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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 62 毫秒
1.
红外成像制导对抗技术研究   总被引:5,自引:2,他引:3  
乔亚 《激光与红外》2005,35(12):913-916
文章介绍了红外成像制导系统工作原理,分析了对抗红外成像制导武器可能的技术途径,并重点阐述了主/被动光电复合侦察/告警技术、动态自适应隐身、动态变形伪装、新型红外诱饵、红外烟幕、红外光学镜头模糊剂、红外激光主动对抗等对抗手段。  相似文献   

2.
光学薄膜弱吸收测试装置参数优化   总被引:1,自引:0,他引:1  
光学薄膜对入射光的弱吸收特性是评价元件质量的重要参数.在高能激光作用下,即使十分微弱的吸收也将足以导致薄膜元件的灾难性破坏.因此,有必要对光学薄膜的平均吸收及局部吸收进行精确、快速、实时的检测.从光热偏转技术发展而来的表面热透镜法由于其对测试装置要求的放宽,并且同样拥有较高的测试精度,是测试元件薄膜弱吸收特性的有效方法...  相似文献   

3.
高重频中红外激光器在光电对抗及其它领域具有重要的应用价值,其输出的激光波长覆盖了3μm~5μm,主要包括直接抽运式高重频中红外固体激光器、高重频中红外光纤激光器和高重频中红外光学参量振荡器3种类型.介绍了产生高重频中红外激光的主要技术方案,并讨论了上述3种类型激光器的相关进展状况.最后,对各种技术所存在的问题和未来的发...  相似文献   

4.
《光机电信息》2011,(3):83-84
主办单位 中国国际贸易促进委员会 中国国际展览中心集团公司 中国光学光电子行业协会 展品范围 激光与红外产品及设备 光电显示及照明 LED&OLED&FPD 光电材料与元件光 学元件与材料 光通讯设备  相似文献   

5.
二氧化碳激光透射光学元件材料的选择要考虑它们的基本光学物理性质和具体激光装置的使用条件。对于大功率连续激光器,重要的参数是工作波长上的激光吸收,因为甚至较弱的吸收也不仅导致热聚焦的出现,使激光束劣化,而且还导致热机械应力的产生和积累,使光学元件损坏。脉冲激光辐射的特征是瞬时功率高,这里红外光学元件材料的损坏机理与连续激光作用时不同光学元件的损坏是由微观不均质处击穿引起的,所以这种情况下的光学强度与杂质及生长缺陷的存在、性质和分布有关[1~4]。红外强光光学材料不同的损坏机制决定了解决提高它们光学…  相似文献   

6.
我们首创了一种测量红外多光子吸收的新型探测器,即激光光热探测。其原理是分子吸收了共振激光的能量后产生热振荡,直接测量其能量与激光波长关系,即得激光光热光谱。在本文中,我们将报道本实验室获得的最新结果。 我们测量了若干多原子分子的激光光热光谱,观察到了在线性红外光谱中不出现的新峰。  相似文献   

7.
<正>云南北方驰宏光电有限公司致力于光电相关产品的设计开发、制造和销售,是全球红外光学材料、红外光学产品的主要供应商之一。公司以红外光学锗材料、红外光学、微光可见光三大核心技术为基础,形成三个产业基地:云南曲靖光电子材料基地、昆明红外光学研发制造基地、昆明海口微光可见光制造基地,整合优势技术和资源、构建完整的产业链体系。  相似文献   

8.
<正>云南北方驰宏光电有限公司致力于光电相关产品的设计开发、制造和销售,是全球红外光学材料、红外光学产品的主要供应商之一。公司以红外光学锗材料、红外光学、微光可见光三大核心技术为基础,形成三个产业基地:云南曲靖光电子材料基地、昆明红外光学研发制造基地、昆明海口微光可见光制造基地,整合优势技术和资源、构建完整的产业链体系。  相似文献   

9.
《红外技术》2015,(3):266+264-265
<正>云南北方驰宏光电有限公司致力于光电相关产品的设计开发、制造和销售,是全球红外光学材料、红外光学产品的主要供应商之一。公司以红外光学锗材料、红外光学、微光可见光三大核心技术为基础,形成三个产业基地:云南曲靖光电子材料基地、昆明红外光学研发制造基地、昆明海口微光可见光制造基地,整合优势技术和资源、构建完整的产业链体系。  相似文献   

10.
《红外技术》2019,(1):1-12
随着红外焦平面探测器向大面阵、多维度(例如双/多波段)信息获取、高灵敏度的第三代探测器技术发展,对红外成像光学系统的设计、光学元件加工、光学膜镀制、红外光学系统装调与测试等方面提出了新需求。本文在简述第一代热成像系统红外光学、第二代红外/热成像红外光学的基础上,梳理了第三代红外/热成像系统对红外光学的要求,综述了第三代红外成像光学系统解决这些新要求的技术进展,并展望了新技术的发展趋势。  相似文献   

11.
赵玉娥 《红外》2003,(10):38-46
对于红外元件和红外系统的设计师,制造商和用户来说,红外光学元件与可见光光学元件在采用的材料和呈现的温度特性方面存在着许多差异。甚至红外系统的测试都会成为问题,因为肉眼对这些波长的电磁辐射并不敏感。本文就红外系统的某些独特的问题进行综述。  相似文献   

