NIST:长度测量服务

正美国国家标准与技术研究院(NIST)物理测量实验室(PML)半导体和长度测量部的测量服务项目,专注于几微米至一米的测量,实现长度量值传递,提供促进美国创新、工业竞争力的测量、标准和基础的技术服务。NIST维护和开发先进的干涉系统,用于将基于频率的SI长度单位复现传递到实物上。推动三坐标机的技术发展、开发用来定量评价三坐标机特性的方法,通过引领和参与活动,对于国际和国内长度计量提供积极支持。     

NIST芯片计划指南与应用

美国国家标准与技术研究院(NIST)开始实施一项名为"NIST on a Chip"(NOAC)的全面计划,该计划将测量服务和计量学从实验室直接带到用户手中,从而使两者彻底改变。该项目致力于开发一套内在精确的、基于量子的测量技术,这些技术几乎可以随时随地部署。这些芯片将使仪器在不需要NIST传统测量校准服务的情况下不间断地工作。这些技术将使用户能够在工厂车间、医院诊断中心、商用和军用飞机、研究实验室以及家庭、汽车、个人电子设备中进行精确测量,并且都可以溯源到国际单位制(SI)。     

NIST研发出利用光测量加速度的全新加速度计

<正>随着设备小型化的发展趋势,当前对于可嵌入更小空间的低成本、高精密度装置的需求越来越大。为此,美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究人员开发出了一种厚度小于1毫米的全新硅基光机械加速度计。该加速度计在国际单位制(SI)框架下的测量不确定度小于千分之一,其测量准确度与当前世界上最好的实验室加速度计相当。由NIST研究人员开发出的最新加速度计,利用红外(IR)激光对两个相对的中间间隔很小的高反     

走在世界计量前沿的美国国家标准技术研究院

一、美国国家标准技术研究院（NIST)概况 美国国家标准技术研究院(NIST)是隶属于美国商务部的技术管理部门，其任务是为提高劳动生产率、促进贸易和改善生活质量而发展和提高计量、标准和技术。NIST作为美国国家计量院，负责建立和维护用于复现国际单位制基本单位和SI单位制的美国国家计量标准。总的来说，NIST致力于提高测量能力，以满足科学研究、技术创新以及制造业的需要。     

实验室认可与计量溯源性

<正>校准实验室通过不间断的校准链或比较链与相应测量的国际单位制(SI)单位基准相链接,以建立测量标准和测量仪器对SI的溯源性。对SI的链接可以通过参比国家测量标准来达到。用于检测和/或校准的对检测、校准和抽样结果的准确性或有效性有显著影响的所有设备,包括辅助测量设备(例如用于测量环境条件的设备)在投入使用前应进行校准。     

测量溯源性

<正>一、测量溯源性CNAS-CL01:2006《检测和校准实验室能力认可准则》之5.6.2.1.1关于测量溯源性(mea鄄surement traceability)作出了解释:校准实验室通过不间断的校准链或比较链与相应测量的SI单位基准相连接,以建立测量标准和测量仪器对SI的溯源性。国家计量技术规范JJF1001-2011《通用计量术语及定义》之4.14将计量溯源性(metrological traceability)定义为"通过文件规定的不间断的校准链,将测量结果与参照对象联系起来的特性,校准链中的每项校准均会引入测量不确定度"。定义中的参照对象可以是实际实现的测量单位的定义,或包括无序量     

NIST三年规划(2017-2019)——NIST概述及规划目标

正美国国家标准与技术研究院(NIST)通过推进对国家经济至关重要的战略领域的测量科学、标准和技术的发展,提升美国的创新水平以及产业竞争力。美国竞争法(Pub.L.110-69,121 Stat.572)中规定了NIST在提升国家创新水平以及产业竞争力方面的重要职责任务,并要求NIST提交一份与总统向国会提交的预算请求相对应的为期三年的规划。本规划文件统筹规划了NIST在这三年期间用于制定计划和确定投资重点的主要工作。NIST将与美国政府通力合作,为满足国家重点需求而继续优化此项计划。     

NIST建立QCM测量与新国际单位制之间关系

正新测量方法美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究人员已经探索到一种新的方法,可以将微芯片制造和其他行业不可缺少的设备所进行的测量直接与新国际单位制(SI)联系起来。这种可溯源性将极大地增强用户对其测量的信心。该设备呈大小为一角硬币的微盘状,称为石英晶体微天平(QCM),对于基于以薄膜形成的精确控制的企业至关重要。它们     

走向成功的美国NIST的目标、定位和策略

正NIST简介概述美国商务部直属的国家标准和技术研究院(NIST)是支持美国测量和标准要求的主要联邦机构。它的前身是美国国家标准局(NBS),成立于1901年,1988年更名为国家标准和技术研究院,目的在于进一步提高其技术开发支持角色的影响力。自成立之时,NIST就一直提供标准化高精密度块规所需的测量标准和测量工具,以制     

中国计量院系列报道

<正>中美开展温室气体测量领域合作作为两国国家计量院,中国计量科学研究院(NIM)和美国国家标准与技术研究院(NIST)保持着长期友好的合作关系,并在习近平主席访美期间正式签署《中华人民共和国国家计量科学研究院与美利坚合众国国家标准与技术研究院关于温室气体测量和精准医疗领域标准的合作意向书》,在重要领域开展测量科学与标准方面     

