军用设备元器件选用可靠性保证探讨

我国科学技术在发展的过程中,军用设备得到较快优化,其中元器件对设备运行质量的提高具有较大促进作用。对元器件的合理、针对性选用,可使设备的可靠性得到较高的保证。元器件可靠性主要分为使用可靠性与固有可靠性,其中使用可靠性主要是指在使用元器件期间表现出的可靠性特征,从不同角度入手,如二次筛选、降额使用、破坏性物理分析等,以此为提高设备可靠性奠定良好的基础。本文首先阐述了军用设备元器件选用可靠性保证要求,而后对军用设备的元器件可靠性选用原则进行有效分析,最后着重分析了军用设备元器件选用可靠性控制,以此提出几点见解,仅供参考。     

军品型号用塑封工业级元器件的可靠性控制研究

当前,军品型号由于先进战技指标、小型化、轻型化等要求,使用了为数不少的进口塑封工业级元器件(以下简称工业级元器件)。但是工业级元器件的可靠性远低于按军用标准生产的元器件。如何提高工业级元器件的装机可靠性成为了型号元器件应用的难题之一。该文对工业级元器件的可靠性进行了分析,并对如何提高工业级元器件的使用可靠性提出了相关方法和建议。     

电路设计中元器件的使用可靠性

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础.结合工作实践,对电路设计中元器件的使用可靠性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件应用可靠性的建议.     

进口元器件可靠性评估方法探讨

介绍了进口元器件的使用现状、特点,分析了影响元器件使用可靠性的各项主要因素。在此基础上,根据工程实践,总结了制定进口元器件可靠性技术评估方案的一般思路、原则和方法,并针对不同评估结果,给出处理意见。这些方法和原则同样适用于国产元器件的研制试验和应用可靠性评估。     

加强可靠性物理基础研究,提升应用技术能力

对研制生产、使用中元器件失效的原因和机理进行研究分析,提出改进措施,不断提高元器件可靠性是元器件可靠性科研和技术服务的任务所在.近年来元器件可靠性物理及其应用技术研究条件实现了跨越式发展,研究领域不断延伸、拓展,科研成果和应用技术支撑了元器件可靠性的提高.加强元器件可靠性基础研究,建设可靠性分析和评价公共技术平台是未来发展的目标.     

微机测控系统中元器件的可靠性与选择

元器件可靠性是使用电子元器件进行电路设计及软件编程的基础，而在系统设计时，元器件性能的好坏与稳定性将直接影响到整个系统的性能和可靠性。文中主要对微机测控系统中的元器件可靠性进行了分析，并详细阐述了影响元器件可靠性的原因和机理，最后讨论了提高元器件可靠性的一些原则措施。     

浅谈提高电子元器件使用可靠性的措施

电子元器件作为设备系统中最基础的组成部分,其本身的使用可靠性极大的影响着电子设备的整体运行效率。为了确保电子元器件能够有效配合整机系统,就必须保证电子元器件的使用可靠性。本文从分析电子元件的失效原因入手,分析探讨提高电子元器件使用可靠性的相关措施。     

微波组件产品中元器件正确选用和质量控制

电子元器件的可靠性对微波组件产品的起着决定性的作用。结合微波组件研制生产产品中有关元器件质量控制的实际控制情况,从元器件的选用原则、元器件质量等级、元器件在设计过程中的正确使用、元器件入所后的检验和补充筛选等方面进行了探讨。提出了制定元器件选用原则和要求,在元器件的使用中进行降额设计、热设计和容差设计等,同时对于元器件采取针对性的入所检验和补充筛选等加强质量控制措施的基本思路,使微波组件产品的可靠性有了进一步提高。     

二次筛选中电子元器件的可靠性保障

二次筛选是电子元器件在装机使用前可靠性的重要保障过程,从环境、操作、静电防护、失效分析与破坏性物理分析等方面做好电子元器件的可靠性保障工作,可以避免电子元器件的更多失效和在装机使用后因有隐患而造成失效问题。本文对这些问题进行了深入思考和探索,提出了一些可靠性相关保障措施。     

电子设备的可靠性技术

文章分析了电子设备的可靠性,包括可靠性的定义、电子元器件的正确选择、有关的筛选程序、电子元器件的降额使用和瞬间应力防护等。     

联机检修的冗余结构使用可用度模型修正

现场故障更换对象由电子和机电元器件改变为电子和机电更换模块后,备件保障就成为联机检修冗余结构任务可靠度和使用可用度模型中必须包含的一个关键参数。但在传统的联机检修任务可靠度和现行的使用可用度模型中没有得到或没有完全得到应有的反映。对此,提出了修正模型。在使用可用度模型中还对同时检修的平均修复时间模型作出了改正。     

