自聚焦列阵参数测试仪

自聚焦列阵参数测试仪器是为自聚焦列阵的生产、使用以及定标而专门设计的。它结构小巧,功能较全,并配备了为这台仪器专门设计的小型结构的30×显微镜,4×放大镜,以及光纤探头和接收部分,低线对的均匀光栅及非均匀光栅,并由微动千分尺进行三维读数,使用这台仪器可以方便而准确的测出自聚焦棒直径2r_?,共轭距离T_c,传象宽度     

液晶参数综合测试仪

中科院长春物理所研制的液晶参数综合测试仪是将液晶显示器的电光特性、液晶分子预倾角、液晶盒间隙、彩膜及背照明光源色度学参数测试合为一体的多参数测量仪器,具有测试精度高,系统重复性好,操作简单等特点。放置样品后整个测试过程完全由计算机控制并给出测试结果,计算机软件功能完善,性能可靠。该仪器适用于液晶显示器的研制与生产过程中的工艺检测与产品质量评价。可测参数:     

CMOSIC静态参数测试仪

根据我专业教学,科研品种变动大,批量小,对某些参数需仔细观测、分析等等特点。我们结合学员毕业实践,用我们自己生产的CMOS电路设计和按装了这台“COMSIC直流参数测试仪”。它只适用于测试CMOS门电路-触发器和全加器。仪器是半自动的,使用较为方便,使用时只需将面版上输入,输出端有关开关拨到与被测电路种类相对应的位置,开机后按一下“复位”开关,即可进行测试。测试时依次按输     

液晶器件参数综合测试仪

液晶器件参数综合测试仪准确检测液晶器件制造过程和产品的某些参数，是成功开发新产品、提高成品率的可靠保证。中国科学院长春物理研究所自行研制开发的液晶器件参数综合测试仪集液晶显示器的电光特性、液晶分子预倾角、液晶盒间隙、彩膜的色度学参数测试于一体，测试过...     

三角波信号参数测试仪

提出由三角波信号发生器和三角波信号参数测试仪组成的系统设计.信号发生器以FPGA为控制核心,基于直接数字频率合成原理,产生频率、幅度、占空比连续可调的三角波信号;而三角波信号参数测试仪以等精度法实现了精度为10~(-6)的三角波频率测量:以数字峰值检波的方法实现了幅度测量,其误差小于1%;以多点求均值的方法也降低了求取斜率的误差.该系统设计为实验室产生多参数同时可调的三角波及三角波的精确检潮提供可能.     

一体化激光参数测试仪研制

为了降低激光测距机性能参数测试的复杂度,开发了一体化的激光参数测试仪.该系统由数据采集、信号发生、测量模块等单元组成,并嵌入了高性能计算模块,所有控制功能由遵循VISA(virtual instrument software architecture)标准的测控软件完成,实现了各项参数的测量、计算、显示和存储.通过实践论证,激光参数测试仪较大程度的简化了激光测距机参数测量的过程,并能快速、精确、自动地完成各项操作.     

井下参数测试仪的研制

介绍了一种基于AT89C55单片机和实时内核RTX-51的井下参数测试仪,实现了对油井井下地质参数的测试,它同时具有参数设置、LED(发光二极管)实时数据显示、绘图仪接口、串行通信等功能。实现了测控过程的自动化、测量结果的数字化,提高了井下地质参数测量的精确度,降低了操作人员的劳动强度。     

晶体管参数测试仪的设计

以LM3S1138芯片作为控制核心,设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括:恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压,通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压的测量。通过RS232接口将测量数据传送到PC机,利用Matlab软件实现对测量数据的处理和显示。测试结果表明:该晶体管参数测试仪工作良好,测量结果都在数据手册给的参数范围之内。     

641型晶体管参数测试仪

641型晶体管测试仪是上海无线电仪器厂1964年新产品之一.仪器全部晶体管化,因此体积小巧、用电省、携带方便、能迅速地判断出PNP和NPN的中、小功率及点接触型晶体三极管的基本参数.它用于检验和选择适当的晶体管. 主要技术性能     

继电器时间参数快速测试仪

继电器时间参数快速测试仪张伯颐继电器触点的动作时间Ｓ。ｎ和触点的返回时间【。。。是继电器的重要参数。动作时间Ｌ。ｎ是相继电器从线圈得电到常开触点闭合所需的时间。返回时间Ｚ。，，是指继电器线圈失电到常开触点断开所经过的时间。本文介绍的测试仪能快速、简捷...     

