共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
潜伏径迹是进入固体径迹探测器的重带电粒子在其中产生的辐射损伤痕迹;可蚀刻径迹是入射倾角大于临界角θ_C的那部分潜伏径迹;蚀刻后径迹是经过蚀刻剂蚀刻一定时间后在固体经迹探测器中形成的蚀刻坑;可观测径迹是蚀刻后径迹中水平投影大于某最小可观测长度l_(min)的部分。我们用计算模型——分层径迹球法计算外探测器中裂变径迹的各种分布,结果 相似文献
2.
水中痕量铀的测定,长时间来使用的方法有分光光度法、质谱法、荧光法、活化分析法、极谱法及水化学法等。近年来发展了一种新的痕量铀测定方法——裂变径迹分析法。 裂变径迹分析法是应用热中子诱发样品中~(235)U核发生裂变。裂变碎片在绝缘材料(如云母、玻璃和塑料等)中能造成辐射损伤。这些损伤痕迹经化学蚀刻便成为在光学显微镜下可 相似文献
3.
固体核径迹探测器体积小,不受湿热、振动、电源波动等的影响,能够长时间记录低注量率中子。我们用以测量反应堆周围的中子注量率分布。 1.原理和方法 在本测量中采用~(238)U和~(235)U为裂变材料,云母为径迹探测器。用铀电镀成的可裂料片与云母探测器紧密贴合,在中子的作用下,铀的裂变碎片射入云母,形成径 相似文献
4.
同裂变径迹定年方法一样,α反冲径迹(Alpha-recoil tracks)定年方法也是天然放射性释放的核粒子在固体中积累产生的可蚀刻径迹。自然界中的黑云母含有微量元素铀和钍,当它们发生α衰变时,每射出一个α粒子就有一个较重的子体核素反冲,在晶体内形成30-40nm的辐射损失,经过连续反冲就会形成在干涉相差显微镜下可观测的蚀刻径迹,如果自样品形成以来的全部径迹被保存,测得这些径迹数(即α反冲径迹的体密度)就可以得到样品的年龄。对蚀刻模型的研究就是要准确得到α反冲径迹的体密度。应用该蚀刻模型可以在一个样品上多层面、多点位地测定体密度,进而减小误差、提高准确性。 相似文献
5.
6.
擦拭样品中铀微粒甄别技术的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
基于裂变径迹原理对擦拭样品中微米量级铀微粒筛选技术进行了研究.研究内容包括擦拭样品与载体分离、样品在裂变径迹片上沉积、样品辐照以及化学刻蚀、铀微粒筛选等.文章中对各实验环节进行细致描述和讨论.研究发现:(1)以无尘滤纸、脱脂棉、Texwipe牌TX304型棉布为擦拭载体的样品经过400℃ 6 h灰化为较好的分离方法;(2)经热中子辐照和化学刻蚀后裂变径迹主要呈星状和坑状.其中235U含量高的微粒对应于坑状径迹,含量低的微粒对应于星状径迹;(3)采用新的定位方法能够筛选出铀微粒. 相似文献
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
裂变径迹技术是通过利用U~(235)的中子激发裂变来分析天然水样中铀的多用途方法。探头浸入在水样中,探头和水样同样受照射。探头所获得的裂变径迹密度直接与铀含量成正比。这种技术的独特优点是:(1)所需的样品量很小,一般只需要0.1—1毫升;(2)不需要知道样品含量;(3)分析限较低,为1微克/升;(4)一次分析所花费的时间只需要几分钟。 相似文献
14.
PETP固体径迹探测器的性能研究 总被引:2,自引:0,他引:2
报道了惭烯对苯二酸醌固体核径迹探测器对裂变碎片记录性能的实验研究。在改变温度、蚀刻时间和蚀刻液浓度等条件下测量了裂变碎片迷平均直径的变化。实验结果表明:蚀綮 变化对裂变碎片径迹的影响最大,而浓度和蚀刻的影响不大。同时用低能^16O重离子辐照PETP探测器,并得到了它的标定曲线。 相似文献
15.
擦拭样品微粒分析技术是核保障环境样品分析的一种主要手段,从大量灰尘颗粒中识别并定位含高浓铀(HEU)或含Pu微粒是微粒分析首先需要解决的问题。本文以HEU和Pu微粒为研究对象,建立了用于微粒α径迹测量的样品制备方法,采用CR-39固体径迹探测器为α径迹探测器,测量了不同蚀刻时间2种微粒产生的α径迹星的径迹参数。结果表明:可通过测量径迹短轴与曲率直径并作图来分辨HEU和Pu微粒,该方法对于蚀刻时间大于10 h的微粒径迹星,均能明显分辨,对于径迹非常密集的径迹星,也能准确分辨。 相似文献
16.
固体径迹法测量水泥反射体中~(252)Cf中子源反射中子 总被引:1,自引:0,他引:1
叙述了水泥反射体中~(252)Cf中子源反射中子测量实验原理。测量了无反射体、有反射体、本底三种状态下中子引发~(235)U产生的裂变率。并根据裂变率得到实验模型下水泥反射体对中子的反射系数。比较了不同中子源相同实验模型水泥反射体对中子的反射系数,对反射系数随角度变化趋势进行了分析。同时,对固体径迹探测技术进行了研究,探索了最佳蚀刻条件,得到火花放电计数随信号膜质量厚度及蚀刻厚度变化趋势。标定了固体径迹火花自动计数器效率,发展了固体径迹探测技术。 相似文献
17.
18.
19.
多年来,已用α径迹法测定岩石和矿物中铀含量及空间分布,但这种方法的主要缺点是:即使铀含量在几百至几千ppm,也需用较长的照射时间,而且所得α径迹中很难区分哪些是属于钍系衰变系列的,因此,如果不知道样品的Th/U比值,就较难独立测定铀钍含量。对于低含量的样品,α径迹法就无法使用。其他的分析方法,如化学分析、中子活化分析、x光荧光分析、光谱法等虽能测定样品中的铀、钍含量,但不能测定铀、钍在样品中的空间分布。 1959年E.C.H.Silk等人用电子显微镜看到裂变物质的碎片在云母中所形成的约50埃长的辐射损伤痕迹,即径迹。1962年,P.B.Price等人把带有裂变碎片辐射损伤径迹的云母放入氢氟酸中蚀刻后,使这些辐射损伤径迹扩大,用普通光学显微镜可以观察。对其他岩石和矿物中的裂变碎片辐射损 相似文献