tg6监测要求;谐波分析法、正弦波参数法之正交算法在介损监测中可以不受零点漂移和谐波含量的影响,而正弦波参数法之最小二秉算法则受谐波含量、零点漂移的影响较大;相位漂移、频率波动对3种算法均存在影响,以最小二秉算法对频率波动的影响较小;谐波分析法与正弦波参数法之正交算法的仿真结果基本一致,能够满足介损监测的需要。 相似文献
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介绍了电容型设备状态在线监测与故障诊断系统的组成和监测内容,对现有介损监测方法进行分析比较,提出电容型设备状态在线监测中应注意的几个问题,归纳出需要进一步研究的方向,如提出应提高传感器的性能,密切跟踪一些新兴数学工具在其他领域的研究成果。 相似文献
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中间变压器对电容式电压互感器介损测量的影响 总被引:11,自引:3,他引:11
测量电容式电压互感器的一次绕组对二次绕组及地的阻抗特性时在某种接线方式下阻抗会呈感性,这将使电容式电压互感器的介损测量产生异常结果。当阻抗呈容性时对介损测量影响较小。中详尽分析了各种不同的测量接线方式下中间变压器对电容式电压互感介损测量产生的影响,这些分析结果可以为电容式电压互感器的现场测量提供合理的测量方法及理论依据。 相似文献
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220kV电容式电压互感器试验方法探讨 总被引:10,自引:2,他引:10
在不拆线的条件下,为了准确测量CVT的电容量和介损,笔者结合现场测试实例,采用AI6000C型变频介损电桥,对整体测量一次无中间抽头高分压比电容式电压互感器的试验方法进行分析,得出了用整体测试CVTC1、C2串联后的总电容和介损的方法来判断CVT的好坏是不科学的,并提出了采用自激法分别测量220kVCVT的C1、C2电容及介损的具体方法。 相似文献