12.
冯兴华  居滋培 《电子技术》1992,19(11):14-16
本文介绍的能耗数据监测系统,应用红外光电检测技术来获取电表、水表、煤气表的指针(或转盘)的转动信号,并用单片机对信号进行处理,构成一套完整的监测系统。下面分三部分介绍红外光电检测电路及系统的软硬件的设计。一、光电检测电路能耗数据监测装置首先要解决非电量的变换。常见的电度表、煤气表和水表都是以转盘或指针的角位移来表示耗用量的。设计要求在不破坏原表结构的情况下取出代表耗用量的信号,并不影响正常的抄表工作。为此,我们采用了红外光电检测传感器,利用红外元件将上述三表指针的角位移转变成脉冲信号。红外光电传感器的原理如图1所示。根据被测表的具体结构,我们决定用反射式光电发射接收结构。为了避免日光及其它一般灯光的干扰,提高传感器工作的可靠性,宜采用红外发射与接收光电器件。这种红外光电器件是根据光生伏特效应原理而制造的。  相似文献   

13.
红外光学系统中靠近探测器的光学元件通常处于低温环境中,低温环境会使得光学元件表面薄膜的透射光谱发生漂移,进而严重影响红外光学系统的成像质量。研究发现光谱漂移是由于系统中红外光学薄膜的折射率发生了改变。论文针对红外光学薄膜材料折射率温度特性开展了研究,在光学薄膜理论基础上,通过分析几种波长色散模型的特点,提出了一种红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法。该方法基于不同温度测得的透射率光谱,通过光谱反演得到不同温度条件下光学薄膜材料的折射率,并在Cauchy色散模型的基础上,通过数据拟合分析,能够得到红外光学薄膜材料的折射率温度/波长色散公式。采用该方法对PbTe、Ge两种典型红外光学薄膜材料折射率温度特性进行了分析研究,验证了该方法的可行性。  相似文献   

14.
以红外光学晶体材料锗(Ge)为重点,介绍红外光学元件的精密切削加工技术及其最新进展。首先主要介绍红外晶体材料及其性能;然后重点叙述晶体材料的切削加工特性,分析晶向对切削面的影响,给出切削条件与切削面质量的关系,列举锗非球面透镜的切削加工以及一些相关问题,最后介绍红外光学元件的镀膜技术。  相似文献   

15.
高性能的类金刚石红外光学薄膜   总被引:5,自引:0,他引:5  
姜杰 《红外技术》1996,18(4):15-20
综述了类金刚石红外光学薄膜在红外光学领域的应用,表明该薄膜不仅是一种高性能的红外光学材料,而且是各种红外镀膜元件的高性能保护膜。文中还提出了金刚石薄膜进一步开发,研究及应用中仍需解决的一些工艺及技术问题,描述了制备大尺寸均匀性类金刚石薄膜的可行性方案。  相似文献   

16.
此次会议由中国电子学会量子电子学会、中国光学学会激光专业委员会和红外光电器件专业委员会、电子部激光专业情报网、红外专业情报网、航天部光电技术情报网、兵器部激光技术情报网和红外情报网联合召开。开幕式上中国电子学会秘书长边拱、湖北省副省长梁淑芬、华中工学院副院长姚季和等先后讲话表示祝贺。  相似文献   

17.
红外光学元件的精密切削加工与镀膜   总被引:1,自引:0,他引:1  
以红外光学晶体材料锗(Ge)为重点,介绍红外光学元件的精密切削加工技术及其最新进展。首先主要介绍红外晶体材料及其性能;然后重点叙述晶体材料的切削加工特性,分析晶向对切削面的影响,给出切削条件与切削面质量的关系,列举锗非球面透镜的切削加工以及一些相关问题,最后介绍红外光学元件的镀膜技术。  相似文献   

18.
红外对抗和激光技术的进展许强译红外对抗通常意味着利用各种装置欺骗敌方的红外光电装置。适用于这些装置的现行通用技术是利用红外光源或机载红外弹投放器来诱惑导弹寻的器。对于隐身飞机平台,也用到了其它技术,比如:通过冷却发动机尾气来进行红外热抑制。红外对抗其...  相似文献   

19.
《激光与红外》杂志是中国光学光电子行业协会、电子工业激光与红外专业情报网、中国电子学会量子电子学与光电子学分会的联合刊物,国内外公开发行。报道以激光与红外为重点的光电子技术及应用领域的科技进展、新技术成果等。主要栏目有:综述与评论、激光技术、红外技术、光电材料器件、光学元件与材料、光纤技术、图像与信号处理、市场动态、企业介绍、行业概况等。  相似文献   

20.
红外光热吸收效应作为一种无损伤非接触的检测技术,已经被广泛用于硅等半导体材料中的微缺陷表征分析.采用光热吸收技术对碲锌镉晶体中的缺陷进行扫描成像分析时发现了一种连续性的光貌相条纹,并对这些条纹的形成机理进行了研究.研究表明碲锌镉晶体中的这种连续性条纹源自于光热测试系统中入射光的干涉,这种干涉和入射光参数、测试样品的厚度、禁带宽度以及热导率等材料特性密切相关.最后,实验通过优化红外光热吸收测量系统获得了碲锌镉材料中的微缺陷结构及其在样品深度方向的三维分布图像.  相似文献   

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