NIST院长首次来华对中国计量院进行友好访问

本刊讯1月21日，应国家质检总局的邀请，美国国家标准与技术研究院(NIST)阿德·本门特院长、NIST的国际与科技办公室史蒂芬·卡朋特总裁和美国驻华大使馆官员欧文思一行3人到中国计量科学研究院(NIM)进行首次友好访问。来宾首先参观了NIM纳米测量实验室、20MN标准测力机和铯原子喷泉钟，并与科技人员进行交流，询问了与课题有关的一些技术问题，科技人员一一作了解答。随后，潘必卿院长在院办公楼迎宾厅会见了来宾，对佳宾来访表示欢迎。在座谈中，阿德·本门特院长感慨地说，此次来到中国，时间虽短，但看到中国发生了很大的变化。…     

NIST:光学显微技术作为有效纳米测量手段

<正>最新实验结果证明:美国国家标准与技术研究院(NIST)几年前研发的技术可以使光学显微镜以纳米级的分辨力测量物体三维形状,远低于光学显微技术正常的分辨力极限(对于绿光大约是250nm)。该成果有望使这项技术成为纳米器件,例如,下一代微芯片制造的有用质量控制工具。NIST实验显示离焦扫描光学显微(TSOM)技术能够探测3-D形状细微差别,揭示直径小于50nm的物体中尺寸小于1nm的变化。2013年NIST的模拟研究显示:TSOM技术理论上可以达到这一点,目前新的测量结果使其在实际中得到证实。     

对向测量皮托管的国际比对

为验证现场烟道流量测量使用的对向测量S型皮托管、球形三维皮托管和棱形三维皮托管校准系数的一致性,中国计量科学研究院(NIM)主导开展了包括美国国家标准与技术研究院(NIST)和韩国标准科学研究院(KRISS)参加的皮托管校准比对。比对结果表明:S型皮托管在不同实验室间比对结果吻合度相对较差,不适合作为比对标准器;球形三维皮托管在不同实验室间比对结果吻合度高于棱形三维皮托管,流速校准系数差异对测量轴向流速的影响高于偏航角参考位置偏差与俯仰角校准系数差异造成的影响;皮托管的偏航角参考位置偏差和俯仰角校准系数差异造成的轴向流速差异在0.03%~0.9%,由于流速校准系数差异造成的轴向流速差异在1.9%~12.2%。     

美国国家标准技术研究院

美国国家标准技术研究院(NIST)是美国商务部的直属组织之一“技术管理部门(TA)”的下属单位之一。它隶属于美国商务部,是由美国国会批准成立的组织,其目的是支持美国工业、商业、科研院所及政府机构。NIST是美国政府最大的标准化科学研究机构,实际上是作为重要的技术后方而发挥作用,它拥有强大的科研能力,可为各类标准的制定提供大量科学研究成果和试验数据。作为美国商务部的一个机构,NIST与工业部门一起发展并应用技术、标准及测量,促进美国经济的发展。     

WSN

INFORMATION NIST发布维生素D标准参考物质为提高有关检测实验室所使用的测量人体内维生素D水平方法的质量和准确性,美国国家标准与技术研究院(NIST)和美国国立卫生研究院膳食补充剂办公室的科学家,已经制定出一种新的关于血清中维生素D的参考样本,以帮助实     

如何进行标准物质验证和期间核查

正CNAI/AC01:2005《检测和校准实验室认可准则》在5.6.3.2款标准物质(参考物质)中规定:可能时,标准物质(参考物质)应溯源到SI测量单位或有证标准物质(参考物     

美国标准技术研究院的发展进程

美国标准技术研究院（NIST）的前身是1901年在美国商务部设立的国家标准局（NBS），1988年，随着其使命的不断扩大，NBS被更名为国家标准技术研究院（NIST）。一个世纪以来，NIST始终是美国工业、科学和政府的可靠助手，它所开展的研究、测量手段和技术服务已深深地融入到推动美国经济的发展中。工厂、通信和运输网络、实验室、医院、教育机构、服务业以及新经济发展中延伸的企业无不依靠NIST。NIST已成为美国标准化发展的技术后方，在美国发挥了重要的技术支撑作用。     

NIST称:将以国际标准认可校准实验室

校准实验室是以国际标准的通用性为依据的校准技术服务。美国商业部标准和技术研究院(NIST)的国家实验室自愿认可程序(NVLAP)将接受依国际标准认可校准实验室的申请。新的NVLAP程序将对制造商、出口商、试验室和试验结果相互间的承认都大有益处,即避免了贸易障碍。 NVLAP程序与ISO/IEC导则58∶     

新测量技术可能帮助半导体商年省数十亿美元

正一项能够为半导体制造商每年节省数十亿美元的测量性能上的基础性突破为其发明者——美国国家标准与技术研究院(NIST)研究人员在2013年赢得RD 100大奖。这项由NIST研究人员开发的被称作定量混合测量法的技术(Quantitative Hybrid Metrology,QHM),利用统计技术以及由两种或两种以上仪器测量所获得的测量值,来严格确定半导体芯片上纳米     

美国国家标准与技术研究院(NIST)的先进测量实验室

1成功基础上的建筑 近100年来,NIST开发了美国在技术创新方面保持领先所需的测量与标准.例如,远程通讯工业依靠NIST标准提高光纤通讯的速度与效率,美国的汽车及零件制造商应用NIST的校准、标准与技术以保证产品的质量与可靠度,半导体晶片制造商需要大量的NIST的测量以生产更小且运行更快的电子产品.