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通过对影响引信电子零部件长贮失效的主要环境因素(温度和湿度)分析,得出引信电子零部件长贮失效服从威布尔分布规律。单环境应力与双环境应力下分别满足阿伦尼斯和广义艾林模型,用恒定应力加速寿命试验方法,使温度和湿度相互作用加速效应等于零,推导出双环境应力下加速系数等于温度和湿度加速系数乘积。应用三组应力加速寿命试验的数据,计算出双环境应力下成布尔分布的形状参数、特征寿命、中位寿命等数值,从而估计出各种引信电于零部件长贮失效规律,对预测电子引信长贮可靠寿命,确定引信最佳贮存环境等具有一定参考价值。 相似文献
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本文通过对引信帽原材料、中间过程产品、以及整个生产过程的深入调查分析和大量的试验验证,深刻剖析了某型引信帽零件出现白色点状物的原因,并提出了切实可行的解决措施。 相似文献
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引信电子零部件长贮加速寿命试验方法探讨 总被引:3,自引:0,他引:3
通过对影响引信电子零件长贮失效的主要环境因素(温度和湿度)分析,得出引信电子零部件长贮失效服从威布尔分布规律,单环境应力与双环境应力下分别满足阿伦尼斯和广义艾林模型,用恒定应力加速寿命试验方法,使温度和湿度相互作用加速效主尖等于零,推导出双环境应力下加速系数等于温度和湿度加速系数乘积。应用三组应力加速寿命试验的数据,计算出双环境应力下威布尔分布的形状参数,特征寿命,中位寿命等数值,从而估计出各种引 相似文献
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