内嵌于DDS高速DAC的动态参数测试

对基于ATE和频谱仪的内嵌于DDS的高速DAC的动态参数进行测试实验,通过编程由ATE提供数字正弦波和时钟信号;通过频谱仪对DAC输出模拟信号采样,并通过VBT编程得到DAC的动态参数。最后将结果返回到ATE的Excel环境下与其他测试参数结果一起输出。整个流程由ATE主机控制,避免了芯片的二次测试,缩减了测试成本,实验证明在实际应用中该方法有很好的效果。     

一种混合信号测试系统的设计及实现

针对一款混合信号的视频编解码芯片的参数测试要求,依据电路内部的测试结构,设计了一个基于纯数字自动测试设备（ATE）的混合信号电路测试系统。该测试系统通过增加MCU、ADC、DAC、FIFO、运放、可控开关等外围电路实现对芯片参数的测试。详细阐述了测试系统的总体方案、硬件设计和软件设计。通过软件和硬件的协同工作,该测试系统能够对含有AD、DA模块的混合信号电路相关参数进行测试,实现电路整体性能的评估。该测试系统原理清晰,结构简单,扩展灵活、方便。     

新型DAC将欧胜的自然音效带给更多听众

欧胜微电子日前宣布为其非常成功的高性能数字模拟转换器（DAC）系列增添一款新品。这款编号为WM8742的新DAC以专业音频应用为目标，并满足了高端家用音频应用不断增长的需求，诸如A／V接收器、CD、DVD、超级音频光盘系统（SACD）以及家庭影院系统。该款新型24位192kHz的DAC器件将优异的123dB（立体声）信噪比与欧胜的低带外噪音、世界一流的高线性度以及一个独特的可编程先进数字滤波器组合结合在一起。     

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

 SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digital-to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP 核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP 核采样得到的数字代码以及通过V93000 采样DAC IP 核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP 核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP 核测试方案非常有效.     

动态信息

Burr-Brown公司推出新型DSD音频数据转换器 Burr-Brown公司已经推出一种专门供Sony DSD使用的音频数据转换器,型号为DSD 1700。该转换器在设计上独特,它融合了Burr-Brown公司的高性能音频DAC技术和Sony公司的DSD技术,可直接将1位2．822 4 MHz数字取样数据转换为模拟信号。DSD 1700是包含了双差分模拟有限脉冲响应滤波器的单通道的DAC,其频响范围高达100 kHz。信噪比和动态范围达110 dB左右。该转换器可广泛应用于SACD、专业级DSD处理器和DSD混音台中。（远征）机器人大脑的芯片 美国Sensory公司最近推出一款可作机器…     

ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

高保真USB外置声卡的设计

本外置声卡设计使用PCM2706作为USB接口芯片,使用DIR9001接收,用wolfson WM8740音频DAC解码,实现高品质音频信号输出、耳机驱动。本文简要阐述了利用上述芯片设计USB外置声卡的方案、构架、各部分特性以及性能测试结果。     

一种应用于音频的DAC中插值滤波器的设计

设计了一种应用于24位音频DAC中实现128倍过采样的插值滤波器,该插值滤波器采用多级插值的方法,根据前后级采样速率不同的特点,选择不同的滤波器结构.采用一种基于CSD编码的方法来实现一种多相结构,这种多相结构不需要乘法器.该方法在减小了控制系统复杂性的同时也减小了芯片的面积.仿真结果表明,该插值滤波器的通带纹波和阻带衰减都达到了设计要求.     

新型双声道音频Σ-ΔDAC小面积插值滤波器的设计实现

该文提出了一种新型双声道音频Σ-Δ数模转换器(DAC)小面积插值滤波器设计方法。该方法采用左右两个声道复用一个插值滤波器的新型结构,并利用存储器实现第1级半带滤波器,从而降低芯片的实现面积。提出重新排序方法,保证复用后两个声道的同步。设计在TSMC 0.18μm 1.8 V/3.3 V 1P5M CMOS工艺上实现,测试信噪比为106 dB,数字部分芯片的面积仅为0.198 mm2,功耗为0.65 mW。这种设计方法降低了Σ-ΔDAC系统中数字部分的面积和功耗,给模拟部分留有较大的设计裕量,这对模数混合系统的设计具有重要的意义。     