Similarity approach for reducing qualification tests of electronic components

Qualification analysis and reliability testing of electronic components represent a major activity in the process of development of electronic equipment. Electronics manufacturers have to adopt often costly test programmes to ensure qualification standards and reliability requirements are met. This paper details a novel similarity-based qualification approach for assessing expected reliability of electronic components, and in general electronic products, as an alternative to conventional physical testing. The originality of this work is in the proposed approach which introduces a new way of qualifying electronic components based on similarity with previously assessed and qualified components. This novel approach has the potential to transform in a major way the current operational practices in the industry, demanding at present substantial physical testing, by offering a complementary, “virtual qualification” route for addressing the cost and time challenges associated with qualification tests.A major achievement is the comprehensive and detailed demonstration of the proposed reliability qualification approach. Case studies on qualifying electronic components to the thermal loads induced by a particular post-manufacturing process widely adopted by high-reliability electronics sectors – the robotic hot solder dip (refinishing) process, and associated risks of thermo-mechanical damage are presented and discussed.     

一种基于多源信息的广义比例组合可靠性分配法

提出一种基于多源信息的广义比例组合电子系统可靠性分配法.该方法在GJB 299C-2006元器件失效率预计公式的基础上,按新研系统的新标准、新环境统一折合元器件失效率,估计相似单机失效率,而后按照新系统设计方案来组合各类型单机,最后利用余度系统比例组合法将系统可靠性指标分配至各单机.该方法拓展了比例组合法的适用范围.基...     

航天产品电子元器件的质量控制

电子元器件是电子设备和系统的最基本单元,电子产品的可靠与否决定于电子元器件的可靠性,没有高可靠性的电子元器件,设计再好的电子产品也难以发挥其作用。文章从元器件的选择、内在质量评价、二次筛选、DPA、失效分析、元器件质量跟踪、元器件质量数据库等环节讨论了电子元器件的质量控制问题并提出了一些建议。     

高可靠元器件的使用环境、试验条件和失效机理

为了对高可靠元器件进行可靠性试验提供设计依据,对包括航天、军事和汽车等在内的高可靠应用领域中的典型环境条件和要求进行了研究.这些环境条件包括高低温、温度循环、湿度、振动以及辐射等.总结了应用于高可靠领域的电子元器件的实验条件和相关标准,分析了高可靠应用环境条件对电子元器件失效的影响及其失效机理.     

Commercial-Components Initiative: Ground Benign Systems-plasticencapsulated microcircuits

The purpose of the Commercial Components Initiative-Ground Benign Systems was to determine if commercial off-the-shelf PEM (plastic-encapsulated microcircuits) are suitable for use in ground-benign, dynamically-fixed military electronic systems. If so, they could replace the more expensive components presently specified by DoD (US Dept. of Defense), resulting in appreciable life-cycle cost savings. At issue is whether the components produced for the commercial industry are reliable and durable enough to withstand the environments and life expectancies of military systems. Reliability was not formally proven. A more practical informal reliability test for this project, which DSD dubbed Run for Reliability, was to install the PCB in the system and let the operational hours accrue beyond the subsystem and Signal Processor lifetime allocations. The Run for Reliability shows promise that commercial hardware could be proven in a formal reliability demonstration test     

某型航空用超期电子元器件的使用问题探讨

长期以来，航空电子元器件的超期使用问题一直都是航空电子产品可靠性研究的一个重要课题。从元器件的固有可靠性和使用可靠性两个方面。对CBCB118双达林顿管在某型航空产品上的使用问题进行了分析和探试。     

现代电子设备的可靠性设计技术

可靠性设计是现代电子设备可靠性保证体系的关键环节。阐述了电子设备可靠性设计的基本原则与实施途径，包括元器件的可靠性选用、电子线路的可靠性设计以及印制电路板的可靠性设计等。     

电子元器件的可靠性选择与应用控制规范

由于电子行业正在高速发展,电子产品的应用范围越来越广,其结构也趋于多样化,电子产品是由电子元器件组成的,这就使得电子元器件的数量越来越多,电子元器件是否具有高可靠性将直接影响到整机的性能.本文首先介绍了电子元器件的可靠性指标,然后分析了如何控制电子元器件可靠性的选择和应用.