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相似文献
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1.
边界扫描在PCB缺陷测试中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足。通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理,提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT,实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能。  相似文献   

2.
基于USB总线的边界扫描测试主控系统的设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求。提出了一种基于USB总线的低成本边界扫描测试主控系统的硬件设计方案;该系统以便携式计算机为平台,用FPGA实现JTAG主控器生成满足IEEE1149.1协议的边界扫描测试信号,并用普通的SRAM实现存储器共享;该系统可以对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试以及进行边界扫描测试的研究和实验;通过试验,系统性能满足设计要求。  相似文献   

3.
从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展   总被引:1,自引:1,他引:0  
边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。  相似文献   

4.
FPGA配置芯片测试方法的研究与实现   总被引:2,自引:0,他引:2  
集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据。  相似文献   

5.
FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
应用在FPGA芯片中的边界扫描电路侧重于电路板级测试,兼顾芯片功能测试,同时提供JTAG下载方式。FPGA芯片的规模越来越大,引脚数目越来越多,边界扫描单元也随之相应增加。在此情况下,边界扫描电路设计时为了避免移入错误数据,对时钟偏差提出了很高的要求。同时,由于扫描链包含大量的边界扫描单元,在板级测试时,大大降低了有效测试速率。针对这两个问题,提出了对边界扫描单元的改进方式,改进后的边界扫描电路不仅可实现测试、编程功能,而且大大提高了电路抗竞争能力,保证电路正常工作。改进后的电路使边界扫描寄存器链的长度可以改变,使有效测试速率提高了20倍左右。  相似文献   

6.
印制板级边界扫描接口线的测试   总被引:1,自引:0,他引:1  
边界扫描设计正逐步成为可测性设计的主流。本文首先简要介绍边界扫描器件的结构,然后详细讨论印制板级边界扫描接口线的故障模型和测试原理,并给出相应的测试电路和测试算法。最后通过一个测试实例说明测试算法的时间特性。  相似文献   

7.
超大规模集成电路和组装工艺快速发展,电路板结构和功能日趋复杂,将边界扫描技术应用于系统级测试,对提高系统的可靠性和可维护性具有重要的实用意义;在深入研究IEEE1149.5和IEEE1149.1标准的基础上,对基于MTM总线的边界扫描控制器结构进行了研究,解决了IEEE1149.5与IEEE1149.1协议转换中的关键技术,设计实现了内嵌边界扫描功能的MTM总线从模块,使用SpartanⅡ器件实现了基于MTM总线的边界扫描控制器;仿真和实验结果表明,IEEE1149.5总线接口、IEEE1149.1端口和TAP控制器功能正确,符合系统层次化测试的实际要求。  相似文献   

8.
随着嵌入式测试概念的产生,边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新研究方向;嵌入式边界扫描是电路板级故障检测的必然发展趋势;文中首先介绍了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成及下载,最后以某数字电路板为对象进行了嵌入式边界扫描测试验证,并给出结论;总体上,嵌入式边界扫描测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.  相似文献   

9.
随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战。介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计。  相似文献   

10.
叙述了可测性设计(Design For Test/Testability,DFT)的概念和常见方法,其中边界扫描技术是目前应用最为广泛的可测性设计方法。本文在对边界扫描技术的基本原理予以介绍后,结合星载计算机的特点设计了一种基于边界扫描的可扩展的层次化可测性设计结构,能够通过边界扫描进行芯片级、板级乃至系统级的测试。  相似文献   

11.
介绍了一种带FPGA的PCI接口的应用及设计方法。叙述了Quick PCI系列中的32位Target接口芯片QLS030的原理及结构,分析了目标写时序,提出了基于QLS030的高速绘图机上PCI接口卡的设计方案。本设计将PCI接口和PCI用户逻辑集成在一片芯片里,可以对整个逻辑进行仿真测试,缩短了开发周期,提高了系统的集成度和性能。  相似文献   

12.
针对汽车发动机电控单元硬件在环仿真测试系统的高实时性的要求,采用基于CY7C09449芯片的PCI总线技术构建发动机硬件在环仿真系统。该系统充分利用了阳接口芯片的资源,发挥了阳总线高速数据传输的优势,满足了硬件在环仿真系统謇时数据采集和信号发生的要求。实验结果表明,基于该芯片的测试系统,数据传输快,稳定可靠,具有较高的实用价值。  相似文献   

13.
以磁头测试设备中的运动控制系统为对象,介绍了基于PCI总线和TMS320LF2407A的运动控制系统的特点,以及如何利用PCI总线接口芯片PCI9052通过双口RAM实现PC机与DSP之间的高速通信,并讨论了如何利用DSP控制器实现步进电机的点位控制。  相似文献   

14.
对基于PXI总线的A/D数据采集电路进行了结构划分、设计和实现。该数据采集模块主要通过PCI9052桥芯片将ISA插卡信号移植到CPCI总线上,作为PXI测试系统的一个功能模块,通过CPLD实时响应零槽控制器发出的触发信号。  相似文献   

15.
PCI是DSP应用系统与通用计算机高速通信的理想接口。介绍了一种双谱段探测系统的PCI接口方案,该方案采用TI公司的TMS320F2812DSP作为控制单元主控芯片,采用Cypress公司PCI-DP系列的CYTC09449PV作为PCI接口芯片,具有接口简单方便易于实现的优点。详细讨论了CY7C09449PV与TMS320F2812的硬件连接、参数配置与时序分析。  相似文献   

16.
PCI是DSP应用系统与通用计算机高速通信的理想接口。介绍了一种双谱段探测系统的PCI接口方案,该方案采用TI公司的TMS320F2812 DSP作为控制单元主控芯片,采用Cypress公司PCIDP系列的CY7C09449PV作为PCI接口芯片,具有接口简单方便易于实现的优点。详细讨论了CY7C09449PV与TMS320F2812的硬件连接、参数配置与时序分析。  相似文献   

17.
介绍了ETX模块、PCI总线及PCI9054芯片,研究了在ETX系统中如何使用芯片PCI9054具体设计和实现高速数据传输功能。  相似文献   

18.
详细介绍了一种基于PCI9054的高速数据处理卡的系统结构以及主要功能模块,并基于PCI9054桥片和EPM1270,介绍了该数据处理卡的硬件和软件的实现方案,讨论了数据处理卡的测试结果.  相似文献   

19.
介绍了ETX模块、PCI总线及PCI9054芯片,研究了在ETX系统中如何使用芯片PCI9054具体设计和实现高速数据传输功能。  相似文献   

20.
研究了一种基于PCI总线的高速数据采集处理系统,采用PCI9054作为PCI总线接口芯片和DSP芯片ADSP2188N作为系统通用硬件平台,详细介绍了该系统的工作原理及软硬件设计方案。该系统能满足灵活加载程序、对采集的大容量数据进行实时处理等要求,同时具有一定的可扩展性。试验证明该系统能正确对空间噪声信号进行实时采集和高速处理,在高频地波雷达中得到了很好的应用。  相似文献   

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