提高DM500S音频输出电平又一法——更换DAC芯片

DM500S接收机音频输出电平较小，是烧友们一直反映的－大诟病。在DM500S接收机中．使用的音频DAC芯片（U10）有WM8761GED、WM8725ED、PCM1725U等，它们均为SOIC－14P封装．外围电路均相同．以使用PCM1725U芯片（图1）为例，音频DAC电路如图2所示。     

视频数模转换器的测试方法介绍

视频数模转换器的测试方法被广泛应用在J750、D10等自动化测试设备上,用于测试消费类电子、通信相关的芯片,如数字电视、平板电脑、手机基带芯片等。本文主要对视频DAC的测试方法进行简要的介绍和探讨。     

Substrate Testing on a Multi-Site/Multi-Probe ATE

This paper presents a novel method that utilizes multi-site and multi-probe capabilities of an ATE for testing of pre-assembly MCM substrates. Testing multiple SUTs (substrates under test) simultaneously can improve the efficiency of the probes in an ATE and considerably reduce the total test time. An analytical model that predicts very accurately the testing time of a SUT batch is proposed. Based on this model, the optimal multi-site testing configuration as corresponding to the batch size can be established. Simulation results for an ATE with 12 flying-probes as an example of a commercially available tester are provided; for this ATE the proposed method achieves a reduction of 54.66% in test time over a single-site method (both at complete coverage of the modeled faults).     

SOC芯片的高速模拟IP测试方法学

很多SoC芯片里会使用SATA物理层,PCIE物理层以及DDR2/DDR3物理层等高速模拟IP。这些高速模拟IP需要被自动测试设备完整的测试。自动测试设备的高速测试选项就是用来测试高速IP,但随之而来的是测试成本的增加。智原科技利用内建自测试方法来取代费钱的自动测试设备的高速测试选项。内建自测试提供了最具成本效率的方法。高速模拟IP内建自测试的故障覆盖率很高,所以我们不再需要自动测试设备的高速测试选项及其所带来的高成本。     

一种FPGA验证与测试方法介绍

文章重点介绍了一种FPGA验证与测试的方法。该测试方法的优点是不依赖于芯片设计与测试机台,低成本、开发周期短。基于PC、ATE与自制转换软件,对FPGA验证与测试开发技术进行研究。PC主要完成bin文件的生成,自制转换软件主要将bin文件转换为机器可识别的atp文件。ATE导入配置文件、完成信号输入与输出验证。基于该理论对Xilinx公司的XCV1000进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证,还可以应用于不同的ATE机台。     

基于ATE的DSP测试方法

本文以TI公司的DSP5509A为例,介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的DSP功能模块的测试算法,指令测试方法,脱机开发DSP功能诊断程序的方法已经在国产BC3193V50集成电路测试系统上运用,结果表明是有效的。其中针对DSP功能模块的测试算法以穷举为出发点,具体实现方式包括基本测试模块的反复调用,同模块内所有属性的遍历测试,不同模块间属性的交叉组合测试。最后本文论述了测试程序在不同测试系统移植中需要注意的问题。     

晶圆测试中BIN分设置的一种应用

本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试设备记录的详细数据才能得到分布规律的情况,省去了集成电路工程晶圆需要进行二次测试才能进行分类的步骤,对缩短集成电路工程品的测试周期、加强量产产品的工艺监控、提升晶圆测试的品质具有重要意义。     

集成电路极性测试“微整机”研究与应用

集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。     

基于ATE的射频电路的非线性性能分析

非线性是影响射频电路一个非常重要的因素,随着无线通信技术的发展,对非线性性能的测试显得越来越重要。ATE可同时提供数字、模拟和射频测试资源,能够满足各种复杂射频电路的测试。本文以一款IQ调制器射频电路芯片为例,介绍了一种利用ATE测试1dB增益压缩点和输出三阶截点OIP3的方法。     

Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing

This paper proposes a power integrity control technique for dynamically controlling power supply voltage fluctuations for a device under test (DUT), and demonstrates its effectiveness for eliminating the overkills/underkills due to the difference of power supply impedance between an automatic test equipment (ATE) and a practical operating environment of the DUT. The proposed method injects compensation currents into the power supply nodes on the ATE system in a feed-forward manner such that the ATE power supply waveform matches with the one on the customer’s operating environment of the DUT. A method for calculating the compensation current is also described. Experimental results show that the proposed method can emulate the power supply voltage waveform under a customer’s operating condition and eliminate 95 % of overkills/underkills in the maximum operating frequency testing with 105 real silicon devices. Limitations and applications of the proposed method are also discussed.