电力参数测试仪软件抗干扰设计

针对电网参数测试仪软件算法的特点,对测试软件进行了容错设计,采用了专门的数值容错设计,取得了很好的抗干扰效果。     

智能化电力参数测试仪应用研究

为了实现电网既安全又具有较高经济效益的进行自由调度,快速、精准的进行电力参数数值的测量问题变得日益重要,正因为如此,现在智能化电力参数测试仪的研究越来越受到国家的重视。作者也深受这股顺势的研究热潮感染,选择智能化电力参数测试仪应用研究作为此次研究课题。     

功率MOSFET参数测试仪的设计

功率MOSFET参数测试仪是用来测试功率MOSFET电特性参数的仪器设备（如阈值电压、跨导等）。以单片机为核心,介绍功率MOSFET参数测试仪的原理、设计及实现,设计了电特性参数测试的具体电路,编写了测试控制程序,通过对设计出的测试仪系统进行实验和调试,可以准确测量功率MOSFET的阈值电压、跨导、栅源漏电流、零栅压漏极电流及耐压。     

智能电参数测试仪的设计

介绍了交流采样的基本原理，提出以Intel80C916KC为核心处理单元来实现对电力电网的多路参数的智能测量，并给出了整合系统的软硬件设计方案。设计中采用外设事物服务器PTS来响应A/D转换，大大减少了A/D转换时间，从而提高CPU的效率。     

硅片参数测试仪的预防性维护

主要对ADE公司生产的硅片参数测试仪(UlatraScan9600)的预防性维护及注意事项进行了简单的说明。     

大信号参数测试仪设计技术

通过计算机产生一定脉冲重复频率的窄脉冲来测试ＧａＡｓ，ＦＥＴ或ＰＨＥＭＴ的Ｉ－Ｖ特性，能大大克服了器件在直流状态下的热效应和电子陷阱效应，对器件大信号建模和器件机理分析具有重要意义，着重论述了测试仪的硬件，软件设计和实际使用效果。     

重频激光参数综合测试仪

利用不同长度的单模石英光纤制作光纤时-空采样器，将采样激光输入大面积快速光电转换器，用数字示波器测量电脉冲信号，实现对单脉冲激光的实时采样测量。其核心是利用单模石英光纤的芯径小、结构尺寸规范、损伤阈值高等特点，实现对激光光束的无畸变大倍率衰减。给出了相关的设计方案。     

中规模集成电路直流参数测试仪

一、概述 本仪器是为我厂生产的140计算机配套产品而设计的。主要测试品种为逻辑电路和数字电路。由于本仪器是和功能测试仪配合使用,故电平参数只作部分有代表性的测量。其主要技术规范如下: (1)电压测试范围:0～6伏 (2)电压量程:①0～1伏;②0～10伏 (3)电流测试范围:0～120毫安 (4)电流量程:①0～500微安;②0～5毫安; ③0～50毫安;④0～250毫安 (5)测试速度:每秒50项 (6)测试精度:误差<±5％ 现将使用方法简单介绍于后: (1)测试品种的更换由更换二极管排题板来完成,包括三块二极管排题板和一块转接板。     

294数显晶体管直流参数测试仪

<正> 294数显晶体管直流参数测试仪是一种更新换代产品,它比295指针式晶体管直流参数测试仪(见本刊1991年第1期)量程宽,线性好,可直读、准确度分辨率高,体积小,重量仅500克。它不仪能测试二极管、三极管、稳压管、发光二极管,而且还能测试场效应管,可控硅和触发管,甚至还能测压敏电阻保护值,氖泡起辉值,电容耐压等直流参数。